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Polytec近紅外光譜儀系統(tǒng)PSS
技術(shù)規(guī)格
1) 集成 20W 鎢鹵素光源用于樣品照射
2) SMA 905 光纖連接
3) 工業(yè)防護等級 IP64
4) 帶藍寶石窗的不銹鋼外殼（僅接觸式探頭）
5) 配置可滿足食品行業(yè)通行法規(guī)或防爆認證（僅接觸式探頭）
6) 適用的測量距離從 150 毫米到 600 毫米不等（非接觸式探頭）
7) 通過光源和傳感器單元的組合，適用的測量距離從0 到 50毫米不等（接觸式探頭）
技術(shù)特點
1) 近紅外光譜儀是過程分析中重要和廣泛使用的方法之一。無損，*，無需樣品制備，不產(chǎn)生浪費
2) 采用二極管陣列技術(shù)，即使在高測量速率下也能提供穩(wěn)定可靠的測量結(jié)果
3) 創(chuàng)新的透射光柵的設(shè)計，能夠?qū)崿F(xiàn)大的靈敏度和極低的散射光（ 對比度 > 1：50,000 ），同時保證*穩(wěn)定性
4) 全自動的系統(tǒng)校準，可調(diào)整的測量光斑大小
5) 標準化的光譜范圍，極低的散射光水平，*的測量速率，接近理論極限的均勻的光學分辨率
6) 接觸式和非接觸式探頭專為工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計，可滿足苛刻的現(xiàn)場要求，無懼灰塵、濕氣、壓力和溫度等種種因素的影響，符合通用的生產(chǎn)和安全規(guī)定，例如可以用于食品工業(yè)或防爆區(qū)
7) 可通過多探頭光學切換模塊實現(xiàn)一臺設(shè)備配套多個探頭的應(yīng)用，實現(xiàn)多條生產(chǎn)線互不干擾的實時過程監(jiān)控和控制
8) 提供標準模塊化的設(shè)備和軟件，高度的靈活性，易于集成，簡化操作
客戶價值
1) 從原材料的實時檢測到終產(chǎn)品的質(zhì)量控制的生產(chǎn)全過程，通過減少廢品率來提高效率和降低成本
2) 對整個生產(chǎn)過程的自動實時控制，確保產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性，對生產(chǎn)工藝過程實現(xiàn)全程監(jiān)測并進行優(yōu)化
3) 一臺儀器可以測量多個參數(shù)，降低客戶設(shè)備投資成本
4) 無需樣品制備過程，加快檢測通量
5) 對待測樣品絲毫不產(chǎn)生破壞，非侵入性測量，也不存在樣品消耗
6) 為每位客戶制定詳細的年度維護及預(yù)防性維修方案，保證設(shè)備*連續(xù)可靠運行，真正實現(xiàn)極低的使用和維護成本
7) 便捷的操作和維護
Polytec近紅外光譜儀系統(tǒng)PSS應(yīng)用
1) 固體（如散裝貨物 ，粉末 ，紙張或紡織品）
2) 流體（例如液體 ，懸浮液 ，擴散和粘性介質(zhì)）
3) 氣體（如氣溶膠或煙霧）
4) 非接觸式探頭用于遠距離測量的反射探頭（ 傳送帶、網(wǎng)狀應(yīng)用等等 ）
5) 接觸式探頭用于近距離或與樣品直接接觸（ 管道，滑槽，漏斗等 ）測量
6) 青貯玉米檢測
7) 飼料檢測
8) 食品
9) 制藥
10) 工業(yè)在線質(zhì)控
11) 產(chǎn)品篩選（例如按照顆粒大小分類，或按照成分不同進行分類）
12) 膜層厚度測量
可選配置
型號：PSS 1720
光譜范圍：850 – 1650 nm
檢測器：InGaAs
像素：256
分辨率：<6.4 nm或<9.5 nm
型號：PSS 1750
光譜范圍：850 – 1650 nm
檢測器：InGaAs
像素：512
分辨率：<3.2 nm或<4.8 nm
型號：PSS 2120
光譜范圍：1100 – 2100 nm
檢測器：InGaAs
像素：256
分辨率：<7.9 nm或<11.9 nm
型號：PSS 2220
光譜范圍：1200 – 2200 nm
檢測器：InGaAs
像素：256
分辨率：256 <7.9 nm或<11.9 nm
配套附件
1) 多探頭光學切換模塊
2) 直線型單光纖光纜
3) 探頭電源和控制電纜
4) 探頭支架
5) 旋轉(zhuǎn)臺
技術(shù)原理
與常用的化學分析方法不同，近紅外光譜分析法是一種間接分析技術(shù)，是用統(tǒng)計的方法在樣品待測屬性值與近紅外光譜數(shù)據(jù)之間建立一個關(guān)聯(lián)模型（或稱校正模型，Calibration Model）。近紅外光譜法是利用含有氫基團（X-H，X為：C，O，N，S 等）化學鍵(X-H)伸縮振動倍頻和合頻，在近紅外區(qū)的吸收光譜，通過選擇適當?shù)幕瘜W計量學多元校正方法，把校正樣品的近紅外吸收光譜與其成分濃度或性質(zhì)數(shù)據(jù)進行關(guān)聯(lián)，建立校正樣品吸收光譜與其成分濃度或性質(zhì)之間的關(guān)系（校正模型）。在進行未知樣品預(yù)測時，應(yīng)用已建好的校正模型和未知樣品的吸收光譜，就可定量預(yù)測其成分濃度或性質(zhì)。
