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手機(jī)相關(guān)行業(yè)可靠性實(shí)驗(yàn)
目錄：
1 目的
2 編制依據(jù)
3 執(zhí)行原則
4 適用范圍
5 術(shù)語、定義
6 主要職責(zé)
7. 可靠性測(cè)試程序
7. 可靠性測(cè)試程序
7.1. 加速壽命測(cè)試ALT （ACCELERATED LIFE TEST）
7.2.氣候適應(yīng)性測(cè)試（CLIMATIC STRESS TEST）
7.3.結(jié)構(gòu)耐久測(cè)試（MECHANICAL ENDURANCE TEST）
7.4 表面裝飾測(cè)試（DECORATIVE SURFACE TEST）
7.5. 特殊條件測(cè)試（SPECIAL STRESS TEST）
7.6 其他條件測(cè)試
8 zui終檢驗(yàn)
9 附錄：
1 目的
作為產(chǎn)品質(zhì)量保證系統(tǒng)的一部分，可靠性測(cè)試程序?qū)⒘η筮_(dá)到以下目標(biāo)：
1.1 在特定的可接受的環(huán)境下不斷的催化產(chǎn)品的壽命和疲勞度，評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性；
1.2 規(guī)范可靠性試驗(yàn)（PRT）作業(yè)方法。
2 編制依據(jù)
2.1 GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*部分：總則
2.2 GB/T 15844.2-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無線機(jī)環(huán)境要求和實(shí)驗(yàn)方法
2.3 GB/T 15844.3-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無線機(jī)可靠性要求及實(shí)驗(yàn)方法
2.4 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
2.5 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
2.6 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落
2.7 GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)
2.8 GB/T 2423.3-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
2.9 GB4943-2001 信息技術(shù)設(shè)備的安全
2.10 GB/T 17626.2-1998 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)
2.11 YD/T 1215-2002 GSM900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)通用分組無線業(yè)務(wù)（GPRS）設(shè)備測(cè)試方法：移動(dòng)臺(tái)
2.12 YD 1032-2000 GSM900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信系統(tǒng)電磁兼容性限值和測(cè)量方法*部分：移動(dòng)臺(tái)及其設(shè)備
2.13 *科技司- 機(jī)入網(wǎng)檢驗(yàn)細(xì)則，2000年10 月發(fā)布
3 執(zhí)行原則
可靠性試驗(yàn)程序及判斷標(biāo)準(zhǔn)，嚴(yán)格遵守此程序。
4 適用范圍
適用于XXXXX無線通信所屬公司所有研發(fā)手機(jī)產(chǎn)品。
5 術(shù)語、定義
PRT：Product Reliability Test（產(chǎn)品可靠性測(cè)試）
6 主要職責(zé)
6.1. 可靠性測(cè)試技術(shù)員
6.1.1 產(chǎn)品可靠性具體測(cè)試任務(wù)的執(zhí)行、跟蹤；
6.1.2 完成可靠性測(cè)試原始記錄并整理；
6.1.3 實(shí)驗(yàn)機(jī)器（測(cè)試設(shè)備）的日常維護(hù)；
6.1.4 實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)庫(kù)的管理。
6. 2 可靠性測(cè)試工程師
6.2.1定義項(xiàng)目/產(chǎn)品可靠性測(cè)試計(jì)劃
6.2.2完成，跟蹤項(xiàng)目/產(chǎn)品可靠性測(cè)試測(cè)試結(jié)果；
6.2.3 參與產(chǎn)品可靠性測(cè)試問題的分析及改進(jìn)；
6.2.4制訂/修定可靠性測(cè)試程序及標(biāo)準(zhǔn)
6.2.5可靠性測(cè)試設(shè)備/儀器的開發(fā)
6.2.6可靠性實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備/儀器的日常管理，維護(hù)。
6.3 可靠性測(cè)試經(jīng)過
6.3.1產(chǎn)品可靠性實(shí)驗(yàn)室測(cè)試程序?qū)嵤┕芾?，?shí)現(xiàn)過程的策劃
6.3.2產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目開發(fā)，評(píng)審
