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      FIB-SEM三束系統(tǒng) NX2000

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱柯岷國際貿(mào)易(上海)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地上海市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2024/6/18 10:19:43
      • 訪問次數(shù)125
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      總部:益弘儀器公司于1976年成立,代理電子顯微鏡已有40多年,經(jīng)驗(yàn)豐富、服務(wù)口碑頗佳。公司員工逾100位,電子顯微鏡部門維修服務(wù)人員超過40員,其中中國臺(tái)灣20多位,中國大陸20多位,如附表一。中國大陸柯岷國際貿(mào)易(上海)有限公司成立于2002年四月。 HHT日立柯岷公司負(fù)責(zé)中國區(qū)域的VIP客戶(例如:中芯國際,臺(tái)積電,英特爾集團(tuán)、美光集團(tuán)、三星集團(tuán),Hynix集團(tuán),日立集團(tuán),長(zhǎng)江存儲(chǔ)武漢新芯集團(tuán),晶合,睿力,格芯半導(dǎo)體(GLOBALFOUNDRIES);日月光集團(tuán),富士通集團(tuán),江蘇長(zhǎng)電科技;LG集團(tuán),友達(dá)集團(tuán),群創(chuàng)集團(tuán),三星集團(tuán),信利集團(tuán);廣達(dá)集團(tuán),富士康集團(tuán),華碩集團(tuán),滬士電子,欣興集團(tuán),健鼎集團(tuán),南亞集團(tuán)……),應(yīng)廣大的臺(tái)資外資,半導(dǎo)體,光電企業(yè)與電子相關(guān)企業(yè)在中國大陸投產(chǎn)使用電子顯微鏡售后服務(wù)迫切需求,2002年Hitachi特別委由中國臺(tái)灣益弘儀器公司在中國名為柯岷公司負(fù)責(zé)該區(qū)域與售后服務(wù)。十九年多來與臺(tái)資、外資電子,光電相關(guān)企業(yè)使用Hitachi電子顯微鏡客戶與柯岷公司建立良好的互動(dòng)關(guān)系,客戶對(duì)柯岷國際貿(mào)易(上海)有限公司負(fù)責(zé)Hitachi電子顯微鏡售后服務(wù)維修保養(yǎng)十分滿意。目前柯岷公司注冊(cè)于上海自由貿(mào)易區(qū),總部設(shè)在蘇州昆山地區(qū)?服務(wù)人員計(jì)有4位臺(tái)籍常駐干部,每位資歷都超過20年維修服務(wù)工作經(jīng)驗(yàn)。十幾位本國服務(wù)工程師維修服務(wù)團(tuán)隊(duì)陣容堅(jiān)強(qiáng),且均屬專業(yè)電子顯微鏡項(xiàng)目。
      研磨機(jī)(研磨儀)
      在設(shè)備及高性能納米材料的評(píng)價(jià)和分析領(lǐng)域,F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來,目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。日立高新公司,整合了高性能FIB技術(shù)和高分辨SEM技術(shù),再加上加工方向控制技術(shù)以及Triple Beam®*1(選配)技術(shù),推出了新一代產(chǎn)品NX2000。
      FIB-SEM三束系統(tǒng) NX2000 產(chǎn)品信息

      ◆ 運(yùn)用高對(duì)比度,實(shí)時(shí)SEM觀察和加工終點(diǎn)檢測(cè)功能,可制備厚度小于20 nm的超薄樣品

      日立掃描電子顯微鏡

      FIB加工時(shí)的實(shí)時(shí)SEM觀察*2例

      樣品:NAND閃存

      加速電壓:1 kV

      FOV:0.6 µm


      ◆ 加工方向控制技術(shù)(Micro-sampling®*3系統(tǒng)(選配)+高精度/高速樣品臺(tái)*)對(duì)于抑制窗簾效應(yīng)的產(chǎn)生,以及制作厚度均一的薄膜類樣品給予厚望。

      日立掃描電子顯微鏡     日立掃描電子顯微鏡

                        加工方向控制                                      常規(guī)加工時(shí)


      ◆ Triple Beam®*1(選配)可提高加工效率,并能使消除FIB損傷自動(dòng)化

      日立掃描電子顯微鏡

      EB:Electron Beam(電子束)

      FIB:Focused Ion Beam(聚焦離子束)

      Ar:Ar ion beam(Ar離子束)


      日立掃描電子顯微鏡

      選購件:

      image.png Ar/Xe離子束系統(tǒng)

      image.png Micro-sampling®*3系統(tǒng)

      image.png 缺陷檢測(cè)設(shè)備聯(lián)用軟件

      image.png CAD聯(lián)用導(dǎo)航軟件

      image.png EDS(能譜儀)

      image.png TEM樣品精加工向?qū)?/span>

      image.png TEM樣品厚度管理軟件

      image.png 連續(xù)A-TEM

      image.png 實(shí)時(shí)畫質(zhì)優(yōu)化系統(tǒng)

      image.png Swing加工功能(用于Triple Beam®*1)

      image.png 等離子清洗機(jī)

      image.png 真空轉(zhuǎn)移機(jī)構(gòu)

      image.png 冷臺(tái)


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