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柯岷國(guó)際貿(mào)易(上海)有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)
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所 在 地上海市
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更新時(shí)間:2024-06-18 10:29:03瀏覽次數(shù):133次
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牛津儀器X-MaxTEM大面積硅漂移探測(cè)器
Ultim Max TLE
我們TEM的旗艦款SDD能譜探測(cè)器,經(jīng)過(guò)設(shè)計(jì)優(yōu)化,提高了小束斑下的計(jì)數(shù)率,可表征原子尺度的元素信息。
這一性能是通過(guò)優(yōu)化的晶體形狀,100mm2大面積晶體,無(wú)窗結(jié)構(gòu),優(yōu)化的機(jī)械設(shè)計(jì)和Extreme級(jí)電子元器件來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
0.5 - 1.1srad的立體角
對(duì)低能量x射線(xiàn)的靈敏度可提高8倍
可在400,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析
在原位實(shí)驗(yàn)中,在高至1000°C的溫度下采集譜圖
Ultim Max TEM
用于納米尺度分析和元素面分布的SDD能譜探測(cè)器。
在任何情況下,使用新型的中端80mm2傳感器都能更接近樣品,提供更多的X射線(xiàn)計(jì)數(shù)。結(jié)合了無(wú)窗設(shè)計(jì)和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
0.2 - 0.6 srad的立體角
對(duì)低能量x射線(xiàn)的靈敏度可提高8倍
可在400,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析
在原位實(shí)驗(yàn)中,在高至1000°C的溫度下采集譜圖
Xplore TEM
專(zhuān)門(mén)為120kV和200kV TEM的常規(guī)應(yīng)用而設(shè)計(jì)的SDD能譜探測(cè)器。
使用新的 80 mm2 傳感器,聚合物薄窗口和低噪音電子元器件 , 提供快速和準(zhǔn)確的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立體角
從Be到Cf的元素檢測(cè)
可在200,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析
SATW窗口為廣泛的應(yīng)用提供了更大的便利性
售后服務(wù)
免費(fèi)上門(mén)安裝:否
保修期:詳詢(xún)工程師
是否可延長(zhǎng)保修期:是
保內(nèi)維修承諾:詳詢(xún)工程師
報(bào)修承諾:詳詢(xún)工程師
免費(fèi)儀器保養(yǎng):詳詢(xún)工程師
免費(fèi)培訓(xùn):詳詢(xún)工程師
現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)咨詢(xún):有
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