Hioki FA1240-5X說(shuō)明

1.FA1240-5X是一種靜態(tài)在線飛針測(cè)試機(jī), 

基本測(cè)試內(nèi)容同治具型ICT大致相同, 但由于測(cè)試探針為任意移動(dòng)型,且各針之間間距極小(zui小為0.2mm),故可對(duì)極小的表面貼裝元件(zui小如01005, 公制0201))進(jìn)行測(cè)試,克服一般治具型ICT因針間距限制而無(wú)法布針的缺陷.,提高測(cè)試精度,無(wú)需治具故可隨時(shí)對(duì)應(yīng)更換料號(hào), 同種料號(hào)的設(shè)計(jì)改版等, FA1240-5X適用于精細(xì)元件貼裝測(cè)試,樣板, 多品種等靈活測(cè)試要求. 

2.FA1240-5X具體可對(duì)SMT板提供如下測(cè)試方案:

(1) 各種表面貼裝及插入式元器件測(cè)試
電阻,電容,電感的實(shí)際值測(cè)試(同標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格值有無(wú)偏差,有無(wú)漏裝,裝錯(cuò))
二極管的VF特性, 穩(wěn)壓二極管測(cè)試,通三極管的各極之間的二極管特性(C-B,B-E)測(cè)試, 數(shù)字式三極管的E-C間電壓測(cè)試,B-E或B-C之間電阻測(cè)試, 光電耦合測(cè)試,
FET(場(chǎng)效應(yīng)管)各極之間的二極管特性測(cè)試
(2) IC及接插間引腳間橋接測(cè)試
(3) IC引腳同焊盤(pán)間的虛焊測(cè)試(用4線式低阻測(cè)試方式)
(4) 元器件各引腳之間的Open/Short測(cè)試
(5) 適用標(biāo)配CCD鏡頭可進(jìn)行簡(jiǎn)易AOI測(cè)試,對(duì)因回路構(gòu)成使無(wú)法進(jìn)行電氣測(cè)試的元器件是否漏裝,偏斜,反裝進(jìn)行確認(rèn)
(6) 配備選項(xiàng)可進(jìn)行FET的動(dòng)作確認(rèn), relay(繼電器ON狀態(tài)下的接點(diǎn)電阻測(cè)試)

3.FA1240-5Xzui大可測(cè)板510 x 460mm, zui高測(cè)試速度每秒40步（在測(cè)試IC引腳間是否橋接時(shí)，一般元器件測(cè)試為20-30步左右）

4.FA1240-5X配備標(biāo)準(zhǔn)4端子微小電阻測(cè)試功能，對(duì)傳統(tǒng)電測(cè)因?qū)嶋H電氣導(dǎo)通而無(wú)法測(cè)出的IC引腳同焊盤(pán)間虛焊的潛在不良能精確測(cè)出。此種虛焊在一般的出廠測(cè)試時(shí)，會(huì)因IC引腳同焊盤(pán)并非*脫離而使測(cè)試的電流信號(hào)通過(guò)從而被判定為良品。但隨時(shí)間的經(jīng)時(shí)變化，振動(dòng)，溫濕度的改變可能會(huì)導(dǎo)致*脫離，而使工作信號(hào)傳輸中斷。由于此種狀態(tài)的虛焊同正常的焊接連通狀態(tài)的電阻差異極小，故必須通過(guò)特殊的4端子微小電阻測(cè)試功能來(lái)排除探針接觸電阻及機(jī)器內(nèi)阻等一切可能影響測(cè)試的外在因素。

5.飛針測(cè)試儀FA1240-5X標(biāo)準(zhǔn)配置鏡頭自動(dòng)對(duì)位功能可以克服傳統(tǒng)針床測(cè)試因基板脹縮變形，元器件貼裝位置偏移及精細(xì)節(jié)距無(wú)法布針的缺陷，實(shí)現(xiàn)精確的電氣接觸測(cè)試。
    
6.元器件值測(cè)試，IC引腳間短路等測(cè)試可使用contact probe,FA1240-5X 測(cè)點(diǎn)間zui小間距可達(dá)0.2mm ，4端子微小電阻測(cè)試用4-terminal probe時(shí)zui小間距為0.5mm

7.HIOKI（日置）FA1240-5X可使用標(biāo)準(zhǔn)配置自動(dòng)對(duì)位用CCD鏡頭對(duì)因電路構(gòu)造而無(wú)法進(jìn)行電氣測(cè)試的元器件進(jìn)行圖像檢查,大幅度減輕目視檢查的負(fù)擔(dān)。使用此圖像檢查功能,可對(duì)微小元器件的有無(wú)貼裝,極性反向及位置偏移等進(jìn)行檢查。選用元器件位置對(duì)位鏡頭還可對(duì)微小元器件的IC位置進(jìn)行檢查。

8.日置FA1240-5X標(biāo)準(zhǔn)配置探針軟著陸功能。在探針接觸到測(cè)點(diǎn)前的瞬間突然減速，zui大程度的緩和對(duì)被測(cè)板的沖擊力，結(jié)合探針*行程調(diào)整來(lái)保護(hù)元器件不對(duì)其構(gòu)成損傷。

9.FA1240-5X飛針測(cè)試儀可根據(jù)客戶特殊要求可選配上下料系統(tǒng)，反轉(zhuǎn)機(jī)及條碼識(shí)別器，構(gòu)筑自動(dòng)測(cè)試線,提高測(cè)試效率，減少人為失誤及縮減人工成本。

10.FA1240-5X可根據(jù)實(shí)際電路構(gòu)成，元器件測(cè)試時(shí)zui多可使用兩只探針進(jìn)行g(shù)uarding

10.HIOKI日置FA1240-5X測(cè)試程序生成所需資料及步驟    
Gerber數(shù)據(jù)（一般由PCB廠家提供或有CAD數(shù)據(jù)輸出）
BOM表 (有元器件名稱(chēng)及規(guī)格值)
Mount data (貼片機(jī)數(shù)據(jù)，標(biāo)有元件中心坐標(biāo)，角度等)
PASS板(經(jīng)功能測(cè)試或其它方法確認(rèn)之良品板,做測(cè)試程序時(shí)用做學(xué)習(xí)基準(zhǔn)值和程序修正用)
電路圖(用做debug,程序修正參考)

11. HIOKI日置飛針測(cè)試儀FA1240-5X同其他同等設(shè)備供應(yīng)商的比較：
測(cè)試速度的優(yōu)勢(shì)
對(duì)于虛焊測(cè)試的解決方案：同軸構(gòu)造的4端子測(cè)試針，微小電阻的測(cè)試能力。實(shí)際使用2只測(cè)試針來(lái)完成4只針的工作，這樣可保證在狹小區(qū)域內(nèi)對(duì)引腳的電氣接觸。
除標(biāo)準(zhǔn)的CCD鏡頭對(duì)整板進(jìn)行位置補(bǔ)償，還配備元器件位置偏移補(bǔ)償鏡頭，對(duì)較大的IC進(jìn)行特殊方式的位置補(bǔ)償。
80余年的儀表測(cè)量技術(shù)為ICT的元器件測(cè)試提供充分的技術(shù)保障。結(jié)合設(shè)備的機(jī)械結(jié)構(gòu)保證高速，高精度測(cè)試。