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      LTTL-3DS 型多功能缺陷熒光光譜儀/熱釋光/光釋光

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱北京熠新科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2023/7/25 7:46:03
      • 訪問次數(shù)231
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      北京熠新科技有限公司總部位于北京市海淀區(qū),是一家專注于高速信號(hào)采集和數(shù)據(jù)處理的高科技企業(yè)。公司集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和售后服務(wù)于一體,立足于成為的高速數(shù)據(jù)采集制造商和服務(wù)商。目前,公司擁有一支在高速數(shù)據(jù)采集卡和高速信號(hào)處理領(lǐng)域經(jīng)驗(yàn)豐富的專業(yè)技術(shù)和服務(wù)團(tuán)隊(duì),核心人員都有著多年的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)。同時(shí),我們與國外同行業(yè)企業(yè)保持密切的合作,引進(jìn)國外成熟產(chǎn)品和技術(shù),為國內(nèi)高速數(shù)據(jù)采集領(lǐng)域貢獻(xiàn)一份力量。 “專注所以專業(yè),用心創(chuàng)造價(jià)值”,熠新科技將與客戶深度合作,在實(shí)踐中踐行企業(yè)使命。為用戶提供高性價(jià)比且富有競爭力的解決方案,針對(duì)不同應(yīng)用,不同客戶量身打造,給予專屬的OEM/ODM方案。產(chǎn)品AD 數(shù)據(jù)采集卡采樣率從100KS/s-5GS/s,精度從8bit到16bit,單卡最多能到32個(gè)通道,通過板間同步技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)幾百個(gè)通道同步采集。采集卡形態(tài)種類非常豐富,有PCIe、PCI、PXI、PXIe、VPX、網(wǎng)線和光纖接口等,所有接口都是通用接口,能兼容市面上同種接口類型的機(jī)箱。 DA 數(shù)據(jù)回放卡更新率能到1.25GS/s,精度從8bit到16bit,單板最多支持4路同步回放,通過板間同步技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)幾百個(gè)通道同步回放信號(hào),DA數(shù)據(jù)回放卡形態(tài)種類非常豐富,有PCIe、PCI、PXI、PXIe以及網(wǎng)線接口等,所有接口都是通用接口,能兼容市面上同種接口類型的機(jī)箱。數(shù)字IO 卡采樣速率從幾十M到幾百M(fèi),能到720MB/s,單卡能現(xiàn)實(shí)8、16、32、64路信號(hào)的采集。也同樣有非常豐富的接口形態(tài)。正電子湮沒壽命譜儀是一種全新的數(shù)字正電子淹沒壽命譜儀,具備5種測量模式時(shí)間壽命模式、波形模式、能量模式、CDB(雙探頭符合多普勒擴(kuò)展譜)模式和AMOC(正電子壽命-動(dòng)量關(guān)聯(lián)譜)模式。應(yīng)用方向產(chǎn)品主要能應(yīng)用到激光測距、量子計(jì)算、雷達(dá)、軟件無線電、超聲成像、質(zhì)譜、核物理粒子物理、激光雷達(dá)、天文探測、光纖傳感、放電檢測和自動(dòng)化測試等方向。
      信號(hào)處理設(shè)備
      LTTL-3DS型多功能缺陷熒光光譜儀是測量固體發(fā)光材料三維光譜的測量裝置。熱釋光三維發(fā)光譜,即包含溫度和波長與發(fā)光強(qiáng)度的三維圖譜的測定有助于識(shí)別發(fā)光中心的類型和了解相關(guān)的缺陷結(jié)構(gòu),為了解熱釋光的發(fā)光機(jī)制研究提供更加豐富的參數(shù)。LTTSL-3DS型增加了激發(fā)光源,包括X射線、紫外光源和紅外光源等,以及制冷型高靈敏穩(wěn)定性探頭以提高三維光譜品質(zhì),也可以測量光激發(fā)下的材料發(fā)光譜。
      LTTL-3DS 型多功能缺陷熒光光譜儀/熱釋光/光釋光 產(chǎn)品信息

