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      • KRI 離子源用于鍍制1064nm窄帶濾光片激光膜

        1064nm窄帶濾光片是在各類玻璃材質(zhì)表面通過特殊的鍍膜工藝而形成的光學(xué)元件,可以從入射光中選取任意所需求的波長(zhǎng),半峰值一般在5nm~50nm之間,具有波長(zhǎng)定位準(zhǔn)確、透過高、截止深、溫漂小、耐用性好、光潔度好的特點(diǎn),是激光設(shè)備應(yīng)用中常見的濾光片解決方案.1064nm窄帶濾光片使用在各種特殊的場(chǎng)合和惡劣的氣候環(huán)境,要求濾光片在苛刻的使用條件下有良好的性能,故膜層的牢固度和技術(shù)指標(biāo)穩(wěn)定性非常重要.這些性能包括:大口徑面積內(nèi)膜層均勻性好、透射率要求高、膜層牢固度高、中心波長(zhǎng)穩(wěn)定性好(零漂移)等.上海伯
      • KRI 離子源用于UVC人機(jī)共存紫外濾光片鍍膜

        紫外濾光片是一種光學(xué)元件,通過使用分散在玻璃材料表面的光學(xué)薄膜控制入射光通過膜層后不同波長(zhǎng)光的透反比.222nm是紫外不可避免的一個(gè)波段,因?yàn)槠渖矬w透過率低,被譽(yù)為對(duì)人體安全的紫外線.222nm遠(yuǎn)紫外殺菌產(chǎn)品一定程度上解決了傳統(tǒng)紫外線不能直接照射人體的痛點(diǎn)問題,兼顧了功能性和安全性,實(shí)現(xiàn)了人機(jī)友好共存,有效減少和滅殺身體表面多達(dá)99.9%的細(xì)菌和病原體.紫外線在222nm下工作對(duì)濾光片生產(chǎn)廠家來說是一項(xiàng)挑戰(zhàn),因?yàn)樵S多常用材料在這個(gè)波段有較大的吸收、甚至不通光.大多數(shù)干涉濾光片的設(shè)計(jì)都假設(shè)光只被
      • Aston 質(zhì)譜分析儀搭配 Scrubber 半導(dǎo)體尾氣處理設(shè)備進(jìn)行氣體檢測(cè)

        半導(dǎo)體工藝一般會(huì)產(chǎn)生各種工藝氣體和顆粒材料副產(chǎn)品,有害氣體需要以受控方式進(jìn)行處理.上海伯東日本AtonarpAston質(zhì)譜分析儀與Scrubber半導(dǎo)體尾氣處理設(shè)備聯(lián)用,對(duì)處理完的氣體在線監(jiān)測(cè)分析,并對(duì)分析數(shù)據(jù)進(jìn)行監(jiān)控和記錄,使其符合環(huán)境法規(guī).上海伯東Aston™質(zhì)譜分析儀半導(dǎo)體尾氣檢測(cè)解決方案Aston質(zhì)譜儀與半導(dǎo)體尾氣處理設(shè)備排氣端相連,半導(dǎo)體廢氣處理設(shè)備Scrubber排出的氣體先經(jīng)過水洗塔內(nèi)進(jìn)行噴淋水洗溶解,帶走一些毒性腐蝕性排放物,然后在使用Aston進(jìn)行剩余氣體檢測(cè)和分析,主要檢測(cè)N
      • 熱流儀助力堪培拉大學(xué)IGBT老化研究取得成果

        ATS-545:熱沖擊測(cè)試設(shè)備全量程240攝氏度的溫控調(diào)整;溫度變化率高達(dá)288°C/分鐘!IEEETransactionsonDeviceandMaterialsReliability(Volume:20,Issue:4,December2020)DOI10.1109/TDMR.2020.3025895艱深科研工作背后的巨大助力——ThermoStream™,inTEST集團(tuán)ThermoStream™品牌的熱沖擊測(cè)試集成環(huán)境(ATS-545-M)助力本文作者You-CheolJang教授深挖了
      • 新能源汽車 IGBT功率器件高低溫沖擊測(cè)試

