固體絕緣材料的介質(zhì)損耗角正切值 tanδ測試儀

1、硅橡膠材料介損測量原理：

介質(zhì)損耗因數(shù)是表征絕緣在交流電壓下?lián)p耗的特征參數(shù)，它與被測材料的外觀性狀和體積大小無關(guān)。固體絕緣材料的介質(zhì)損耗是由電導(dǎo)和極化兩個(gè)物理過程引起的，在交流電壓作用下，固體絕緣材料的介質(zhì)損耗不僅含有電導(dǎo)損耗，而且還要包括極化損耗。對于固體絕緣介質(zhì)來說，反映其絕緣特性的參數(shù)有介質(zhì)損耗角正切值 tanδ、電容值 CX 和泄露電流 I，通常采用介質(zhì)損耗角正切值來反映絕緣介質(zhì)損耗特性的優(yōu)劣。隨著 tanδ的增大，絕緣介質(zhì)損耗增加，這意味著絕緣材料絕緣性能的變壞，因此在系統(tǒng)運(yùn)行中通常采用測量 tanδ作為評定電氣設(shè)備絕緣性能好壞的方式。

測量介質(zhì)損耗 tanδ能夠有效地發(fā)現(xiàn)材料整體（即包括了大部分的體積）受潮，內(nèi)部有氣泡以及老化劣化的情況，但對于局部非貫穿性的絕緣缺陷（即介質(zhì)中體積較小部分的缺陷）不是很靈敏。

介質(zhì)損耗測量方法主要有瓦特法、電橋法和不平衡電橋法，西林電橋的精度是好的。西林電橋可用于從低于工頻(50~60Hz)直至 100kHz 的頻率范圍，通常測定具有 50~1000pF 電容的試樣或被試設(shè)備。西林電橋是一個(gè)四橋臂的回路。其中兩條臂主要為電容，包括未知電容 CX 和無損耗電容 CN，另外兩條測量臂由無感電阻 R1 和 R2 組成，電阻 R1 在未知電容 CX 的對邊上，測量臂至少被一個(gè)電容 C1 分流。

由于頻率范圍的不同，實(shí)際上電橋的構(gòu)造也會有明顯的不同，試驗(yàn)中采用的為工頻 50Hz。這時(shí)電容臂和測量臂的阻抗大小在數(shù)量級上相差較多，絕大部分電壓都施加在電容 CX 和 CN 上，低壓元件對高壓元件應(yīng)當(dāng)滿足屏蔽條件，屏蔽必須接地，以保證平衡的穩(wěn)定。本試驗(yàn)采用ZJD-87 型介質(zhì)損耗測量儀，如下圖所示，在測量硅橡膠絕緣材料介質(zhì)損耗的過程中采用的是正接線方式。

對于該介質(zhì)損耗測量儀接收器來說，試樣電容 CX 的測量精度為讀數(shù)的0.5%±0.1pF，介質(zhì)損耗正切值 tanδ的測量精度為讀數(shù)的 1%±0.00040，內(nèi)施高壓為 100~10000V，最大輸出電流為 200mA，可實(shí)現(xiàn)電壓連續(xù)平滑的調(diào)節(jié)，相位差測量范圍為 0.000°～359.999°，測量精度為±0.003°(無干擾)，±0.01°。

2、介質(zhì)損耗因數(shù)

介質(zhì)損耗因數(shù)試驗(yàn)是判斷電氣設(shè)備絕緣性能較為有效的方法，能直接、明顯地反映出絕緣的整體受潮、劣化變質(zhì) 等分布性缺陷。因此，在電氣設(shè)備（如電力變壓器、高壓開關(guān)、互感器、套管、耦合電容等）交接和例行試驗(yàn)中，介質(zhì)損 耗因素試驗(yàn)已得到廣泛的應(yīng)用。本文較為系統(tǒng)地闡述了介質(zhì)損耗因數(shù)的定義、試驗(yàn)等值電路及向量圖、試驗(yàn)?zāi)康摹y量儀 器及影響試驗(yàn)結(jié)果的因素。

3、固體絕緣材料的介質(zhì)損耗角正切值 tanδ測試儀型號及參數(shù)