產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
         NanoMap-O三維非接觸光學(xué)表面輪廓儀基于白光干涉測(cè)量技術(shù)，可快速精確測(cè)量材料表面參數(shù)，像表面粗糙度，劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積，臺(tái)階高度，薄膜厚度等。所有測(cè)量都是非接觸、非破壞的，而且無(wú)需制樣，無(wú)需真空，金屬非金屬均可，操作方便、直觀。
產(chǎn)品特性：                                                                                產(chǎn)品應(yīng)用：   
        非接觸測(cè)量                                                                                  薄膜厚度測(cè)量
        成像質(zhì)量在200萬(wàn)像素之上                                                       臺(tái)階高度測(cè)量
        0.001nm的分辨率                                                                      表面粗糙度測(cè)量
        nm到50mm的Z軸范圍                                                              二維薄膜應(yīng)力測(cè)量
        XY掃描范圍達(dá)到150x150mm                                                   平坦度或曲率測(cè)量
       超高分辨率數(shù)字成像傳感器傳輸數(shù)據(jù)快                                    表面輪廓（缺陷、形貌等）呈現(xiàn)
       大于15年的LED光源壽命                                                           劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量