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      薄膜溶解測(cè)厚儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱孚光精儀公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)FPTHE-FR-l
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2023/2/14 14:05:19
      • 訪問次數(shù)184
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      孚光精儀公司品牌源于早期的東歐地區(qū)和德國(guó)進(jìn)口光學(xué)材料和儀器的進(jìn)口服務(wù)。公司創(chuàng)始股東們足跡遍布捷克,愛沙尼亞,羅馬尼亞,白俄羅斯,立陶宛,法國(guó),英國(guó),意大利,奧地利,丹麥,比利時(shí),以及德國(guó) 漢堡,法蘭克福,柏林,慕尼黑,紐倫堡,德累斯頓等科技強(qiáng)國(guó)和強(qiáng)市,對(duì)整個(gè)歐洲特別是東歐和德國(guó)的技術(shù)產(chǎn)品和精密儀器的質(zhì)量有可靠的把握。長(zhǎng)期以來,德國(guó)在科學(xué)研究、技術(shù)創(chuàng)新和儀器研發(fā)領(lǐng)域具有的優(yōu)勢(shì)。德國(guó)的科學(xué)儀器以技術(shù)*,質(zhì)量可靠而著稱。孚光精儀早期專注于選擇德國(guó)和東歐國(guó)家可靠的供應(yīng)商,為用戶提供了道質(zhì)量保障。公司派送員工前往原廠進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn),從而具備為遠(yuǎn)東地區(qū)用戶提供快速高效的技術(shù)服務(wù)能力,這一舉措深得用戶和制造商的高度贊譽(yù)。因此,孚光精儀的事業(yè)在服務(wù)客戶的同時(shí)獲得超常發(fā)展,快速成長(zhǎng)為*儀器的規(guī)模型供應(yīng)商和技術(shù)服務(wù)商。目前,孚光精儀已經(jīng)把產(chǎn)品原產(chǎn)地?cái)U(kuò)展到整個(gè)歐洲和美國(guó),形成了以歐洲和美國(guó)為供貨來源地的良好局面。
      這款薄膜溶解測(cè)厚儀用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)薄膜在液體中薄膜厚度變化和光學(xué)常量(n,k)變化,是的薄膜溶解測(cè)量?jī)x和薄膜溶解測(cè)試儀
      薄膜溶解測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息
      這款薄膜溶解測(cè)厚儀用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)薄膜在液體中薄膜厚度變化和光學(xué)常量(n, k)變化,是的薄膜溶解測(cè)量?jī)x薄膜溶解測(cè)試儀。為了這種特色的測(cè)量,我們特意為薄膜溶解測(cè)厚儀研發(fā)了Teflon樣品池用于測(cè)量薄膜樣品,使用一種岔頭探針?biāo)桨惭b在Teflon 樣品池的外部,距離玻璃窗口非常接近,使用白光反射光譜技術(shù)(WLRS),實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和折射率,并通過專業(yè)軟件記錄下這些數(shù)據(jù)。
      另外,根據(jù)需要,我們還能夠在測(cè)量區(qū)域下安裝攪拌裝置stirrer,提供力學(xué)激勵(lì)振動(dòng)。
      我們還特意為該薄膜溶解測(cè)量?jī)x提供垂直的樣品夾具,以固定小尺寸的硅樣品或3'',4''直徑的Si 晶圓。

      薄膜溶解測(cè)量?jī)x根據(jù)溶解過程的不同,如溶解速度的不同,該薄膜溶解測(cè)試儀能夠以實(shí)時(shí)或離線的方式測(cè)量,反射率數(shù)據(jù)都能夠存儲(chǔ)下來以便后續(xù)處理使用。
      這套
      薄膜溶解測(cè)量?jī)x,還能夠測(cè)量幾十個(gè)納米厚度的光致抗蝕劑和聚合物薄膜堆的溶解過程。薄膜溶解測(cè)試儀而且還可以測(cè)量薄膜的膨脹等特殊現(xiàn)象。
      對(duì)于薄膜厚度的測(cè)量,
      薄膜溶解測(cè)厚儀需要光滑,具有反射性的襯底,對(duì)于光學(xué)常數(shù)測(cè)量,平整的反射襯底即可滿足測(cè)量需要。如果襯底是透明的,襯底的背面不能具有反射性。該薄膜溶解分析儀能夠給出兩個(gè)參數(shù):例如兩個(gè)薄膜的厚度或一個(gè)薄膜的厚度和光學(xué)常量。
      這套
      薄膜溶解測(cè)厚儀已經(jīng)成功應(yīng)用于測(cè)量反射襯底(Si晶圓)上各種光滑,透明或輕度吸收薄膜的溶解過程,可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蝕劑薄膜,聚合物薄膜層等。
      薄膜溶解測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)
      可測(cè)膜厚: 5nm-150微米;
      波長(zhǎng)范圍:200-1100nm

      精度:0.5%
      分辨率:0.02nm
      測(cè)量點(diǎn)光斑大?。?.5mm
      可測(cè)樣品大?。?0-100mm
      計(jì)算機(jī)要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;
      尺寸:360x400x180mm
      重量:15kg

      電力要求:110/230VAC
      薄膜溶解測(cè)厚儀應(yīng)用:
      聚合物薄膜

      光致抗蝕劑薄膜測(cè)量
      化學(xué)和生物薄膜測(cè)量,傳感測(cè)量
      光電子薄膜結(jié)構(gòu)測(cè)量
      在線測(cè)量
      光學(xué)鍍膜測(cè)量
      能夠以實(shí)時(shí)或離線的方式測(cè)量,反射率數(shù)據(jù)都能夠存儲(chǔ)下來以便后續(xù)處理使用。
      這款薄膜溶解測(cè)量?jī)x用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)薄膜在液體中的薄膜厚度和光學(xué)常量(n, k)的變化,是測(cè)量薄膜溶解速度的薄膜溶解分析儀.
      關(guān)鍵詞:測(cè)厚儀 分析儀
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