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      產(chǎn)品|公司|采購|資訊

      聚合物薄膜測厚儀

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱孚光精儀公司
      • 品       牌
      • 型       號FPTHE-FR-T
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2023/2/14 14:02:56
      • 訪問次數(shù)172
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      孚光精儀公司品牌源于早期的東歐地區(qū)和德國進(jìn)口光學(xué)材料和儀器的進(jìn)口服務(wù)。公司創(chuàng)始股東們足跡遍布捷克,愛沙尼亞,羅馬尼亞,白俄羅斯,立陶宛,法國,英國,意大利,奧地利,丹麥,比利時,以及德國 漢堡,法蘭克福,柏林,慕尼黑,紐倫堡,德累斯頓等科技強(qiáng)國和強(qiáng)市,對整個歐洲特別是東歐和德國的技術(shù)產(chǎn)品和精密儀器的質(zhì)量有可靠的把握。長期以來,德國在科學(xué)研究、技術(shù)創(chuàng)新和儀器研發(fā)領(lǐng)域具有的優(yōu)勢。德國的科學(xué)儀器以技術(shù)*,質(zhì)量可靠而著稱。孚光精儀早期專注于選擇德國和東歐國家可靠的供應(yīng)商,為用戶提供了道質(zhì)量保障。公司派送員工前往原廠進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn),從而具備為遠(yuǎn)東地區(qū)用戶提供快速高效的技術(shù)服務(wù)能力,這一舉措深得用戶和制造商的高度贊譽(yù)。因此,孚光精儀的事業(yè)在服務(wù)客戶的同時獲得超常發(fā)展,快速成長為*儀器的規(guī)模型供應(yīng)商和技術(shù)服務(wù)商。目前,孚光精儀已經(jīng)把產(chǎn)品原產(chǎn)地擴(kuò)展到整個歐洲和美國,形成了以歐洲和美國為供貨來源地的良好局面。
      這款聚合物薄膜測厚儀用于測量polymerfilms(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜)和photoresistfilms(光致抗蝕劑薄膜,光刻膠膜,光刻薄膜,光阻膜)在加熱或制冷情況下薄膜厚度和光學(xué)常量(n,k)的變化
      聚合物薄膜測厚儀 產(chǎn)品信息
      這款聚合物薄膜測厚儀用于測量polymer films(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜)和 photoresist films光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻薄膜,光阻膜)在加熱或制冷情況下薄膜厚度和光學(xué)常量(n, k)的變化。為了這種特色的測量,我們特意研發(fā)了專業(yè)的軟件和算法,使得該聚合物薄膜測厚儀能夠給出薄膜的物理化學(xué)指標(biāo):例如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度 glass transition temperature (Tg), ,熱分解溫度thermal degradation temperature (Td) ,薄膜的厚度測量范圍也高達(dá)10nm--100微米。

      這套聚合物薄膜測厚儀,薄膜熱特性測厚儀在傳統(tǒng)薄膜測厚儀的基礎(chǔ)上添加了加熱/制冷的溫度控制單元,使用白光反射光譜技術(shù)(WLRS),實時測量薄膜厚度和折射率,并通過專業(yè)軟件記錄下這些數(shù)據(jù)。
      這套聚合物薄膜測厚儀,薄膜熱特性測厚儀
      能夠快速實時給出薄膜厚度和薄膜光學(xué)常量等物理化學(xué)性能數(shù)據(jù),并且能夠控制薄膜加熱和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜測厚儀所使用的軟件也適合薄膜的其他熱性能研究,例如:薄膜的熱消融/熱剝蝕thermal ablation研究,薄膜光學(xué)性質(zhì)隨溫度的變化,薄膜預(yù)烘烤Post Apply Bake,光刻過程后烘烤 Post Exposure Bake對薄膜厚度的損失等諸多研究。
      對于薄膜的厚度測量,這款
      聚合物薄膜測厚儀,薄膜熱特性測厚儀要求薄膜襯底是透明的,背面是不反射的。它能夠處理4層薄膜的膜堆layer stacks,給出兩個參數(shù):例如兩個薄膜的厚度或一個薄膜的厚度和光學(xué)常量。
      這套聚合物薄膜測厚儀,薄膜熱特性測厚儀已經(jīng)成功應(yīng)用于測量不同聚合物薄膜的熱性能,光刻薄膜的熱處理影響分析,Si晶圓wafer上的光致抗蝕劑薄膜分析等。

      聚合物薄膜測厚儀參數(shù)
      可測膜厚: 5nm-150微米;
      波長范圍:200-1100nm

      精度:0.5%
      分辨率:0.02nm
      測量點(diǎn)光斑大小:0.5mm
      可測樣品大?。?0-100mm
      計算機(jī)要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;
      尺寸:360x400x180mm
      重量:13.5kg
      電力要求:110/230VAC
      聚合物薄膜測厚儀應(yīng)用
      聚合物薄膜測量
      光致抗蝕劑薄膜測量
      化學(xué)和生物薄膜測量,傳感測量
      光電子薄膜結(jié)構(gòu)測量
      半導(dǎo)體薄膜厚度測量
      在線測量
      光學(xué)鍍膜測量
      聚合物薄膜厚度測量
      polymer films測量
      測量有機(jī)薄膜厚度
      測量光致抗蝕劑薄膜
      測光刻膠膜測厚
      測量光刻薄膜厚度
      測量光阻薄膜測厚
      測量光阻膜厚度
      這款聚合物薄膜測厚儀測量聚合物薄膜和干膜在加熱或制冷時薄膜厚度變化,因此又稱為干膜厚度測量儀.
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