產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
傳統(tǒng)的光器件和光模塊的光損耗測(cè)試一般有兩種模式：采用自己搭建的步進(jìn)式測(cè)試方案或完整的集成式掃描系統(tǒng)。前者由于自身系統(tǒng)的限制，很難滿(mǎn)足光傳遞功能連續(xù)掃描測(cè)試的需求；而后者盡管在性能上可以得到保障，但是由于系統(tǒng)的價(jià)格和難以擴(kuò)展，也很難被用戶(hù)所接受。
CT-400采用*的設(shè)計(jì)理念，克服了兩種測(cè)試方法的缺點(diǎn)，形成了業(yè)界zui為綜合的、緊湊式的低價(jià)格的寬波長(zhǎng)范圍的光損耗測(cè)試方案，可進(jìn)行寬譜范圍內(nèi)的光器件和光模塊的精確的光功率、光波長(zhǎng)、光損耗和光的偏振測(cè)試。
支持4個(gè)可調(diào)諧光源 光功率測(cè)試
支持多個(gè)連續(xù)掃描 光損耗測(cè)試
測(cè)量速度快 光波長(zhǎng)測(cè)試
體積小、價(jià)格便宜 光偏振測(cè)試
精度高
傳統(tǒng)的光器件和光模塊的光損耗測(cè)試一般有兩種模式：采用自己搭建的步進(jìn)式測(cè)試方案或完整的集成式掃描系統(tǒng)。前者由于自身系統(tǒng)的限制，很難滿(mǎn)足光傳遞功能連續(xù)掃描測(cè)試的需求；而后者盡管在性能上可以得到保障，但是由于系統(tǒng)的價(jià)格和難以擴(kuò)展，也很難被用戶(hù)所接受。
CT-400采用*的設(shè)計(jì)理念，克服了兩種測(cè)試方法的缺點(diǎn)，形成了業(yè)界zui為綜合的、緊湊式的低價(jià)格的寬波長(zhǎng)范圍的光損耗測(cè)試方案，可進(jìn)行寬譜范圍內(nèi)的光器件和光模塊的精確的光功率、光波長(zhǎng)、光損耗和光的偏振測(cè)試。
產(chǎn)品特性： 產(chǎn)品應(yīng)用：
支持4個(gè)可調(diào)諧光源 光功率測(cè)試
支持多個(gè)連續(xù)掃描 光損耗測(cè)試
測(cè)量速度快 光波長(zhǎng)測(cè)試
體積小、價(jià)格便宜 光偏振測(cè)試
精度高
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