JY-CS310M 電化學工作站
產(chǎn)品介紹
CS電化學工作站采用全浮地式設(shè)計,具有出色的穩(wěn)定性和精確度,先進的硬件和功能完善的軟件,為涉及能源、材料、生命科學、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺。
(1)能源材料(鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等)、先進功能材料以及傳感器的性能研究;
(3)電合成、電沉積(電鍍)、陽極氧化、電解等反應(yīng)機理研究;
(4)金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價;
(5)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率的快速評價。
硬件特點
● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 內(nèi)置FRA頻響分析儀,頻率范圍 10μHz ~1MHz
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V
● 電流控制范圍:±2.0A
● 電位分辨率:10μV,電流分辨率:1pA(可延伸至100fA)
軟件特點
① 數(shù)據(jù)分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運算,計算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等;
極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學解析,計算Tafel斜率ba,bc,腐蝕電流密度icorr,極限擴散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等,還可由電化學噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實時存儲
CS Studio實時存儲測量數(shù)據(jù),即使因斷電導(dǎo)致測試中斷,中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。
③ 定時測量
CS Studio測試軟件具有定時測量功能, 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時,可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間,讓儀器在無人值守下自動定時測量,為實驗提供方便。
恒電位控制范圍:±10V | 恒電流控制范圍:±2.0A |
電位控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度:1pA |
電位上升時間:﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程:2nA~2A, 共10檔 |
參比電極輸入阻抗:1012Ω||20pF | 最大輸出電流:2.0A |
槽壓輸出:±21V | 電流掃描增量:1mA @1A/mS |
CV和LSV掃描速度:0.001mV~10000V/s | 電位掃描電位增量:0.076mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s | DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
SWV頻率:0.001~100KHz | CV的最小電位增量:0.020mV |
AD數(shù)據(jù)采集:16bit@3.6MHz,20bit @1KHz | 電流與電位量程:自動設(shè)置 |
DA分辨率:16bit,建立時間:1μS | 低通濾波器 :8段可編程 |
通訊接口:USB2.0、RJ45網(wǎng)口 | 儀器重量:7.6Kg |
外形尺寸(cm):36.4(W)*32.0(D)*13.8(H) |
電化學阻抗測量指標
信號發(fā)生器 | |
頻率響應(yīng):10μHz~1MHz | 交流信號幅值:1mV~2500mV |
頻率精確度:0.005% | 信號分辨率:0.1mV RMS |
DDS輸出阻抗:50Ω | 直流偏壓:-10V~+10V |
正弦波失真率:<1% | 波形:正弦波,三角波,方波 |
掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降 | |
信號分析器 | |
最大積分時間:106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲:0~105秒 |
最小積分時間:10mS 或者一個循環(huán)的最長時間 | |
直流偏置補償 | |
電位補償范圍:-10V~+10V | 電流補償范圍:-1A~+1A |
帶寬調(diào)整:自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào) |
配置
1)儀器主機1臺
2) CS Studio測試與分析軟件1套
3)模擬電解池1個
4)電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
5)電極電纜線1條
6)電腦(選配*)
功能方法 | CS300M | CS310M | CS350M | |
穩(wěn)態(tài)極化 | 開路電位(OCP) | ● | ● | ● |
恒電位極化(i-t曲線) | ● | ● | ● | |
恒電流極化 | ● | ● | ● | |
動電位掃描(Tafel曲線) | ● | ● | ● | |
動電流掃描(DGP) | ● | ● | ● | |
電位掃描-階躍 | ● | |||
暫態(tài)極化 | 任意恒電位階梯波 | ● | ● | ● |
任意恒電流階梯波 | ● | ● | ● | |
恒電位階躍(VSTEP) | ● | ● | ● | |
恒電流階躍(ISTEP) | ● | ● | ● | |
計時分析 | 計時電位法(CP) | ● | ● | ● |
計時電流法(CA) | ● | ● | ● | |
計時電量法(CC) | ● | ● | ● | |
伏安分析 | 線性掃描伏安(LSV) | ● | ● | ● |
線性循環(huán)伏安(CV) | ● | ● | ● | |
階梯循環(huán)伏安(SCV) | ● | ● | ||
方波伏安(SWV) | ● | ● | ||
差分脈沖伏安(DPV) | ● | ● | ||
常規(guī)脈沖伏安(NPV) | ● | ● | ||
差分常規(guī)脈沖伏安(DNPV) | ● | ● | ||
交流伏安(ACV) | ● | ● | ||
二次諧波交流伏安(SHACV) | ● | ● | ||
傅里葉變換交流伏安(FTACV) | ● | ● | ||
電流檢測 | 差分脈沖電流檢測(DPA) | ● | ||
雙差分脈沖電流檢測(DDPA) | ● | |||
三脈沖電流檢測(TPA) | ● | |||
積分脈沖電流檢測(IPAD) | ● | |||
溶出伏安 | 電位溶出分析(PSA) | ● | ● | |
線性掃描溶出伏安(LSSV) | ● | ● | ||
階梯溶出伏安(SCSV) | ● | ● | ||
方波溶出伏安(SWSV) | ● | ● | ||
差分脈沖溶出伏安(DPSV) | ● | ● | ||
常規(guī)脈沖溶出伏安(NPSV) | ● | ● | ||
差分常規(guī)脈沖溶出伏安(DNPSV) | ● | ● | ||
交流阻抗 | 頻率掃描-電位控制模式(EIS-V) | ● | ● | |
頻率掃描-電流控制模式(EIS-I) | ● | ● | ||
電位掃描(IMPE,Mott-Schotty) | ● | ● | ||
時間掃描-電位控制模式 | ● | ● | ||
時間掃描-電流控制模式 | ||||
充放電測試 | 電池充放電 | ● | ● | ● |
恒電流充放電(GCD) | ● | ● | ● | |
恒電位充放電 | ● | ● | ● | |
恒電位間歇滴定技術(shù)(PITT) | ● | ● | ● | |
恒電流間歇滴定技術(shù)(GITT) | ● | ● | ● | |
雙恒測量 | 氫擴散測試(HDT) | ● | ● | ● |
盤環(huán)電極測試 | ● | ● | ● | |
擴展測量 | 電化學噪聲(EN) | ● | ● | ● |
電偶腐蝕測量(ZRA) | ● | ● | ● | |
電化學溶解/沉積 | ● | ● | ● | |
控制電位電解庫倫法(BE) | ● | ● | ● | |
動電位再活化法(EPR) | ● | ● | ● | |
溶液電阻測量 | ● | ● | ● | |
循環(huán)極化曲線(CPP) | ● | ● | ● |