分立器件特性參數(shù)測(cè)試是對(duì)待測(cè)器件(DUT)施加電壓或電流,然后測(cè)試其對(duì)激勵(lì)做出的響應(yīng),通常分立器件特性參數(shù)測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成,如數(shù)字萬(wàn)用表、電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析,過(guò)程既復(fù)雜又耗時(shí),又占用過(guò)多測(cè)試臺(tái)的空間;而且使用單一功能的測(cè)試儀器和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺點(diǎn)。實(shí)施半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)。數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表,還可用作精密電子負(fù)載,其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器、 波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。微電子器件材料電性能測(cè)試SMU源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
針對(duì)OFET等三端類型器件以及多樣品驗(yàn)證測(cè)試,可直接通過(guò)2臺(tái)數(shù)字源表或者插卡式源表搭建完整的多通道測(cè)試系統(tǒng)。
- 國(guó)產(chǎn)化數(shù)字源表,四象限工作
- 單通道/多通道方案可選
(最高可實(shí)現(xiàn)40通道同時(shí)測(cè)量)
- 支持直流/脈沖測(cè)試,測(cè)量范圍廣
- 分辨率強(qiáng),測(cè)試精度高
武漢普賽斯是國(guó)內(nèi)醉早生產(chǎn)源表的廠家,產(chǎn)品系列豐富:產(chǎn)品覆蓋不同的電壓、電流范圍,產(chǎn)已經(jīng)過(guò)了市場(chǎng)的考驗(yàn)、市面有近500臺(tái)源表在使用,市場(chǎng)應(yīng)用率高;SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,直流更大、精度更高、準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升級(jí)至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測(cè)試方案;微電子器件材料電性能測(cè)試SMU源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表!