詳細(xì)摘要： 采用磁控型電極，限度地減輕對(duì)樣品的損壞。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2024-08-08 在線留言PLC 工控機(jī) 嵌入式系統(tǒng) 人機(jī)界面 工業(yè)以太網(wǎng) 現(xiàn)場(chǎng)總線 變頻器 機(jī)器視覺 DCS PAC/PLMC SCADA 工業(yè)軟件 ICS信息安全 應(yīng)用方案 無線通訊
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詳細(xì)摘要： 牛津儀器X-MaxTEM大面積硅漂移探測(cè)器
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詳細(xì)摘要： 牛津儀器Ultim Extreme無窗超級(jí)能譜
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詳細(xì)摘要： 200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能。通過單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。透射電...
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詳細(xì)摘要： 該導(dǎo)航系統(tǒng)可以將CAD數(shù)據(jù)的布線和大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)圖形和FIB的觀察圖像相對(duì)應(yīng)起來。當(dāng)CAD系統(tǒng)中的坐標(biāo)位置，樣品臺(tái)就會(huì)通過鏈接移動(dòng)到相應(yīng)位置，就可以獲得相...
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詳細(xì)摘要： 微型采樣方法(已在日本和美國(guó)取得zhuanli)已在半導(dǎo)體器件分析領(lǐng)域成為一款工具，它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時(shí)左右即可獲得一個(gè)微小樣品，以便于STE...
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詳細(xì)摘要： MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng)：新型電子光學(xué)系統(tǒng)，可達(dá)到高水準(zhǔn)的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質(zhì)...
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詳細(xì)摘要： 在設(shè)備及高性能納米材料的評(píng)價(jià)和分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來，目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。日立高新公司，整合了高...
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詳細(xì)摘要： 通過自動(dòng)重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。采用的鏡筒布局，從材料、設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實(shí)...
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詳細(xì)摘要： “Ethos"采用日立高新的核心技術(shù)--的高亮度冷場(chǎng)發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復(fù)合透鏡，不但可以在低加速電壓下實(shí)現(xiàn)高分辨觀察，還可以在FIB加工時(shí)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)觀察。S...
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詳細(xì)摘要： AFM5500M是操作性和測(cè)量精度大幅提高，配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對(duì)中，測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開發(fā)...
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詳細(xì)摘要： AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測(cè)溫度...
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詳細(xì)摘要： AFM5100N除了激光檢測(cè)方式之外，全新的「自檢測(cè)懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時(shí)，大大簡(jiǎn)化了AFM懸臂操作。
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詳細(xì)摘要： AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標(biāo)用戶界面，標(biāo)準(zhǔn)配備參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時(shí)，也...
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詳細(xì)摘要： 納米尺度3D光學(xué)干涉測(cè)量系統(tǒng)VS1800應(yīng)用光干涉現(xiàn)象，對(duì)微細(xì)的表面形貌進(jìn)行測(cè)量，可實(shí)現(xiàn)高性能薄膜、半導(dǎo)體、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測(cè)量。而且還能...
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詳細(xì)摘要： IM4000PLUS是支持?jǐn)嗝嫜心ズ推矫嫜心ィ‵lat Milling®*1）的混合式離子研磨儀器。借此，可以用于適用于各種諸如對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察和各類...
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詳細(xì)摘要： ArBlade 5000是日立離子研磨儀的高性能機(jī)型。它實(shí)現(xiàn)了超高速截面研磨。高效率截面加工功能，使電鏡截面觀察時(shí)樣品加工更簡(jiǎn)單。
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詳細(xì)摘要： 操作簡(jiǎn)單且直觀。*:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例*:探測(cè)器內(nèi)置型(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2024-06-18 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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