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MASK 檢測(cè)
Mask的制造和使用環(huán)節(jié)均需要檢測(cè)，STORM 系列掩膜檢測(cè)方案可以有效進(jìn)行Mask Shop 的Die 2 DB 檢測(cè)， Fab 廠(chǎng)的haze 和reticle 顆粒檢測(cè)，同時(shí)Nebula 量測(cè)系統(tǒng)可以針對(duì)mask 生產(chǎn)中CD的控制
晶圓
薄膜電路
針對(duì)陶瓷射頻電路上的圖形，在表面金屬顆粒高噪聲情況下進(jìn)行圖形檢測(cè)，替代人工目檢。TORNADO 系列專(zhuān)有的圖象處理技術(shù)可以有效解決金屬噪聲問(wèn)題，提升檢測(cè)的精度。
光器件
光學(xué)器件的蓬勃發(fā)展尤其是DOE 器件和光通訊器件，廣泛應(yīng)用于3D 深度感知，維普光電的TORNADO 1000 系列可以針對(duì)DOE 器件的表面檢測(cè)和光通訊器件的檢測(cè)。同時(shí)針對(duì)納米壓印Nanoimprint 技術(shù)產(chǎn)生的表面缺陷和圖形尺寸變形進(jìn)行量測(cè)和檢測(cè)。有效提升DOE 器件的良率。
化合物半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體是第三代新型半導(dǎo)體，有著高電子遷移率；5G，航天領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。 GaN，GaAs外延片在生長(zhǎng)過(guò)程中產(chǎn)生的缺陷，維普光電Tornado 2000S 設(shè)備主要解決外延片生產(chǎn)良率控制。
設(shè)備原理：
采用CCD-AI影像控制系統(tǒng)作為主控單元，利用位移、視覺(jué)傳感技術(shù)對(duì)產(chǎn)品圖像進(jìn)行判別，根據(jù)設(shè)置的電容電阻參數(shù)，自動(dòng)完成上料、檢測(cè)、判別，最后自動(dòng)篩選出良品與不良品。
設(shè)備特點(diǎn)：
● 非標(biāo)定制，滿(mǎn)足用戶(hù)的不同需求
● 全自動(dòng)CCD視覺(jué)檢測(cè)，代替人工檢測(cè)，降低人工檢測(cè)成本
● 99%檢測(cè)合格率
● 檢測(cè)精度高，檢測(cè)精度±0.005mm
● 檢測(cè)項(xiàng)目多，檢測(cè)范圍廣
埃法智能全新一代工業(yè)AI智能視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，通過(guò)用戶(hù)樣本數(shù)據(jù)的訓(xùn)練對(duì)模型進(jìn)行定制優(yōu)化，從而適配用戶(hù)實(shí)際使用場(chǎng)景。
當(dāng)算法模型與生產(chǎn)線(xiàn)或生產(chǎn)環(huán)境中的檢測(cè)/采集設(shè)備集成，就可實(shí)現(xiàn)在生產(chǎn)過(guò)程中以計(jì)算機(jī)視覺(jué)代替人工進(jìn)行質(zhì)量、安全、完整性等檢測(cè)工作。
基于計(jì)算機(jī)智能視覺(jué)不間斷、不疲勞的特性在檢測(cè)方面提供遠(yuǎn)高于人工的效率和準(zhǔn)確性，與制造商、生產(chǎn)設(shè)備商一起降低工業(yè)生產(chǎn)成本提升產(chǎn)能。
X智能視覺(jué)檢測(cè)產(chǎn)品特點(diǎn)
ALFA-X打破以往視覺(jué)檢測(cè)的封閉環(huán)境，無(wú)需編程。按照軟件“傻瓜式”提示即可完成樣板學(xué)習(xí)并執(zhí)行識(shí)別任務(wù)，上手簡(jiǎn)單?？蛻?hù)可根據(jù)需要教會(huì)ALFA-X來(lái)完成復(fù)雜的識(shí)別任務(wù)。
精準(zhǔn)定位與精確分類(lèi)，系統(tǒng)準(zhǔn)確率可高于99%。ALFA-X可對(duì)位置做亞像元級(jí)實(shí)時(shí)定位，通過(guò)智能識(shí)別，可同時(shí)區(qū)分多達(dá)1000種不同部件。
ALFA-X應(yīng)用非常廣泛。在3C制造領(lǐng)域，可應(yīng)用于手機(jī)殼、手機(jī)輔料、電路板、屏幕、電子物料等元件的檢測(cè)問(wèn)題；在五金、食品、包裝、汽車(chē)等領(lǐng)域也可廣泛應(yīng)用。
