數(shù)字源表是一系列具有電流電壓輸出和測試功能的新型測試設備,S系列數(shù)字源表可廣泛用于各類分立半導體器件特性測試中，如電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等。本文介紹如何使用該系列產(chǎn)品建立二極管測試系統(tǒng)。

二極管在出廠前必須進行三項直流參數(shù)測試：正向電壓（VF)、擊穿電壓（VR）和反向漏流（IR）測試。通常上述測試需要幾臺儀器完成,如：數(shù)字表,電壓源,電流源等。但儀器數(shù)目增多,必然引起測試速度下降,從而影響產(chǎn)量。使用普賽斯S系列數(shù)字源表,配合相應軟件編程,可以簡化測試系統(tǒng),提高測試速度和質(zhì)量,這對自動化二極管生產(chǎn)測試非常重要。

二極管直流參數(shù)測試SMU源表優(yōu)勢：
?   性能強大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作?？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮?，預防器件損壞。覆蓋0-3A的電流范圍0-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。

?   靈活多樣-支持兩線制和四線制測量，更準確的低內(nèi)阻量測;集成線性階梯掃描、對數(shù)階梯掃描、自定義掃描等模式;專業(yè)l-V特性及半導體參數(shù)測試軟件。

?   易學實用-簡化了如I-V和l-t/V-t曲線等各種應用的測量準備工作。電容式觸摸屏圖形用戶界面(GUI),提供圖形化和數(shù)字化兩種測量結(jié)果顯示模式，便于使用和查看。

多合一高精密SMU，簡化測量

   傳統(tǒng)的半導體I-V特性測量方案通常是復雜且成本昂貴的，需要多種儀器配合完成測試，對不同儀器進行編程、同步、連接、測量和分析，既復雜又耗時，還需占用大量測試臺空間。

S系列數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載，其高性能架構(gòu)允許其使用作為波形發(fā)生器、以及自動電流-電壓(I-V)表征系統(tǒng)。極大縮短測試系統(tǒng)的開發(fā)、建立和維護的時間，同時節(jié)省測試架或測試臺的寶貴“空間”，降低購買測試系統(tǒng)的整體成本。

四象限工作，可以作為源或負載

電源象限是指以電源輸出電壓為X軸、輸出電流為Y軸形成的象限圖。D一、三象限即電壓電流同向，源表對其它設備供電，稱為源模式；第二、四象限即電壓電流反向，其它設備對源表放電，源表被動吸收流入的電流，且可為電流提供返回路徑，稱為阱模式。  

與傳統(tǒng)矩陣電源不同，S系列源表在同等功率下，客戶可根據(jù)實際需求，選擇大電壓小電流或小電壓大電流輸出。選擇的量程不同，S系列源表的源/阱極限也有區(qū)別。

源限度-電壓源:

士10V(≤3A量程)，土30V (≤1A量程),士300V  (≤100mA量程)

源限度-電流源:

土3.15安(≤10V量程)，土1.05安(≤30V量程)，士105mA  (≤300V量程)

輕松滿足常用的測量需求

  觸摸屏幕上的任意圖標，就會出現(xiàn)圖像化設置屏幕。在測量前按照向?qū)е鹨辉O置，操作更直觀。

提供的應用程序

- 序列掃描

- 自定義序列

-   數(shù)據(jù)記錄儀：持續(xù)輸出恒壓源測試模式；持續(xù)輸出恒流源測試模式

- APD管

- 晶體管：MOSFET管測試；三極管測試

- LIV：PIN管掃描測試

-   Gummer：雙臺源表使用同樣參數(shù)進行掃描

二極管直流參數(shù)測試SMU源表應用領域：

分立器件特性測試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應等；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測試系統(tǒng)；
電流傳感器：動靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)；