產(chǎn)品名稱:聰能電路在線維修測(cè)試儀
	產(chǎn)品型號(hào):CFTsysIII便攜式一體機(jī)

一、基本配置參數(shù)：

筆記本電腦：主頻：1000MHZ、內(nèi)存：128M、硬盤(pán)：40G、光驅(qū)：CD-R 48X、顯示屏：15LCD、
存儲(chǔ)示波器：并行雙通道+ 外觸發(fā)、模擬帶寬：20MHZ、采樣速率：60MHZ/CH、存儲(chǔ)深度：4000點(diǎn)/CH、預(yù)觸發(fā)長(zhǎng)度：256、512、1024點(diǎn)

二、環(huán)境要求：

• 溫度：0℃——40℃
• 相對(duì)濕度：20%——80%
• 電源：?jiǎn)蜗?20V ±10%，50HZ

三、主要技術(shù)指標(biāo)：

1．測(cè)試儀內(nèi)置高性能CPU控制電路:
        a．單片機(jī)：16位（XA系列）
        b．RAM：64KB
        c．EPROM：16KB
        d．并口：CENTRONICS標(biāo)準(zhǔn)
避免了WINDOWS的分時(shí)特性給測(cè)試帶來(lái)的影響,保證了測(cè)試儀的動(dòng)態(tài)測(cè)試指標(biāo),測(cè)試信號(hào)更穩(wěn)定更可靠；
2、 數(shù)字測(cè)試通道：48通道，支持驅(qū)動(dòng)閾值電平5V；
3、 集成運(yùn)放測(cè)試支持電源電壓：≤±28V；
4、 總線隔離專用數(shù)字通道：8通道，用來(lái)隔離掛在總線上的三態(tài)器件，避免產(chǎn)生總線競(jìng)爭(zhēng)，干擾測(cè)試；
5、 程控外供電源：+5V（自動(dòng)控制、自保護(hù)功能）；
6、 電源電壓及輸出電流：5V/4A；
7、 后驅(qū)動(dòng)電流：>200 mA;
8、 測(cè)試器件庫(kù):TTL54/74、CMOS40/45、RAM、EPROM、集成運(yùn)放、模擬開(kāi)關(guān)、電壓比較器、光電耦合器、俄羅斯庫(kù)、??西門 子庫(kù)；
9、 數(shù)字器件功能施加測(cè)試時(shí)間：<26 mS
10、 數(shù)字器件測(cè)試速度: 45KTV / S;
11、數(shù)字器件在線測(cè)試提取器件管腳狀態(tài):11種;
12、模擬測(cè)試通道：40通道，探棒2通道；
13、模擬信號(hào)掃描電壓幅度：±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào);
14、VI分辨率：8~128點(diǎn)/周期(用示波器可測(cè))；
15、輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選;
16、SA模擬特征分析測(cè)試坐標(biāo): 3種可選(VI /VT /VR);
17、模擬通道測(cè)試頻率: 16KHZ;
18、ASA(VI)測(cè)試頻率匹配:1HZ~16KHZ,共30檔可選;
19、脈沖發(fā)生器脈沖幅度：±1V~±28V;
20、脈沖發(fā)生器發(fā)生方式: 8種：
        ① P1方式：正的直流電平；
        ② P2方式：負(fù)的直流電平；
        ③ P1+方式：正脈沖，由0度開(kāi)始，寬度為N×1/64π；
        ④ P1-方式：負(fù)脈沖，由π開(kāi)始，寬度為N×1/64π；
        ⑤ P2+方式：正脈沖，結(jié)束于π，寬度為N×1/64π；
        ⑥ P2-方式：負(fù)脈沖，結(jié)束于2π，寬度為N×1/64π
        ⑦ P1+與P1-方式：P1+與P1-方式的組合；
        ⑧ P2+與P2-方式：P2+與P2-方式的組合。
注：寬度中的N≤64，可設(shè)置
21、ASA(VI)曲線分析測(cè)試全過(guò)程測(cè)試時(shí)間(以128點(diǎn)/周期40管腳器件單端口掃描為例): <１S；
22、電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值：25Ω±5Ω；
23、雙通道數(shù)字存儲(chǔ)示波器：模擬帶寬20MHZ；
24、采樣速率：60MHZ/CH；存儲(chǔ)深度4000點(diǎn)/CH；
二、 主要測(cè)試功能：
1、 程控電源輸出：
提供+5V測(cè)試電源，程控加電，擁有自動(dòng)保護(hù)功能，安全可靠，不用外接測(cè)試電源，使用方便；|
2機(jī)電式繼電器輸出控制：
采用安全可靠的機(jī)電式繼電器，與光電式比較，接觸電阻更小，約0.01~0.02Ω，其百萬(wàn)次量級(jí)的使用壽命，幾百毫秒的動(dòng)作時(shí)間足以滿足實(shí)際應(yīng)用要求。
3. 數(shù)字邏輯器件在線功能測(cè)試：
能夠?qū)?V數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線功能測(cè)試；測(cè)試器件庫(kù)龐大（僅邏輯數(shù)字器件就1 萬(wàn)多種）；測(cè)試范圍廣：TTL54/74、CMOS40/45、俄羅斯器件庫(kù)、西門子器件庫(kù).
4．?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試：
能夠提取復(fù)雜的電路在線狀態(tài)：11種，如開(kāi)路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài)，所以，對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng)，低檔測(cè)試儀一般只能識(shí)別2-3種 。此功能采用學(xué)習(xí)、比較的測(cè)試方式；
