Phenom Particle Metric 顆粒測(cè)量器

基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案ParticleMetric能夠使用戶根據(jù)需要，隨時(shí)獲取所觀測(cè)顆粒的面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比、充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸、短軸長(zhǎng)度（橢圓）、凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù)，終實(shí)現(xiàn)ParticleMetric加速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。

Phenom Particle Metric 顆粒測(cè)量器 的功能

1.可進(jìn)行以下顆粒分析

l.顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm

l 顆粒探測(cè)速度：高達(dá)1000個(gè)/分鐘

顆粒測(cè)量屬性：大小、形狀、數(shù)量

2.可以測(cè)量的顆粒參數(shù)

面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比

充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度（橢圓）

凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗?/p>

3.可以提供的圖形顯示

按數(shù)量或體積的線性、對(duì)數(shù)、雙對(duì)數(shù)點(diǎn)狀圖

任何參數(shù)的散點(diǎn)圖

單個(gè)顆粒的SEM圖像

4.可以提供的圖形輸出

Word版本docx格式的報(bào)告，TIFF格式的圖像

CSV文件，離線分析的項(xiàng)目文件（.PAME）Pro Suite的一部分

飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng)ParticleMetric工具的優(yōu)勢(shì)

1.加載ParticleMetric軟件的飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù)；

2.全自動(dòng)的飛納掃描電鏡顆粒測(cè)試系統(tǒng)ParticleMetric軟件測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺(jué)效果，為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)；

3.ParticleMetric軟件生成的柱狀圖、散點(diǎn)圖可以作為報(bào)告的內(nèi)容按照格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測(cè)顆粒的不同屬性，生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點(diǎn)圖可以按照任何一項(xiàng)顆粒的特性生成，以便揭示相關(guān)趨勢(shì)；

4.直接由Phenom獲取圖像，識(shí)別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來(lái)顆粒，關(guān)聯(lián)顆粒物的特征，比如直徑、充實(shí)度、縱橫比和凹凸度；

5.便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃表簡(jiǎn)單化和可視化；

6.無(wú)限制的圖像采集，可輕松存儲(chǔ)于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤(pán)，便于共享、交流或以后參考；

7.Phenom的易用性和對(duì)環(huán)境的良好適應(yīng)力，用戶可以將試樣一定程度視覺(jué)化；

8.附有高清圖片的統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)