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MEMS芯片電性能測試數(shù)字源表

參考價(jià)	￥ 1000
訂貨量	≥1臺

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱武漢普賽斯儀表有限公司
品牌普賽斯儀表
型號S300B
所在地武漢市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/6/21 13:50:55
訪問次數(shù)427

產(chǎn)品標(biāo)簽:

源測量單元 MEMS芯片測試 IV曲線測試掃描國產(chǎn)源測單元數(shù)字源表電流模塊

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公司介紹主營產(chǎn)品

武漢普賽斯儀表有限公司是武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司的全資子公司，一直專注于半導(dǎo)體的性能測試儀表的開發(fā)、生產(chǎn)與銷售，致力于滿足半導(dǎo)體領(lǐng)域從材料、晶圓到器件測試用科學(xué)儀器的國產(chǎn)替代需求。

基于普賽斯電子嶺先的光學(xué)與光電技術(shù)、微弱信號處理與抗干擾技術(shù)、高速數(shù)字信號處理、核心算法與系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺優(yōu)勢，公司自主研發(fā)了高精度臺式數(shù)字源表、脈沖式源表、窄脈沖電流源、集成插卡式源表、高精度超大電流源、高精度高壓電源、數(shù)據(jù)采集卡等國產(chǎn)化電性能測試儀表，以及mini LED測試系統(tǒng)、電流傳感器測試系統(tǒng)、功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)等。產(chǎn)品以其測試精度高、速度快、兼容性強(qiáng)、測試范圍寬、可靠性高、操作簡便以及快捷靈活的響應(yīng)式服務(wù)等優(yōu)勢，廣泛應(yīng)用于新型半導(dǎo)體器件材料分析、半導(dǎo)體分立器件測試、集成電路測試、高校教學(xué)實(shí)訓(xùn)平臺等應(yīng)用；為客戶提供模塊化硬件、高效驅(qū)動(dòng)程序和高效算法軟件組合,幫助用戶構(gòu)建自定義解決方案，同時(shí)滿足行業(yè)對測試效率、測試精度、供應(yīng)鏈安全以及規(guī)?；奶魬?zhàn)。

普賽斯儀表自主研制的國產(chǎn)化數(shù)字源表，可作為電壓源和或電流源并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作。作為國內(nèi)嶺跑的半導(dǎo)體電性能測試儀表提供商，普賽斯儀表憑借長期的技術(shù)創(chuàng)新、精益的生產(chǎn)制造、嚴(yán)格的質(zhì)量體系及國際化視野，推出的產(chǎn)品已被國內(nèi)通信巨圖和多家之名半導(dǎo)體企業(yè)認(rèn)可和應(yīng)用，是為數(shù)不多進(jìn)入國際半導(dǎo)體測試市場供應(yīng)鏈體系的半導(dǎo)體電性能測試設(shè)備廠商。未來，公司將繼續(xù)以“為客戶提供醉優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與Z貼心的服務(wù)”為宗旨，朝著圈球半導(dǎo)體電性能測試儀表的嶺跑者邁進(jìn)。

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數(shù)字源表,脈沖恒流源,脈沖恒壓源,高壓源,大功率激光器老化系統(tǒng),功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

MEMS芯片電性能測試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，數(shù)字源表作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、伏特計(jì)、安培計(jì)和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載。其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器，波形發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng)，支持四象限工作。

MEMS芯片電性能測試數(shù)字源表產(chǎn)品信息

芯片測試作為芯片設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、封裝、測試流程中的重要步驟，是使用特定儀器，通過對待測器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測，區(qū)別缺陷、驗(yàn)證器件是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo)、分離器件好壞的過程。其中直流參數(shù)測試是檢驗(yàn)芯片電性能的重要手段之一，常用的測試方法是FIMV（加電流測電壓）及FVMI（加電壓測電流）。
傳統(tǒng)的芯片電性能測試需要數(shù)臺儀表完成，如電壓源、電流源、萬用表等，然而由數(shù)臺儀表組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測量和分析，過程復(fù)雜又耗時(shí)，又占用過多測試臺的空間，而且使用單一功能的儀表和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺陷，無法滿足高效率測試的需求。
實(shí)施芯片電性能測試的最佳工具之一是數(shù)字源表(SMU)，數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負(fù)載，支持四象限功能，可提供恒流測壓及恒壓測流功能,可簡化芯片電性能測試方案。MEMS芯片電性能測試數(shù)字源表就找普賽斯儀表

此外，由于芯片的規(guī)模和種類迅速增加，很多通用型測試設(shè)備雖然能夠覆蓋多種被測對象的測試需求，但受接口容量和測試軟件運(yùn)行模式的限制，無法同時(shí)對多個(gè)被測器件（DUT）進(jìn)行測試，因此規(guī)模化的測試效率極低。特別是在生產(chǎn)和老化測試時(shí)，往往要求在同一時(shí)間內(nèi)完成對多個(gè)DUT的測試，或者在單個(gè)DUT上異步或者同步地運(yùn)行多個(gè)測試任務(wù)。

基于普賽斯CS系列多通道插卡式數(shù)字源表搭建的測試平臺，可進(jìn)行多路供電及電參數(shù)的并行測試，高效、精確地對芯片進(jìn)行電性能測試和測試數(shù)據(jù)的自動(dòng)化處理。主機(jī)采用10插卡/3插卡結(jié)構(gòu)，背板總線帶寬高達(dá)3Gbps，支持16路觸發(fā)總線，滿足多卡設(shè)備高速率通信需求；匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，具有通道密度高、同步觸發(fā)功能強(qiáng)、多設(shè)備組合效率高等特點(diǎn)，最高可擴(kuò)展至40通道。

MEMS芯片電性能測試數(shù)字源表

使用普賽斯數(shù)字源表進(jìn)行芯片的開短路測試(Open/Short Test)、漏電流測試（Leakage Test）以及DC參數(shù)測試（DC ParametersTest）。

開短路測試（Open-Short Test，也稱連續(xù)性或接觸測試），用于驗(yàn)證測試系統(tǒng)與器件所有引腳的電接觸性，測試的過程是借用對地保護(hù)二極管進(jìn)行的，測試連接電路如下所示：

MEMS芯片電性能測試數(shù)字源表