GSR飛納電鏡槍擊殘留物分析
GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 (SEM) 的背散射成像,用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒,使用能譜(EDS)識(shí)別在該粒子中的元素。常見(jiàn)的搜索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè),例如 Ti 和 Zn 也可為搜索條件進(jìn)行搜索。
Phenom GSR 飛納臺(tái)式掃描電鏡自動(dòng)槍擊殘留物分析是在臺(tái)式掃描電鏡運(yùn)行自動(dòng)槍擊殘留物分析軟件。其設(shè)計(jì)基于飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化,以提高用戶操作界面友好性,可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個(gè)項(xiàng)目:自動(dòng)槍擊殘留物分析和分類(lèi)軟件包,BSED 和 EDS 探頭內(nèi)部集成,校準(zhǔn)試樣。
GSR飛納電鏡槍擊殘留物分析 配備 CeB6 燈絲,使其穩(wěn)定運(yùn)行,燈絲壽命不低于 1500 個(gè)小時(shí),從可用性,適用性和運(yùn)行時(shí)間的角度來(lái)看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時(shí)間,和快速的全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái),使得飛納 GSR 成為高度自動(dòng)化應(yīng)用的理想工具,可以用來(lái)進(jìn)行自動(dòng)槍擊殘留物分析。
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