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北京費(fèi)恩科技有限公司

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MULTIC寬帶多光譜成像儀測(cè)試系統(tǒng)

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MULTIC寬帶多光譜成像儀測(cè)試系統(tǒng)是為測(cè)試遠(yuǎn)距離寬帶多光譜成像儀而開發(fā)的專業(yè)測(cè)試系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

MULTIC寬帶多光譜成像儀測(cè)試系統(tǒng)是為測(cè)試遠(yuǎn)距離寬帶多光譜成像儀而開發(fā)的專業(yè)測(cè)試系統(tǒng)。它可看作是經(jīng)過(guò)校正的投影系統(tǒng)，可在可見光至遠(yuǎn)紅外波段投射出不同形狀/大小/光強(qiáng)的標(biāo)準(zhǔn)圖像。

MULTIC測(cè)試系統(tǒng)由以下模塊組成：CDT離軸反射平行光管(典型有效徑為400mm或500mm)，VASIP14D寬帶多光譜光源，TCB4D黑體，一套兩個(gè)MRW-6L旋轉(zhuǎn)靶輪，WEB模塊切換轉(zhuǎn)輪，一組靶標(biāo)，計(jì)算機(jī)，一組圖像采集卡，控制軟件，測(cè)試軟件，一組平臺(tái)，BOREX平臺(tái)。

MULTIC是專業(yè)的測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試遠(yuǎn)程寬帶多光譜成像系統(tǒng)。它是校準(zhǔn)的圖像投影儀，能夠在從可見光到遠(yuǎn)紅外范圍的不同光譜投影不同形狀/尺寸/光強(qiáng)度的參考圖像。 MULTIC被構(gòu)建為具有固定，緊湊結(jié)構(gòu)的離軸牛頓型平行光管，其具有位于平行光管焦平面處的一組可交換標(biāo)準(zhǔn)靶標(biāo)，主要由單個(gè)寬帶多光譜輻射源照射，這種編碼為VASIP的特殊輻射源是該測(cè)試系統(tǒng)的核心，額外的TCB黑體用于熱像儀測(cè)試。這種新設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)廣泛的測(cè)試功能，同時(shí)保持超高系統(tǒng)精度和可靠性。

產(chǎn)品參數(shù)

根據(jù)所選配置MULTIC能夠?qū)鈱W(xué)孔徑不超過(guò)400/500mm的大型寬帶多光譜成像儀進(jìn)行測(cè)試。詳細(xì)測(cè)試功能如下表所示。

表1. VASIP光源作為輻射源時(shí)的測(cè)試功能

熱像儀

可見光-近紅外相機(jī)

短波紅外相機(jī)

可見光-近紅外高光譜儀

FOV

畸變

MTF

FOV

畸變

MTF

NEI (噪聲等效照度),

空間噪聲 (FPN, 非均勻性)

MRC (最小可分辨對(duì)比度)

響應(yīng)函數(shù) (線性度，動(dòng)態(tài)范圍)

相對(duì)光譜靈敏度

顏色精確度 (選配)

FOV

畸變

MTF

NER (噪聲等效反射率)

空間噪聲 (FPN, 非均勻性)

MRC (最小可分辨對(duì)比度)

響應(yīng)函數(shù) (線性度，動(dòng)態(tài)范圍)

相對(duì)光譜靈敏度(步進(jìn)測(cè)量)

D* 比探測(cè)率

FOV

桶形畸變

枕形畸變

MTF

NER (噪聲等效反射率)

空間噪聲 (FPN, 非均勻性)

響應(yīng)函數(shù) (線性度，動(dòng)態(tài)范圍)

MRC (最小可分辨對(duì)比度)

D* 比探測(cè)率

校軸誤差：

1. 高光譜儀在不同譜段時(shí)的光軸偏差

2. 高光譜儀光軸相對(duì)于熱像儀(或VIS NIR相機(jī)/SWIR相機(jī))的光軸偏差的測(cè)量

3. 測(cè)量高光譜儀圖像相對(duì)于熱像儀圖像和VIS NIR /SWIR相機(jī)圖像之間的旋轉(zhuǎn)角

4. 同一成像儀/相機(jī)不同視場(chǎng)時(shí)光軸偏差的測(cè)量

5. 可見光-近紅外相機(jī)(或短波紅外相機(jī)，高光譜儀，熱像儀)到BOREX平臺(tái)的參考機(jī)械平面(機(jī)械軸)的光軸偏差的測(cè)量

表 2. TCB-4D黑體作為輻射源時(shí)的測(cè)試功能

熱像儀

VIS-NIR 可見光-近紅外相機(jī)

VIS-SWIR 高光譜儀

MTF

噪聲等效溫差NETD

最小可分辨溫差MRTD

最小可探測(cè)溫差MDTD

空間噪聲 (固定圖形噪聲FPN,非均勻性)

比探測(cè)率D*(可選配)

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關(guān)鍵詞：圖像采集卡投影儀光譜儀

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