環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)在3.4eV到7.0 eV的激發(fā)范圍內(nèi)能夠測(cè)量金屬的功函數(shù)(精度:0.05 eV)和半導(dǎo)體的電離電位,同時(shí)使用開爾文探針測(cè)量表面費(fèi)米能級(jí)(精度:0.001 eV)。
隨著表面光電壓(SPV)和表面光電壓譜(SPS)的加入,環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)可以測(cè)量半導(dǎo)體的全波段。
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)特點(diǎn)
空氣中光電效應(yīng)的功函數(shù)
態(tài)密度測(cè)量
3.4 eV至7.0 eV能量范圍
所有半導(dǎo)體帶的測(cè)量
用開爾文探針測(cè)量接觸電位差
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)應(yīng)用
有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
太陽能電池與有機(jī)光伏
腐蝕與納米技術(shù)
環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
規(guī)格參數(shù) | APS01 | APS02 | APS03 | APS04 |
開爾文探針三軸掃描功能 | ? | ? | ? | |
表面光電壓(SPV) | ? | ? | ||
表面光電壓譜(SPS) | ? | |||
針尖Tip材料 / 直徑 | 2 mm gold tip | |||
CPD分辨率 | 1 - 3 meV | |||
高度控制 (自動(dòng)) | 25 mm 自動(dòng) | |||
開爾文探針模式和PE模式 | CPD 和光發(fā)射測(cè)量 | |||
CPD 測(cè)量時(shí)間 | CPD 測(cè)量時(shí)間 <1分鐘 | |||
PE分辨率 | 全部光電子發(fā)射測(cè)量 | |||
WF 測(cè)量時(shí)間 | PE測(cè)量 <5分鐘 | |||
DOS 測(cè)量 | Full access to DOS information | |||
光學(xué)系統(tǒng) | 彩色相機(jī)帶ZOOM放大,監(jiān)測(cè)定位 | |||
示波器 | 數(shù)字TFT示波器用于實(shí)時(shí)信號(hào) | |||
測(cè)量樣品 | 金, 鋁 ,銀等 | |||
法拉第外殼底座 (mm) | 450 x 450 mm 法拉第外殼 | |||
控制系統(tǒng) | 計(jì)算機(jī)控制,標(biāo)配軟件 | |||
已經(jīng)申請(qǐng)的 | US:8866505 / GB:2439439 / GB:2495998 / EU:2783205 / JP:6018645 |