表面掃描法 輻射發(fā)射測(cè)試
主要標(biāo)準(zhǔn) ：
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and de?nitions
◆IEC 61967- 3: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated missions - Surface scan method
測(cè)試介紹 ：
表面掃描法是評(píng)估集成電路表面近電場(chǎng)和近磁場(chǎng)元件的一種方法。
這一測(cè)量方法可以應(yīng)用在任何一個(gè)集成在印刷電路板上、方便于使用探針測(cè)量的集成電路上。通過(guò)對(duì)集成電路表面進(jìn)行電場(chǎng)和磁場(chǎng)掃描，能夠得到關(guān)于電磁輻射源相對(duì)強(qiáng)度的相關(guān)信息 。運(yùn)用該方法可以準(zhǔn)確地定位芯片上集成電路封裝內(nèi)電 磁輻射量過(guò)大的區(qū)域。
測(cè)試配置布置圖：
主要測(cè)試設(shè)備：IC掃描儀等
測(cè)試環(huán)境：屏蔽室
智能制造網(wǎng)