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北京高光科技有限公司

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薄膜在線多點測量系統(tǒng)F37 返回列表頁

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產(chǎn)品型號F37

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廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

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更新時間：2022-03-10 18:05:12瀏覽次數(shù)：359次

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產(chǎn)品分類品牌分類

薄膜厚度測量

全部產(chǎn)品列表

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產(chǎn)品簡介

用F37實時測量沉積率、沉積層厚度、光學(xué)常數(shù)（n和k值）和半導(dǎo)體以及電介質(zhì)層的均勻性。
樣品層：
可以測量平滑和半透明的，或者輕度吸收的薄膜。這實際上包括那些使用在薄膜光伏產(chǎn)品內(nèi)的任何半導(dǎo)體材料。

詳情介紹

產(chǎn)品簡介：
         用F37實時測量沉積率、沉積層厚度、光學(xué)常數(shù)（n和k值）和半導(dǎo)體以及電介質(zhì)層的均勻性。
         樣品層：
         可以測量平滑和半透明的，或者輕度吸收的薄膜。這實際上包括那些使用在薄膜光伏產(chǎn)品內(nèi)的任何半導(dǎo)體材料。
產(chǎn)品特性：
        *地提高生產(chǎn)率
        快速—幾秒鐘完成測量
         精確—測量精度高于±1%
        低成本—幾個月就能回收其自身的成本
         非侵入式—測試*在沉積室以外進行
       易于使用—直觀的Windows™ 軟件