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      寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱孚光精儀公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)FRANG-SR50
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2023/2/14 14:07:47
      • 訪問(wèn)次數(shù)254
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      孚光精儀公司品牌源于早期的東歐地區(qū)和德國(guó)進(jìn)口光學(xué)材料和儀器的進(jìn)口服務(wù)。公司創(chuàng)始股東們足跡遍布捷克,愛(ài)沙尼亞,羅馬尼亞,白俄羅斯,立陶宛,法國(guó),英國(guó),意大利,奧地利,丹麥,比利時(shí),以及德國(guó) 漢堡,法蘭克福,柏林,慕尼黑,紐倫堡,德累斯頓等科技強(qiáng)國(guó)和強(qiáng)市,對(duì)整個(gè)歐洲特別是東歐和德國(guó)的技術(shù)產(chǎn)品和精密儀器的質(zhì)量有可靠的把握。長(zhǎng)期以來(lái),德國(guó)在科學(xué)研究、技術(shù)創(chuàng)新和儀器研發(fā)領(lǐng)域具有的優(yōu)勢(shì)。德國(guó)的科學(xué)儀器以技術(shù)*,質(zhì)量可靠而著稱。孚光精儀早期專注于選擇德國(guó)和東歐國(guó)家可靠的供應(yīng)商,為用戶提供了道質(zhì)量保障。公司派送員工前往原廠進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn),從而具備為遠(yuǎn)東地區(qū)用戶提供快速高效的技術(shù)服務(wù)能力,這一舉措深得用戶和制造商的高度贊譽(yù)。因此,孚光精儀的事業(yè)在服務(wù)客戶的同時(shí)獲得超常發(fā)展,快速成長(zhǎng)為*儀器的規(guī)模型供應(yīng)商和技術(shù)服務(wù)商。目前,孚光精儀已經(jīng)把產(chǎn)品原產(chǎn)地?cái)U(kuò)展到整個(gè)歐洲和美國(guó),形成了以歐洲和美國(guó)為供貨來(lái)源地的良好局面。
      這款寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀是一款低價(jià)臺(tái)式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光等,這款寬帶光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n和k)
      寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息
      這款寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀是一款低價(jià)臺(tái)式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光等,款寬帶光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n和k)。
      這套光學(xué)薄膜測(cè)厚儀基于白光反射光譜技術(shù),膜層的表面和底面反射的光VIS/NIR光譜,也是干涉型號(hào)被嵌入的光譜儀收集分析,結(jié)合多次反射原理,給出膜層的厚度和光學(xué)常數(shù)(n,k).
      光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x到貨即可使用,僅僅需要用戶準(zhǔn)備一臺(tái)計(jì)算機(jī)提供USB接口即可,操作非常方便。

      寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀特點(diǎn)
      易于安裝
      軟件基于Windows系統(tǒng),方便使用
      *光學(xué)設(shè)計(jì),良好系統(tǒng)表現(xiàn)
      陣列光譜探測(cè)器保證快速測(cè)量
      測(cè)量薄膜厚度和折射率高達(dá)5層
      可測(cè)量反射,透射和吸收光譜
      可用于實(shí)時(shí)在線的薄膜厚度和折射率測(cè)量
      具有齊全的材料光譜舍數(shù)據(jù)庫(kù)
      可升級(jí)到顯微分光光度計(jì)
      適合不同襯底和不同薄膜厚度測(cè)量
      寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀參數(shù)
      波長(zhǎng)范圍:250-1700nm
      光點(diǎn)大?。?00um - 5mm
      樣品大?。?00x200mm 或200mm 直徑
      襯底厚度: 高達(dá)50um
      測(cè)量薄膜厚度范圍: 2nm -150um
      測(cè)量時(shí)間:最小2ms
      精度:0.5%
      重復(fù)精度:<1A
      寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用
      半導(dǎo)體制造
      液晶顯示屏測(cè)量
      刑偵
      生物膜測(cè)量
      礦石地質(zhì)分析
      制藥醫(yī)學(xué)分析
      光學(xué)鍍膜測(cè)量
      功能薄膜MEMS測(cè)量
      太陽(yáng)能電池薄膜測(cè)量
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