Phenom XL臺(tái)式掃描電鏡 產(chǎn)品參數(shù)

光學(xué)顯微鏡：放大 3-16 倍

電子顯微鏡：100,000 倍

探測器：高靈敏度四分割背散射電子探測器

燈絲材料：1,500 小時(shí) CeB6 燈絲

分辨率：優(yōu)于 14 nm

放置環(huán)境：采用專業(yè)防震設(shè)計(jì)，可擺放于普通實(shí)驗(yàn)室或辦公室、廠房

加速電壓：5kV-20kV 連續(xù)可調(diào)

抽真空時(shí)間：小于 30 秒

能譜儀：可選配能譜儀

Phenom XL 大樣品室版可選配所有的拓展功能軟件選件，如 3D 粗糙度重建，纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)。

全自動(dòng)顯微平臺(tái)Phenom XL + 拉伸臺(tái)

Phenom XL臺(tái)式掃描電鏡 拉伸臺(tái)是飛納臺(tái)式掃描電鏡Phenom XL 一項(xiàng)重大拓展。拉伸臺(tái)是一種動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機(jī)制的手段,在材料科學(xué)前沿研究中發(fā)揮了重要作用。掃描電鏡原位拉伸臺(tái)的大特點(diǎn)是,在進(jìn)行應(yīng)力—應(yīng)變力學(xué)定量測試的同時(shí), 利用掃描電鏡的強(qiáng)大的景深、高空間分辨和分析功能，在微觀層面上對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行動(dòng)態(tài)研究。拉伸臺(tái)可以為很多材料做拉伸測試，如金屬材料(研究韌斷過程、應(yīng)力誘發(fā)相變及塑性變形),高分子材料，陶瓷材料等。飛納臺(tái)式掃描電鏡的原位拉伸臺(tái)能實(shí)現(xiàn) 2N to 1000N 的拉力區(qū)間，拉伸速度可實(shí)現(xiàn) 0.1mm/min 到 15mm/min，滿足幾乎所有領(lǐng)域樣品的原位拉伸觀測。