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11月17日，在國家知識產(chǎn)權(quán)局查詢發(fā)現(xiàn)，華為技術(shù)有限公司日前公告了一項名為“芯片封裝結(jié)構(gòu)、電子設(shè)備及芯片封裝結(jié)構(gòu)的制備方法”的專利，授權(quán)公告號CN116250066B，申請日期為2020年10月。
專利涉及芯片封裝技術(shù)領(lǐng)域，該申請實施例提供一種芯片封裝結(jié)構(gòu)、電子設(shè)備及芯片封裝結(jié)構(gòu)的制備方法，主要目的是提供一種能夠比較精準(zhǔn)控制粘接膠層厚度尺寸的芯片封裝結(jié)構(gòu)。
據(jù)介紹，由于高速數(shù)據(jù)通信和人工智能對算力的需求激增，芯片集成度進(jìn)一步提升，其中，在芯片尺寸變大的同時，多芯片合封技術(shù)也被廣泛采用，進(jìn)而使整個芯片封裝結(jié)構(gòu)的尺寸在不斷的增大。
隨著芯片封裝結(jié)構(gòu)尺寸變大，芯片與封裝基板的熱膨脹系數(shù)失配會讓封裝熱變形控制變得越來越困難，封裝熱變形變大會直接導(dǎo)致整個芯片封裝結(jié)構(gòu)發(fā)生較大的翹曲。
據(jù)了解，華為申請實施例提供的芯片封裝結(jié)構(gòu)中，由于多個定位塊的任一定位塊的厚度等于粘接膠層的厚度，在制備時將多個定位塊設(shè)置在封裝基板上后，再點膠，然后再封裝加固結(jié)構(gòu)，這樣加固結(jié)構(gòu)的朝向封裝基板的面就會抵接在多個定位塊上。
通過定位塊限定了加固結(jié)構(gòu)的位置，進(jìn)而會精準(zhǔn)控制粘接膠層的厚度尺寸，若定位塊的厚度和粘接膠層的厚度的設(shè)計值相等或相近時，會使最終封裝形成的粘接膠層的厚度與設(shè)計值相等或接近。
在保證封裝內(nèi)應(yīng)力較小的同時，兼顧翹曲程度不能太大，從而在將該芯片封裝結(jié)構(gòu)與PCB焊接時，可提高焊接優(yōu)良率。
同時，在批量封裝同一規(guī)格的芯片封裝結(jié)構(gòu)時，不會出現(xiàn)有些粘接膠層較厚，有些粘接膠層較薄的現(xiàn)象，能夠?qū)崿F(xiàn)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的統(tǒng)一。
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