iv測(cè)試儀+半導(dǎo)體器件iv曲線掃描儀器認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級(jí)至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測(cè)試方案

S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢(shì)：
1、多功能測(cè)量需求下的廣泛的適應(yīng)性，電壓高達(dá)300V，電流低至30pA；
2、實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測(cè)量同步進(jìn)行，提高測(cè)試效率。
3、具備對(duì)測(cè)試器件的保護(hù)功能，可進(jìn)行自我限制，避免因過充而造成的對(duì)測(cè)試器件的損害；
精確的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護(hù)功能，避免器件損壞。
4、觸屏圖形化操作，使用簡(jiǎn)單。開放式平臺(tái)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求而針對(duì)性的開發(fā)軟件

產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作          

內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如LIV、PIV

源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.03%

四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

技術(shù)參數(shù)

Z大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：電壓源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

電流源：±3.15A（≤10V量程），±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

過量程：  105%量程，源和測(cè)量；

穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；

線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗30KΩ，輸出電壓偏移<80uV；

最大采樣速率：1000  S/s；

觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時(shí)刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太網(wǎng)；

電源：AC  100~240V 50/60Hz；

工作環(huán)境：25±10℃；

尺寸：106mm高 ×255mm寬 ×425mm長(zhǎng)；

S系列源表應(yīng)用

分立器件特性測(cè)試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測(cè)試：LED/AMOLED、太陽(yáng)能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測(cè)試：電阻率、霍爾效應(yīng)等；
有機(jī)材料特性測(cè)試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測(cè)試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測(cè)試：窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng)；
電流傳感器：動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)；

提供的應(yīng)用程序

- 序列掃描

- 自定義序列

- 數(shù)據(jù)記錄儀：持續(xù)輸出恒壓源測(cè)試模式；持續(xù)輸出恒流源測(cè)試模式

- APD管

- 晶體管：MOSFET管測(cè)試；三極管測(cè)試

- LIV：PIN管掃描測(cè)試

- Gummer：雙臺(tái)源表使用同樣參數(shù)進(jìn)行掃描

更多有關(guān)iv測(cè)試儀+半導(dǎo)體器件iv曲線掃描儀器的信息找普賽斯儀表為您解答，普賽斯S系列、P系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性價(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，普賽斯儀表是手家國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善，對(duì)標(biāo)2400、2450、2611、2601B、2651、2657等；