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當(dāng)前位置：北京高光科技有限公司>>薄膜厚度測(cè)量>> F30薄膜沉積監(jiān)測(cè)系統(tǒng)F30
| 參 考 價(jià): | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)F30
品牌
廠(chǎng)商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所在地國(guó)外
更新時(shí)間：2022-03-10 18:05:12瀏覽次數(shù)：394次
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監(jiān)控薄膜沉積zui強(qiáng)有力的工具。用F30光譜反射率系統(tǒng)可以實(shí)時(shí)測(cè)量沉積率、沉積層厚度、光學(xué)常數(shù)（n和k值）和半導(dǎo)體以及電介質(zhì)層的均勻性。
樣品層、分子束外延（MBE）和金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積（MOCVD）。可以測(cè)量平滑和半透明的，或者輕度吸收的薄膜。這實(shí)際上包括從氮化鎵鋁（AlGaN）直至鎵銦磷砷（GaInAsP）的任何半導(dǎo)體材料。
產(chǎn)品特性：
*地提高生產(chǎn)率
快速—幾秒鐘完成測(cè)量
精確—測(cè)量精度高于±1%a
低成本—幾個(gè)月就能回收其自身的成本
非侵入式—測(cè)試*在沉積室以外進(jìn)行
易于使用—直觀(guān)的 Windows™ 軟
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