TOSL-3DS型熱釋光光釋光三維光譜儀適用于有關(guān)熒光體和磷光體等發(fā)光材料的發(fā)光特性和發(fā)光機(jī)理的科學(xué)研究工作。熱釋光和光釋光的三維發(fā)光譜,即包含溫度(或衰退時間)和波長與發(fā)光強(qiáng)度的三維圖譜的測定有助于識別發(fā)光中心的類型和了解相關(guān)的缺陷結(jié)構(gòu),為熱釋光和光釋光的發(fā)光機(jī)制研究提供新的參數(shù)。它以計(jì)算機(jī)為控制中心,測試過程實(shí)現(xiàn)自動化。儀器質(zhì)量可靠,造形美觀,使用方便,溫度控制穩(wěn)定精確,涉及多項(xiàng)技術(shù)。
主要技術(shù)性能:
l 熱釋光/光釋光三維光譜測量模式/熱釋光發(fā)光曲線測量模式
l 光譜測量采用高靈敏度CCD光譜測量系統(tǒng),波長測量范圍:300-850nm(可定制);
l 波長測量分辨率:1-10nm(取決于光柵和狹縫);
l 光電倍增管探測器:300-650nm;
l 探頭溫度控制(僅TOSL-3DS);
l 采用高穩(wěn)定性加熱器,溫度測量范圍:室溫-500℃,升溫速率:0-50℃/s,變化間隔0.1℃/s,溫度穩(wěn)定度:小于±1℃(60s連續(xù)觀測);
l 升溫程序分為3個階段:預(yù)熱、測量和退火,且每段溫度、時間、升溫速率都可調(diào);
l 樣品尺寸: 直徑小于10mm,厚度小于2mm;
l 光釋光測量模式:激發(fā)光源波長254nm、470nm、850nm、X射線可選;根據(jù)激發(fā)光源配用濾光片;
l 檢測光源:發(fā)光波長620nm左右,光功率可調(diào),調(diào)節(jié)范圍1-99%;用于儀器狀態(tài)的調(diào)整和測試;
l 儀器輸出數(shù)據(jù)格式:包含二進(jìn)制和文本格式,可供數(shù)據(jù)分析軟件進(jìn)一步分析;
l 控制軟件運(yùn)行環(huán)境:Windows XP、Windows7等操作系統(tǒng)。提供曲線查看,三維光譜顯示和升溫曲線顯示等功能;
l 儀器參數(shù)設(shè)置刻度:包括加熱系統(tǒng)和光譜系統(tǒng)的刻度參數(shù),不可隨意更改;
l 本底自動扣除功能,可以設(shè)定測量本底信號的時間;
l 數(shù)據(jù)和處理軟件可以輸出Excel表格,并可查閱和打印感興趣內(nèi)容。數(shù)據(jù)獲取和處理軟件也可以輸出擬合分析結(jié)果至ASCII文件,兼容其他分析作圖軟件;
l 輸入電源:AC220±10% 50/60Hz,功率500W。
CaSO4:Tm
CaSO4:Dy
MgSO4:Dy
TOSL-3DS型熱釋光光釋光三維光譜儀
LTTL-3DS 型多功能缺陷熒光光譜儀
SL08型 釋光測量儀