        新能源汽車IGBT功率器件高低溫沖擊測(cè)試IGBT屬于功率半導(dǎo)體器件,在新能源汽車領(lǐng)域,IGBT作為電子控制系統(tǒng)和直流充電樁的核心器件,直接影響電動(dòng)汽車的動(dòng)力釋放速度,車輛加速能力和高速度.IGBT功率器件作用新能源汽車應(yīng)用中IGBT功率模塊的主要作用是交流電和直流電的轉(zhuǎn)換,同時(shí)IGBT還承擔(dān)電壓的高低轉(zhuǎn)換的功能.比如,充電樁充電的時(shí)候是交流電,需要通過IGBT轉(zhuǎn)變成直流電,在汽車電子領(lǐng)域IGBT主要用于電機(jī)驅(qū)動(dòng),DC/DC升壓變換器,雙向DC/AC逆變器,以及充電端的DC/DC降壓變換器.IGB
      • inTEST ATS-710 車載芯片高低溫測(cè)試解決方案

        inTESTATS-710E車載芯片高低溫測(cè)試解決方案上海伯東美國inTESTThermoStream高低溫沖擊熱流儀,為車載芯片提供穩(wěn)定和高效的溫度測(cè)試解決方案,保證車規(guī)產(chǎn)品的高安全性,高可靠性和高穩(wěn)定性,inTEST高度適配各類測(cè)試平臺(tái),協(xié)助企業(yè)生產(chǎn)研發(fā)符合AEC-Q100可靠性認(rèn)證的車載芯片.inTESTATS-710E車載芯片高低溫測(cè)試解決方案由于車載電子產(chǎn)品基本覆蓋汽車產(chǎn)品的全生命周期,因此需要符合汽車功能安全標(biāo)準(zhǔn),而高低溫沖擊測(cè)試是其用于量產(chǎn)車上安全相關(guān)零部件的必要條件.美國inTE
      • inTEST Sigma 高低溫試驗(yàn)箱材料拉伸測(cè)試

        inTESTSigma高低溫試驗(yàn)箱材料拉伸測(cè)試上海伯東代理美國inTESTSigma高低溫試驗(yàn)箱通過可設(shè)計(jì)的孔徑,端口直接集成到拉伸測(cè)試裝置.將溫度測(cè)試與拉伸測(cè)試相結(jié)合,進(jìn)行材料拉伸高低溫試驗(yàn).溫度范圍-185°C至500°C,符合ASTM,MIL-STD測(cè)試要求.高低溫拉伸測(cè)試是一種在恒定溫度下對(duì)材料進(jìn)行拉伸加載的試驗(yàn)方法,通過在高溫或低溫環(huán)境下施加恒定的拉伸載荷,測(cè)量材料的應(yīng)力和應(yīng)變.材料測(cè)試通常需要一個(gè)長(zhǎng)而窄的試驗(yàn)腔來容納測(cè)量設(shè)備.在拉伸測(cè)試中,物體在一個(gè)方向上被拉伸,并施加壓力直到失效,
      • 氦質(zhì)譜檢漏儀精餾塔檢漏

        上海伯東氦質(zhì)譜檢漏儀精餾塔檢漏精餾通常在精餾塔中進(jìn)行,氣液兩相通過逆流接觸,進(jìn)行相際傳熱傳質(zhì).液相中的易揮發(fā)組分進(jìn)入氣相,氣相中的難揮發(fā)組分轉(zhuǎn)入液相,于是在塔頂可得到幾乎純的易揮發(fā)組分,塔底可得到幾乎純的難揮發(fā)的組分.精餾塔需要檢漏為了提供精餾過程中氣體和液體產(chǎn)物的純度,需要保證精餾塔和管路年泄漏率低于1%/年.常用的肥皂水檢法耗時(shí)費(fèi)力,無法檢測(cè)微小的泄漏.精餾塔漏氣將直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量導(dǎo)致?lián)p失.氦質(zhì)譜檢漏法作為一種快速,無損的檢漏方法,已廣泛應(yīng)用于精餾塔的日常維護(hù)中.氦質(zhì)譜檢漏儀與傳統(tǒng)泡沫檢漏
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