ALFA-X系統(tǒng)兼容性很強(qiáng)?？蓡为?dú)運(yùn)行于Win7/10/11及以上平臺(tái)，只需額外配置NVIDIA獨(dú)顯支持。搭配埃法智能專(zhuān)屬機(jī)器視覺(jué)套件，產(chǎn)品可集成為高效的機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)，解決更多客戶(hù)需求。
X智能視覺(jué)檢測(cè)功能特點(diǎn)
智能輔助標(biāo)注
圖像樣本標(biāo)注不僅大量消耗人力成本且標(biāo)注質(zhì)量極大影響訓(xùn)練結(jié)果。ALFA-X產(chǎn)品通過(guò)人工標(biāo)注的少量樣本即時(shí)對(duì)模型進(jìn)行訓(xùn)練，以模型預(yù)測(cè)的方式對(duì)樣本進(jìn)行自動(dòng)標(biāo)注，并將需要人工校正的樣本推薦給標(biāo)注人員，通過(guò)迭代訓(xùn)練快速準(zhǔn)確地完成標(biāo)注工作。
分布式云訓(xùn)練
基于深度學(xué)習(xí)的工業(yè)視覺(jué)智能算法模型的訓(xùn)練優(yōu)化需要大量的數(shù)據(jù)（不僅有您提供的樣本數(shù)據(jù)也有華為云提供的基準(zhǔn)訓(xùn)練集），而工業(yè)場(chǎng)景中模型更新與迭代的速度直接影響生產(chǎn)線(xiàn)效力。我們通過(guò)分布式云訓(xùn)練框架大大縮短模型優(yōu)化所需的時(shí)間。
智能樣本評(píng)估
工業(yè)場(chǎng)景中標(biāo)注在樣本上的分布往往極不均勻，進(jìn)而影響訓(xùn)練的結(jié)果及模型的性能。ALFA-X產(chǎn)品通過(guò)樣本智能評(píng)估，對(duì)每個(gè)標(biāo)簽的樣本數(shù)及訓(xùn)練集與驗(yàn)證集的智能自動(dòng)拆分，圍繞著訓(xùn)練目標(biāo)的發(fā)揮樣本的價(jià)值。
多維模型評(píng)估
提供豐富的圖型指標(biāo)方便客戶(hù)對(duì)模型整體性能及某個(gè)標(biāo)簽上的性能進(jìn)行量化評(píng)估。同時(shí)將預(yù)測(cè)結(jié)果與原始標(biāo)注在樣本上進(jìn)行對(duì)比呈現(xiàn)，對(duì)訓(xùn)練的效果及模型的能力提供直觀的展示。
MASK 檢測(cè)
Mask的制造和使用環(huán)節(jié)均需要檢測(cè)，STORM 系列掩膜檢測(cè)方案可以有效進(jìn)行Mask Shop 的Die 2 DB 檢測(cè)， Fab 廠(chǎng)的haze 和reticle 顆粒檢測(cè)，同時(shí)Nebula 量測(cè)系統(tǒng)可以針對(duì)mask 生產(chǎn)中CD的控制
晶圓
薄膜電路
針對(duì)陶瓷射頻電路上的圖形，在表面金屬顆粒高噪聲情況下進(jìn)行圖形檢測(cè)，替代人工目檢。TORNADO 系列專(zhuān)有的圖象處理技術(shù)可以有效解決金屬噪聲問(wèn)題，提升檢測(cè)的精度。
光器件
光學(xué)器件的蓬勃發(fā)展尤其是DOE 器件和光通訊器件，廣泛應(yīng)用于3D 深度感知，維普光電的TORNADO 1000 系列可以針對(duì)DOE 器件的表面檢測(cè)和光通訊器件的檢測(cè)。同時(shí)針對(duì)納米壓印Nanoimprint 技術(shù)產(chǎn)生的表面缺陷和圖形尺寸變形進(jìn)行量測(cè)和檢測(cè)。有效提升DOE 器件的良率。
化合物半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體是第三代新型半導(dǎo)體，有著高電子遷移率；5G，航天領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。 GaN，GaAs外延片在生長(zhǎng)過(guò)程中產(chǎn)生的缺陷，維普光電Tornado 2000S 設(shè)備主要解決外延片生產(chǎn)良率控制。
設(shè)備原理：
采用CCD-AI影像控制系統(tǒng)作為主控單元，利用位移、視覺(jué)傳感技術(shù)對(duì)產(chǎn)品圖像進(jìn)行判別，根據(jù)設(shè)置的電容電阻參數(shù)，自動(dòng)完成上料、檢測(cè)、判別，最后自動(dòng)篩選出良品與不良品。
設(shè)備特點(diǎn)：
● 非標(biāo)定制，滿(mǎn)足用戶(hù)的不同需求
● 全自動(dòng)CCD視覺(jué)檢測(cè)，代替人工檢測(cè)，降低人工檢測(cè)成本