5． 動(dòng)態(tài)總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能：
用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)；
6． IC型號(hào)識(shí)別：
針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試，測(cè)試結(jié)果打印出器件型號(hào)；對(duì)識(shí)別后的器件還可直接進(jìn)行功能測(cè)試加以驗(yàn)證；
7． 器件“離線”功能測(cè)試；
所有庫(kù)器件都可進(jìn)行“離線”功能測(cè)試，如：5V數(shù)字邏輯器件、存儲(chǔ)器、集成運(yùn)放、光電耦合器等器件；
8． LSI大規(guī)模集成電路在線功能測(cè)試：
可對(duì)：Z80、8255、等器件進(jìn)行功能測(cè)試；
9． LSI大規(guī)模集成電路在線狀態(tài)分析測(cè)試；
可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行狀態(tài)分析測(cè)試；
10．SRAM / DRAM讀寫(xiě)存儲(chǔ)器在線測(cè)試；
直接檢測(cè)存儲(chǔ)器芯片的好壞，該測(cè)試無(wú)需事先學(xué)習(xí)，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，可采用在線、離線測(cè)試方式
11．EPROM在線直接讀取/比較測(cè)試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
12．器件循環(huán)測(cè)試功能：
該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、存儲(chǔ)器、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）；
13．測(cè)試夾自動(dòng)定位功能：
該功能可以將測(cè)試夾以正、反方向，對(duì)齊或不對(duì)齊腳的方式夾在被測(cè)器件上而不影響測(cè)試結(jié)果，利于提高測(cè)試速度；
14.數(shù)字邏輯器件在線測(cè)試速度可選：
為了保證器件測(cè)試的準(zhǔn)確性、降低誤判率，滿足不同器件對(duì)測(cè)試速度指標(biāo)的不同要求，而設(shè)置了速度可選項(xiàng)；如：對(duì)負(fù)載能力弱的CMOS器件應(yīng)選較低速度測(cè)試，一些集成度高、編程復(fù)雜的器件必須選擇較高速度測(cè)試。
15．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。 閾值電平的選取要與被測(cè)器件的類型相一致；在邏輯器件測(cè)試時(shí)，有時(shí)會(huì)遇到用閾值電平緊測(cè)試不通過(guò)，而用閾值電平松就能通過(guò)的現(xiàn)象，一般是器件的部分參數(shù)發(fā)生了變化，如驅(qū)動(dòng)能力下降；
16．加電延遲可選功能：
被測(cè)電路板上的電源、地之間有濾波電容。濾波電容越大，充電時(shí)間越長(zhǎng)。該選擇是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。缺省為0.5秒；
17．測(cè)試夾接觸檢查功能：
該項(xiàng)功能主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不良時(shí)，造成的測(cè)試誤判，如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等；
18．瞬時(shí)復(fù)位電路控制功能：
當(dāng)測(cè)試儀突然掉電，又突然上電的情況下，不會(huì)造成測(cè)試儀內(nèi)部狀態(tài)混亂而帶來(lái)安全性問(wèn)題；
19．集成運(yùn)放在線功能測(cè)試（運(yùn)放測(cè)試技術(shù)獲國(guó)家發(fā)明）：
使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種，支持多種封裝形式：如雙列直插、圓形、表面貼等。與把運(yùn)放作為數(shù)字器件測(cè)試相比較，此方法更科學(xué)，結(jié)果更準(zhǔn)確。
20．集成運(yùn)放在線狀態(tài)測(cè)試：
采用學(xué)習(xí)、存儲(chǔ)、比較的測(cè)試方式；
21．光電耦合器在線功能測(cè)試：
由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確；低檔測(cè)試儀采用電壓激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性不高。
22、有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù)，達(dá)500多種；
23．光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試：
可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)、輸入開(kāi)啟電壓、等），解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；
24．聰能自定義功能測(cè)試平臺(tái)：
把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)器件自行定義測(cè)試代碼，可以進(jìn)行功能測(cè)試，前提是用戶需要對(duì)器件工作原理有一定的了解，或有被測(cè)器件的使用資料，適合有圖紙資料情況下的開(kāi)發(fā)工作；
