詳細摘要: SuperViewW光學輪廓白光干涉儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。
產(chǎn)品型號:SuperViewW1所在地:深圳市更新時間:2024-06-11 在線留言PLC 工控機 嵌入式系統(tǒng) 人機界面 工業(yè)以太網(wǎng) 現(xiàn)場總線 變頻器 機器視覺 DCS PAC/PLMC SCADA 工業(yè)軟件 ICS信息安全 無線通訊 機箱機柜