詳細(xì)摘要： TCB系列黑體是超精密差分面源黑體，用于模擬冷的和中等熱目標(biāo)
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-04-16 在線留言PLC 工控機(jī) 嵌入式系統(tǒng) 人機(jī)界面 工業(yè)以太網(wǎng) 現(xiàn)場總線 變頻器 機(jī)器視覺 DCS PAC/PLMC SCADA 工業(yè)軟件 ICS信息安全 應(yīng)用方案 無線通訊
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詳細(xì)摘要： TCB系列黑體是超精密差分面源黑體，用于模擬冷的和中等熱目標(biāo)
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詳細(xì)摘要： SIMTERM–熱像儀模擬軟件是用軟件來模擬一個(gè)給定的熱像儀系統(tǒng)產(chǎn)生的紅外圖像
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詳細(xì)摘要： SIMAT外觀圖SIMAT模擬器是一個(gè)模塊化的圖像投影系統(tǒng)用于模擬在光視距范圍內(nèi)兩個(gè)或者多個(gè)可變強(qiáng)度，可變角尺寸，可變光譜，在均勻背景下的的動(dòng)態(tài)目標(biāo)
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詳細(xì)摘要： MULTIC寬帶多光譜成像儀測試系統(tǒng)是為測試遠(yuǎn)距離寬帶多光譜成像儀而開發(fā)的專業(yè)測試系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： STR測試系統(tǒng)外形圖STR測試系統(tǒng)是一個(gè)面向條紋管的重要參數(shù)測試的多功能的測試系統(tǒng)，包括輻射參數(shù)，空間參數(shù)以及時(shí)間參數(shù)
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹：從設(shè)計(jì)的角度看，SOL測試系統(tǒng)是一種能夠進(jìn)行光譜帶寬階躍調(diào)節(jié)、光強(qiáng)連續(xù)調(diào)節(jié)的標(biāo)定光源，對被測成像探測器和圖像處理系統(tǒng)進(jìn)行照射，進(jìn)而分析被測成像探測器（...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹TRAL測試系統(tǒng)外形圖a)輻射配置，b)光譜配置TRAL測試系統(tǒng)原理圖:a)輻射配置，b)光譜配置TRAL紅外探測器通用測試系統(tǒng)用于測量在700nm到1...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹：SIT測試系統(tǒng)是兩個(gè)主要模塊的總和：波長和光強(qiáng)連續(xù)可調(diào)的校準(zhǔn)光源SITO和IPS圖像處理系統(tǒng)（PC、圖像采集卡、軟件）
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹VIT測試系統(tǒng)外形圖VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統(tǒng)是一個(gè)可擴(kuò)展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統(tǒng)，支...
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詳細(xì)摘要： SPOT測試系統(tǒng)的外形圖SPOT中波紅外焦平面陣列空間響應(yīng)測試系統(tǒng)是掃描式光斑投影系統(tǒng)，它將高亮度的極小光斑投射到被測MWIRFPA表面上，同時(shí)測量其輸出信號
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹紅外輻照器外形圖紅外輻照器模塊組成圖MIRAD輻照器的設(shè)計(jì)思路整合了三個(gè)模塊(MTB中溫的黑體，VAB光機(jī)輻射衰減器和三個(gè)TP透射管），三個(gè)模塊組合一起...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹FT測試系統(tǒng)的FT-N配置（噪聲/響應(yīng)參數(shù)的測量）FT測試系統(tǒng)FT-I配置（成像質(zhì)量參數(shù)測量）FT測試系統(tǒng)的FT-S配置（光譜參數(shù)測量）紅外焦平面陣列是...
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詳細(xì)摘要： 由于有部分科研項(xiàng)目需要采用非美軍標(biāo)的方法對像管進(jìn)行詳細(xì)的測量，針對這些科研項(xiàng)目需求Inframet開發(fā)了IRAD測量系統(tǒng)，用于對像增強(qiáng)器的輻亮度和時(shí)間響應(yīng)參數(shù)的...
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詳細(xì)摘要： THP太赫茲相機(jī)測試系統(tǒng)THP太赫茲相機(jī)測試系統(tǒng)用于測試被動(dòng)式太赫茲相機(jī)，所使用的測試方法與LAFT熱像儀測試系統(tǒng)一致:一段距離外的參考靶標(biāo)經(jīng)被測熱像儀成像，分...
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詳細(xì)摘要： IPAS測量系統(tǒng)是通用的測試系統(tǒng)，能夠測量二代像管不同電極間的電壓，檢測像管的電源
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詳細(xì)摘要： ITR測量系統(tǒng)用于測試像增強(qiáng)器的可靠性參數(shù)：標(biāo)準(zhǔn)可靠性，衰老可靠性，燒傷，亮點(diǎn)保護(hù)等參數(shù)
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詳細(xì)摘要： ITIP是Inframet設(shè)計(jì)生產(chǎn)的用于測試像增強(qiáng)器的測試系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： UVIR寬波段UV-SWIR成像測試系統(tǒng)針對寬波段成像系統(tǒng)而開發(fā)，實(shí)際上是一個(gè)可變的靶標(biāo)成像投影系統(tǒng)，通過用一系列不同的靶標(biāo)來將它們的圖像投射到被測相機(jī)接收方向...
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詳細(xì)摘要： UVIC測試系統(tǒng)是一套設(shè)計(jì)于針對重要且昂貴的日盲UV相機(jī)的測試系統(tǒng)，UVIC測試系統(tǒng)生成一系列可變亮度等級的標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)紫外及可見光波段的圖像，被測試的日盲相機(jī)生成...
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詳細(xì)摘要： LAM靶標(biāo)為棋盤型靶標(biāo)，采用大面積、均勻溫度的輻射源，經(jīng)表面加工后在高發(fā)射率背景下實(shí)現(xiàn)低發(fā)射率
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-04-16 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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