富泰微科學儀器（上海）有限公司
詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 創(chuàng)新的“EM Wizard"界面更加直觀，僅需要“點擊"即可得到的圖像。 超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個新水平。
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像，而且還可以同時接收多種信號。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。S...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 1、圖標按操作流程順序排列，操作簡便。2、通過對應(yīng)譜圖可簡單確認元素重疊狀況。3、通過TruMap功能分離出譜峰重疊元素并準確顯示(AZtecOne)...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 ArBlade 5000是日立離子研磨儀的高性能機型。 它實現(xiàn)了超高速截面研磨。 高效率截面加工功能，使電鏡截面觀察時樣品加工更簡單。
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念，開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上，我們又推出功能更為多樣的T...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 日立離子研磨儀標準機型IM4000Ⅱ能夠進行截面研磨和平面研磨。還可通過低溫控制及真空轉(zhuǎn)移等各種選配功能，針對不同樣品進行截面研磨。
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 追求理想的三維結(jié)構(gòu)分析通過自動重復(fù)使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。 采用的鏡筒布局，從材料、設(shè)備...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 追求的TEM樣品制備工具在設(shè)備及高性能納米材料的評價和分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。 近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 高性能與高靈活性兼?zhèn)洹癊thos"采用日立高新的核心技術(shù)--的高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復(fù)合透鏡，不但可以在低加速電壓下實現(xiàn)高分辨觀察，還可以...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 該導航系統(tǒng)可以將CAD數(shù)據(jù)的布線和大規(guī)模集成電路的設(shè)計圖形和FIB的觀察圖像相對應(yīng)起來。當CAD系統(tǒng)中的坐標位置，樣品臺就會通過鏈接移動到相應(yīng)位置，就...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng)：新型電子光學系統(tǒng)，可達到高水準的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 優(yōu)異的高效分析性能微型采樣方法已在半導體器件分析領(lǐng)域成為一款工具，它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時左右即可獲得一個微小樣品，以便于STEM分析，...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 非球面光學器件在成像、傳感和激光系統(tǒng)的設(shè)計和實施方面有很大的優(yōu)勢，這些行業(yè)包括國防和航空航天、半導體曝光和檢查系統(tǒng)以及醫(yī)療成像系統(tǒng)。
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 大口徑、小占地面積 – Verifire XL 是一款一站式干涉儀工作站，可輕松測試直徑達 300 mm 的平面光學元器件。這款集成的系統(tǒng)易于使用，其...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。 的鏡筒設(shè)計，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計，實現(xiàn)了低電壓...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 SEM4000是一款分析型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，配備了高亮度、長壽命的肖特基場發(fā)射電子槍。三級磁透鏡設(shè)計，束流可達200 nA，且連續(xù)可調(diào)，在EDS...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 SEM3300 是全新一代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，分辨率優(yōu)于2.5nm。特殊的電子光路設(shè)計，突破鎢燈絲分辨率極限，在低電壓 1 kV 下，達到 5 nm...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹 SEM2000是一款基礎(chǔ)款的多功能分析型鎢燈絲掃描電鏡。20?kV分辨率可以做到3.9?nm，支持升級30?kV電壓，可觀察亞微級尺度樣品的微觀結(jié)構(gòu)信...
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