主要標準： 

◆IEC  61967-1:  Integrated  circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  emissions  -  Part  1:  General  conditions  and de?nitions

◆IEC  61967-6: Integrated  circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  emissions,  150  kHz  to  1  GHz  -  Part  6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

測試介紹： 

磁場探頭法使用微型三片式結構磁探針測量被測集成電路的電源引腳和I/O引腳上的射頻電流。該探頭以受控方式測量 標準化測試板上電源或I/O帶導體上方高度處的磁場。使用相應公式，可根據(jù)測量磁場計算射頻電流。由于磁場探頭放 置位置的準確，此方法有高度的重復性。此外，該方法的頻率范圍可進行擴展，在不影響精度的情況下，可以獲得更高的 頻率。測算電源或I/O帶導體上的射頻電流是表征和比較集成電路的一種簡便方法。