6.3.3產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目計(jì)劃，報(bào)告，文件的審發(fā)
6.3.4制訂測(cè)試程序文件，審核測(cè)試執(zhí)行文件
6.3.5可靠性測(cè)試程序及標(biāo)準(zhǔn)的擬定，評(píng)審，核發(fā)
6.3.6可靠性實(shí)驗(yàn)室運(yùn)行管理
6.4 可靠性測(cè)試專員
6.4.1 受理研發(fā)部門的測(cè)試需求；
6.4.2 負(fù)責(zé)跟蹤試驗(yàn)的進(jìn)度；
2.2 GB/T 15844.2-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無線機(jī)環(huán)境要求和實(shí)驗(yàn)方法
2.3 GB/T 15844.3-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無線機(jī)可靠性要求及實(shí)驗(yàn)方法
2.4 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分：實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
2.5 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
2.6 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落
2.7 GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)
2.8 GB/T 2423.3-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
2.9 GB4943-2001 信息技術(shù)設(shè)備的安全
2.10 GB/T 17626.2-1998 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)
2.11 YD/T 1215-2002 GSM900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)通用分組無線業(yè)務(wù)（GPRS）設(shè)備測(cè)試方法：移動(dòng)臺(tái)
2.12 YD 1032-2000 GSM900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信系統(tǒng)電磁兼容性限值和測(cè)量方法*部分：移動(dòng)臺(tái)及其設(shè)備
2.13 *科技司- 機(jī)入網(wǎng)檢驗(yàn)細(xì)則，2000年10 月發(fā)布
3 執(zhí)行原則
可靠性試驗(yàn)程序及判斷標(biāo)準(zhǔn)，嚴(yán)格遵守此程序。
4 適用范圍
適用于XXXXX無線通信所屬公司所有研發(fā)手機(jī)產(chǎn)品。
5 術(shù)語、定義
PRT：Product Reliability Test（產(chǎn)品可靠性測(cè)試）
6 主要職責(zé)
6.1. 可靠性測(cè)試技術(shù)員
6.1.1 產(chǎn)品可靠性具體測(cè)試任務(wù)的執(zhí)行、跟蹤；
6.1.2 完成可靠性測(cè)試原始記錄并整理；
6.1.3 實(shí)驗(yàn)機(jī)器（測(cè)試設(shè)備）的日常維護(hù)；
6.1.4 實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)庫(kù)的管理。
6. 2 可靠性測(cè)試工程師
6.2.1定義項(xiàng)目/產(chǎn)品可靠性測(cè)試計(jì)劃
6.2.2完成，跟蹤項(xiàng)目/產(chǎn)品可靠性測(cè)試測(cè)試結(jié)果；
6.2.3 參與產(chǎn)品可靠性測(cè)試問題的分析及改進(jìn)；
6.2.4制訂/修定可靠性測(cè)試程序及標(biāo)準(zhǔn)
6.2.5可靠性測(cè)試設(shè)備/儀器的開發(fā)
6.2.6可靠性實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備/儀器的日常管理，維護(hù)。
6.3 可靠性測(cè)試經(jīng)過
6.3.1產(chǎn)品可靠性實(shí)驗(yàn)室測(cè)試程序?qū)嵤┕芾?，?shí)現(xiàn)過程的策劃
6.3.2產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目開發(fā)，評(píng)審
6.3.3產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目計(jì)劃，報(bào)告，文件的審發(fā)
6.3.4制訂測(cè)試程序文件，審核測(cè)試執(zhí)行文件
6.3.5可靠性測(cè)試程序及標(biāo)準(zhǔn)的擬定，評(píng)審，核發(fā)
6.3.6可靠性實(shí)驗(yàn)室運(yùn)行管理
6.4 可靠性測(cè)試專員
6.4.1 受理研發(fā)部門的測(cè)試需求；
6.4.2 負(fù)責(zé)跟蹤試驗(yàn)的進(jìn)度；
6.4.3 對(duì)設(shè)計(jì)人員或可靠性測(cè)試人員的要求或問題等及時(shí)地傳達(dá)；
