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      北京高光科技有限公司

      • OSICS 8通道的模塊化可調(diào)諧光源平臺

        產(chǎn)品簡介: OSICS是一個(gè)多通道光通信光源,該平臺提供了光纖測試系統(tǒng)尤其是密集波分復(fù)用(DWDM)所需要的模塊。具有Z高的靈活性和Z大的插件選擇性。一個(gè)OSI...
        型號: OSICS 8 所在地:北京市 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比
      • CT-400全波段高性能光器件測試儀

        CT-400采用*的設(shè)計(jì)理念,克服了兩種測試方法的缺點(diǎn),形成了業(yè)界Z為綜合的、緊湊式的低價(jià)格的寬波長范圍的光損耗測試方案,可進(jìn)行寬譜范圍內(nèi)的光器件和光模塊的精確...
        型號: CT-400 所在地:北京市 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比
      • Tunics T100S Optim–Y可調(diào)諧激光光源

        產(chǎn)品簡介:Tunics Reference(1390nm~1650nm)是新的可調(diào)諧激光源測試基準(zhǔn),能夠?yàn)樗蓄愋偷腄WDM測試提供的測試規(guī)范:高輸出功率、Z高...
        型號: Tunics T1... 所在地:北京市 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比
      • WSM-160-NF手動可調(diào)陷波濾波器

        產(chǎn)品簡介:WSM-160-NF是平頂可調(diào)濾波器WSM-160中一款陷波濾波器,波長調(diào)諧范圍可達(dá)125nm,帶寬調(diào)諧范圍可達(dá)60nm,是光學(xué)試驗(yàn)室的理想工具,通過...
        型號: WSM-160-N... 所在地:北京市 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比
      • WSM-160手動平頂型可調(diào)諧光濾波器

        產(chǎn)品簡介:WSM-160是一款手動平頂型可調(diào)諧光濾波器-,*的性價(jià)比使該濾波器是光學(xué)測試人員的理想選擇。低連接損耗以及平坦的響應(yīng)特性特別利于從DWDM信道中低噪...
        型號: WSM-160 所在地:北京市 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比
      • XTM-50手動可調(diào)光濾波器

        產(chǎn)品簡介:法國Yenista公司推出一款手動波長/帶寬可調(diào)濾波器,波長調(diào)諧范圍1450nm-1650nm,帶寬可調(diào)范圍50pm(6.25GHz)-800pm(1...
        型號: XTM-50 所在地:北京市 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比
      • XTA-50自動波長/帶寬可調(diào)光濾波器

        產(chǎn)品簡介:法國Yenista公司推出一款自動波長帶寬可調(diào)濾波器,波長調(diào)諧范圍1450nm-1650nm,帶寬可調(diào)范圍50pm(6.25GHz)-800pm(10...
        型號: XTA-50 所在地:北京市 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比
      • 膜厚分布自動測量系統(tǒng)F50

        Filmetrics F50系列的產(chǎn)品可以以每秒鐘測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度測繪薄膜厚度。電動的R-Theta平臺可以接受標(biāo)準(zhǔn)或定制的夾具,以便用于直徑大于300mm 的...
        型號: F50 所在地:國外 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比
      • 小光點(diǎn)膜厚測量儀 F40

        F40產(chǎn)品系列可以用于測量點(diǎn)尺寸小到2.5微米的用途。對大多數(shù)顯微鏡而言,F(xiàn)40 簡單地固定于C型安裝架轉(zhuǎn)接器上,這是攝像機(jī)安裝的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 F40完整地配備了...
        型號: F40 所在地:國外 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比
      • 薄膜沉積監(jiān)測系統(tǒng)F30

        監(jiān)控薄膜沉積Z強(qiáng)有力的工具。用F30光譜反射率系統(tǒng)可以實(shí)時(shí)測量沉積率、沉積層厚度、光學(xué)常數(shù)(n和k值)和半導(dǎo)體以及電介質(zhì)層的均勻性。
        型號: F30 所在地:國外 參考價(jià): 面議 更新時(shí)間:2022/3/10 18:05:12 對比

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