25．電路板網(wǎng)絡(luò)提取/比較測(cè)試；
使用模擬信號(hào)提取器件之間的連線關(guān)系，測(cè)試時(shí)無(wú)須加電，通/斷閾值設(shè)置明確，測(cè)試完成后可以Protel網(wǎng)絡(luò)表形式顯示，適合反演電路圖；
26．填表方式擴(kuò)充集成運(yùn)放測(cè)試器件庫(kù)：
以填表的方式定義運(yùn)放的各個(gè)管腳狀態(tài)：如：同向輸入、反向輸入、輸出、正電源、負(fù)電源、接地腳，以及其他狀態(tài)等
27．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)：
采用HNDDL語(yǔ)言（天惠電子自主開(kāi)發(fā)的用于描述邏輯過(guò)程的專用語(yǔ)言，擁有自己的版權(quán)），自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)；
28．ASA（VI）模擬特征分析測(cè)試：
通過(guò)對(duì)器件端口進(jìn)行模擬特征分析測(cè)試方式（VI曲線學(xué)習(xí)/比較測(cè)試），可以發(fā)現(xiàn)器件端口型的故障（一般能占到維修當(dāng)中的80%左右）適用于數(shù)字器件、模擬器件、模擬數(shù)字混合器件（如AD、DA等），對(duì)器件的封裝形式也不受限制，可適應(yīng)于對(duì)任何器件的測(cè)試；
29．ASA多種觀察坐標(biāo)顯示：
有三種顯示方式：VI/VT/VR，一般用VI坐標(biāo)觀察曲線，有人習(xí)慣上把ASA也叫成VI測(cè)試；
30．單端口、多端口（交叉）VI曲線分析測(cè)試：
對(duì)器件采取單端口或多端口的測(cè)試方式；單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地提取一遍阻抗特性曲線，而多端口是以任一腳做參考提取一遍阻抗特性曲線；
31．ASA 曲線雙探棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試：
使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試；當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，此種方法；
32、ASA 曲線測(cè)試智能提醒功能：
當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí)，如果不超差，儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音，如果超差，則無(wú)報(bào)警提示，引起使用者注意，該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于萬(wàn)用表Beep的效果，提高了檢測(cè)效率，也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度；
33、ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào)：
當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí)，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線；該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率；
34、ASA 曲線掃描電壓可調(diào)：（示波器可測(cè)）
VI掃描電壓±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。低檔測(cè)試儀一般設(shè)定幾檔可選但不可調(diào)；
35、ASA 曲線測(cè)試頻率可調(diào)：（示波器可測(cè)）
VI測(cè)試頻率為1HZ-16KHZ,共30檔可選。低檔測(cè)試儀一般為設(shè)定不可調(diào)，或給不出頻率指標(biāo);v6、ASA 曲線測(cè)試輸出阻抗可選：
輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ四檔可選：
37、ASA 曲線快速診斷分析測(cè)試：
以40管腳VI曲線單端口測(cè)試為例，全過(guò)程測(cè)試時(shí)間< 1秒；如果進(jìn)行40管腳多端口（交叉）掃描測(cè)試，128點(diǎn)/周期，全程程測(cè)試時(shí)間也在10秒之內(nèi)；
38、可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù)：
可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線；大大提高了測(cè)試的靈活性；
39、ASA 曲線故障快速定位/查找功能：
當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí)，測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng)，使用戶觀察曲線更方便、更快捷、更直觀，測(cè)試效率更高；
40、三端器件測(cè)試功能：v完成對(duì)三端（含輸入/輸出）分立元件的動(dòng)態(tài)測(cè)試功能，如三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、繼電器等器件測(cè)試：
41、三端器件測(cè)試時(shí)8種觸發(fā)信號(hào)可選，以滿足不同器件的控制觸發(fā)要求：

七、隨機(jī)附件清單：

八、售后服務(wù)：

1．測(cè)試儀三年保修（人為損壞除外）；