      LTTL-3DS型多功能缺陷熒光光譜儀是測量固體發(fā)光材料三維光譜的測量裝置。熱釋光三維發(fā)光譜,即包含溫度和波長與發(fā)光強(qiáng)度的三維圖譜的測定有助于識(shí)別發(fā)光中心的類型和了解相關(guān)的缺陷結(jié)構(gòu),為了解熱釋光的發(fā)光機(jī)制研究提供更加豐富的參數(shù)。LTTSL-3DS型增加了激發(fā)光源,包括X射線、紫外光源和紅外光源等,以及制冷型高靈敏穩(wěn)定性探頭以提高三維光譜品質(zhì),也可以測量光激發(fā)下的材料發(fā)光譜。

      儀器可以實(shí)現(xiàn)液氮溫度(80K)到高溫(773K)的溫度控制,能夠?qū)Πl(fā)光材料中的淺能級(jí)陷阱進(jìn)行分析,特別適合閃爍體、長余輝材料等發(fā)光材料的研究工作。儀器質(zhì)量可靠,造形美觀,使用方便,溫度控制穩(wěn)定精確,涉及多項(xiàng)技術(shù)。儀器采用了模塊化設(shè)計(jì),可根據(jù)用戶需求增減,可滿足不同層次的客戶需求。

      主要技術(shù)性能:

      l   實(shí)現(xiàn)多種測量模式:

      1)       熱釋光三維光譜

      2)       熱釋光發(fā)光曲線

      3)       光釋光三維光譜

      4)       光釋光發(fā)光曲線

      5)       輻射發(fā)光光譜測量

      6)       余輝衰減光譜測量

      7)       余輝衰減曲線測量

      8)       X射線熒光譜測量

      l   原位X射線、紫外光激發(fā)方式,X光管管電壓:0-50kV,管電流:0-200µA,參數(shù)可調(diào);

      l   光譜測量采用高靈敏度CCD光譜測量系統(tǒng),波長測量范圍:350-1000nm(可選配);

      l   波長測量分辨率:1-10nm(取決于光柵和狹縫);

      l   測量探頭:單光子PMT探測器,光譜響應(yīng)范圍300-650nm,計(jì)數(shù)率線性范圍大于2×106/s

      l   液氮制冷系統(tǒng);

      l   采用高穩(wěn)定性加熱器,溫度測量范圍:80K-773K,升溫速率范圍:0.1-5K/s,溫度穩(wěn)定度:小于±0.5K(60s連續(xù)觀測);

      l   可設(shè)置輻照激發(fā)、預(yù)熱、測量和退火等多種測量階段,每段溫度、時(shí)間、升溫速率都可調(diào);

      l   樣品尺寸: 直徑小于10mm,厚度小于1mm;

      l   可選配連續(xù)譜光源(選配單色儀,氙燈),可選不同波段激光光源;

      l   USB數(shù)據(jù)接口;

      l   儀器輸出數(shù)據(jù)格式:包含二進(jìn)制和文本格式,可供數(shù)據(jù)分析軟件進(jìn)一步分析;

      l   控制軟件運(yùn)行環(huán)境:Windows XP、Windows7等操作系統(tǒng)。提供曲線查看,三維光譜顯示和升溫曲線顯示等功能;

      l   儀器參數(shù)設(shè)置刻度:包括加熱系統(tǒng)和光譜系統(tǒng)的刻度參數(shù);

      l   本底自動(dòng)扣除功能,可以設(shè)定測量本底信號(hào)的時(shí)間;

      l   提供配套的熱釋光分析軟件,內(nèi)置熱釋光一級(jí)、二級(jí)、一般極動(dòng)力學(xué)模型,并可進(jìn)一步對(duì)發(fā)光曲線進(jìn)行擬合、解譜分析等;

      l   輸入電源:AC220±10% 50/60Hz,功率500W。


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