介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ測試意義
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ是反映絕緣性能的基本指標(biāo)之一。介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ反映絕緣損耗的特征參數(shù),它可以很靈敏地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)以及小體積設(shè)備貫通和未貫通的局部缺陷。
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ與絕緣電阻和泄漏電流的測試相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn),它與試驗(yàn)電壓、試品尺寸等因素?zé)o關(guān),更便于判斷電氣設(shè)備絕緣變化情況。因此介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ為高壓電氣設(shè)備絕緣測試的zui基本的試驗(yàn)之一。
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ可以有效的發(fā)現(xiàn)絕緣的下列缺陷:
(1)受潮;(2)穿透性導(dǎo)電通道;(3)絕緣內(nèi)含氣泡的游離,絕緣分層、脫殼;(4)絕緣有臟污、劣化老化等。
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