● 99%檢測(cè)合格率
● 檢測(cè)精度高，檢測(cè)精度±0.005mm
● 檢測(cè)項(xiàng)目多，檢測(cè)范圍廣
埃法智能全新一代工業(yè)AI智能視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，通過(guò)用戶(hù)樣本數(shù)據(jù)的訓(xùn)練對(duì)模型進(jìn)行定制優(yōu)化，從而適配用戶(hù)實(shí)際使用場(chǎng)景。
當(dāng)算法模型與生產(chǎn)線(xiàn)或生產(chǎn)環(huán)境中的檢測(cè)/采集設(shè)備集成，就可實(shí)現(xiàn)在生產(chǎn)過(guò)程中以計(jì)算機(jī)視覺(jué)代替人工進(jìn)行質(zhì)量、安全、完整性等檢測(cè)工作。
基于計(jì)算機(jī)智能視覺(jué)不間斷、不疲勞的特性在檢測(cè)方面提供遠(yuǎn)高于人工的效率和準(zhǔn)確性，與制造商、生產(chǎn)設(shè)備商一起降低工業(yè)生產(chǎn)成本提升產(chǎn)能。
X智能視覺(jué)檢測(cè)產(chǎn)品特點(diǎn)
ALFA-X打破以往視覺(jué)檢測(cè)的封閉環(huán)境，無(wú)需編程。按照軟件“傻瓜式”提示即可完成樣板學(xué)習(xí)并執(zhí)行識(shí)別任務(wù)，上手簡(jiǎn)單。客戶(hù)可根據(jù)需要教會(huì)ALFA-X來(lái)完成復(fù)雜的識(shí)別任務(wù)。
精準(zhǔn)定位與精確分類(lèi)，系統(tǒng)準(zhǔn)確率可高于99%。ALFA-X可對(duì)位置做亞像元級(jí)實(shí)時(shí)定位，通過(guò)智能識(shí)別，可同時(shí)區(qū)分多達(dá)1000種不同部件。
ALFA-X應(yīng)用非常廣泛。在3C制造領(lǐng)域，可應(yīng)用于手機(jī)殼、手機(jī)輔料、電路板、屏幕、電子物料等元件的檢測(cè)問(wèn)題；在五金、食品、包裝、汽車(chē)等領(lǐng)域也可廣泛應(yīng)用。
ALFA-X系統(tǒng)兼容性很強(qiáng)?？蓡为?dú)運(yùn)行于Win7/10/11及以上平臺(tái)，只需額外配置NVIDIA獨(dú)顯支持。搭配埃法智能專(zhuān)屬機(jī)器視覺(jué)套件，產(chǎn)品可集成為高效的機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)，解決更多客戶(hù)需求。
X智能視覺(jué)檢測(cè)功能特點(diǎn)
智能輔助標(biāo)注
圖像樣本標(biāo)注不僅大量消耗人力成本且標(biāo)注質(zhì)量極大影響訓(xùn)練結(jié)果。ALFA-X產(chǎn)品通過(guò)人工標(biāo)注的少量樣本即時(shí)對(duì)模型進(jìn)行訓(xùn)練，以模型預(yù)測(cè)的方式對(duì)樣本進(jìn)行自動(dòng)標(biāo)注，并將需要人工校正的樣本推薦給標(biāo)注人員，通過(guò)迭代訓(xùn)練快速準(zhǔn)確地完成標(biāo)注工作。
分布式云訓(xùn)練
基于深度學(xué)習(xí)的工業(yè)視覺(jué)智能算法模型的訓(xùn)練優(yōu)化需要大量的數(shù)據(jù)（不僅有您提供的樣本數(shù)據(jù)也有華為云提供的基準(zhǔn)訓(xùn)練集），而工業(yè)場(chǎng)景中模型更新與迭代的速度直接影響生產(chǎn)線(xiàn)效力。我們通過(guò)分布式云訓(xùn)練框架大大縮短模型優(yōu)化所需的時(shí)間。
智能樣本評(píng)估
工業(yè)場(chǎng)景中標(biāo)注在樣本上的分布往往極不均勻，進(jìn)而影響訓(xùn)練的結(jié)果及模型的性能。ALFA-X產(chǎn)品通過(guò)樣本智能評(píng)估，對(duì)每個(gè)標(biāo)簽的樣本數(shù)及訓(xùn)練集與驗(yàn)證集的智能自動(dòng)拆分，圍繞著訓(xùn)練目標(biāo)的發(fā)揮樣本的價(jià)值。
多維模型評(píng)估
提供豐富的圖型指標(biāo)方便客戶(hù)對(duì)模型整體性能及某個(gè)標(biāo)簽上的性能進(jìn)行量化評(píng)估。同時(shí)將預(yù)測(cè)結(jié)果與原始標(biāo)注在樣本上進(jìn)行對(duì)比呈現(xiàn)，對(duì)訓(xùn)練的效果及模型的能力提供直觀的展示。
