1Ω/150Ω直接耦合法 傳導發(fā)射測試

◆IEC  61967-1:  Integrated  circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  emissions  -  Part  1:  General  conditions  and de?nitions

◆IEC  61967- 4: Integrated  circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  emissions,  150  kHz  to  1  GHz  -  Part  4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method

 測試介紹： 
 
       IEC61967-4規(guī)定了兩種測試方法：1Ω測試法和150Ω測試法。1Ω測試法用來測試接地引腳上的總騷擾電流，150Ω測試法用來測試輸出端口的騷擾電壓。離開芯片的射頻電流匯到集成電路的接地引腳，因此對地回路射頻電流的測量可較 好地反映集成電路的電磁騷擾大小。
      為實現(xiàn)150Ω共模阻抗與50Ω的測試系統(tǒng)阻抗的匹配，必須采用阻抗匹配網(wǎng)絡。

測試配置布置圖： 

          主要測試設(shè)備：接收機、高頻探頭等

測試環(huán)境：屏蔽室