這種掃描電鏡探測(cè)器是的BSE探測(cè)器或背散射電子探測(cè)器,為掃描電子顯微鏡提供的信噪比和超高的分辨率,是SEM探測(cè)器中的產(chǎn)品。這款掃描電鏡探測(cè)器適合所有的商用掃描電鏡,采用獨(dú)立設(shè)計(jì)理念, 具有標(biāo)準(zhǔn)的安裝法蘭接口,非常方便用戶的安裝和使用。
掃描電鏡探測(cè)器特點(diǎn)
采用YAG:Ce單晶閃爍體
采用閃爍晶體和光電倍增管,提供的圖像質(zhì)量
佳的超低能量鍍膜技術(shù),靈敏度可到0.5Kev
優(yōu)異的信噪比
無限的探測(cè)器壽命
HV+LV+ESEM工作模式
電動(dòng)可回縮高精密導(dǎo)臂
波紋管密封高真空系統(tǒng)
用戶訂制化的SEM連接系統(tǒng)
掃描電鏡探測(cè)器,BSE探測(cè)器,背散射電子探測(cè)器,SEM探測(cè)器,電鏡探測(cè)器性能
YAG:Ce閃爍體探測(cè)器提供效率和最小余光afterglow, decay time 衰減時(shí)間為75ns @30光子/Kev
YAG:Ce閃爍探測(cè)器外徑15mm ,內(nèi)孔6mm, 4mm, 2mm 或1.2mm任選,它限制視場(chǎng)大小。
的技術(shù)確保0.5keV的超高靈敏度,高達(dá)1pA電子束
外部尺寸406x100x72mm
適合真空環(huán)境使用
0.01mm的重復(fù)精度
適合所有SEM的法蘭接口
部分測(cè)量結(jié)果案例
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