6.5 編制、修改、評(píng)審、審批、更新職責(zé)
可靠性實(shí)驗(yàn)室編制、修改、及時(shí)更新和協(xié)調(diào)各公司質(zhì)量部人員評(píng)審本試驗(yàn)程序，由管理層審批。
7. 可靠性測(cè)試程序
7.1. 加速壽命測(cè)試ALT （Accelerated Life Test）
樣機(jī)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：
PR1：8臺(tái) PR2：10臺(tái) PR3：10臺(tái) PIR：10臺(tái)
試驗(yàn)周期： 10-12天
測(cè)試目的：通過連續(xù)的施加各種測(cè)試條件，加速產(chǎn)品的失效，提前暴露潛在問題。
試驗(yàn)流程：見下圖，其中Thermal Shock 和1st Drop測(cè)試的時(shí)間間隔應(yīng)不超過4小時(shí)；Temp/Humidity和2nd Drop測(cè)試的時(shí)間間隔應(yīng)不超過4小時(shí)。每項(xiàng)測(cè)試完成都應(yīng)進(jìn)行表面，外觀，結(jié)構(gòu)和功能檢查。（表面，外觀和結(jié)構(gòu)檢查參考賽福同舟《手機(jī)綜合檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》QC3001; 功能檢查參考附錄二。下同）。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
7.1.1 室溫下參數(shù)測(cè)試（Parametric Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：測(cè)試預(yù)檢查
測(cè)試方法：使用8960/8922測(cè)試儀，參照附件1（下同）項(xiàng)目列表，對(duì)所有樣品進(jìn)行參數(shù)指標(biāo)預(yù)測(cè)試并保存測(cè)試結(jié)果。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：所有附件1中參數(shù)指標(biāo)正常，功能正常。
7.1.2 溫度沖擊測(cè)試（Thermal Shock）
測(cè)試環(huán)境：低溫箱：-30° C ；高溫箱：+70° C
測(cè)試目的：通過高低溫沖擊進(jìn)行樣品應(yīng)力篩選
試驗(yàn)方法：使用高低溫沖擊箱，手機(jī)帶電池，設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)先放置于高溫箱內(nèi)持續(xù)45分鐘后，在15秒內(nèi)迅速移入低溫箱并持續(xù)45分鐘后，再15秒內(nèi)迅速回到高溫箱。此為一個(gè)循環(huán)，共循環(huán)27次。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后將樣機(jī)從溫度沖擊箱（高溫箱）中取出，恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品打開翻蓋；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)表面噴涂無異變，結(jié)構(gòu)無異常，功能正常，可正常。
7.1.3 跌落試驗(yàn)（Drop Test）
測(cè)試條件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。（對(duì)于PDA手機(jī),根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m）
測(cè)試目的：跌落沖擊試驗(yàn)
試驗(yàn)方法：將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)進(jìn)行跌落。對(duì)于直握手機(jī)，進(jìn)行6個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次數(shù)為1次，每個(gè)面跌落之后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī)，進(jìn)行8個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn)；其中一半樣品合上翻蓋按直握手機(jī)的方法進(jìn)行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時(shí)須打開翻蓋；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。跌落結(jié)束后對(duì)外觀、結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行檢查。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求。
7.1.4 振動(dòng)試驗(yàn)（Vibration Test）
測(cè)試條件：振幅：0.38mm/振頻：10~30Hz；振幅：0.19mm/振頻：30~55Hz；
測(cè)試目的：測(cè)試樣機(jī)抗振性能
試驗(yàn)方法：將手機(jī)開機(jī)放入振動(dòng)箱內(nèi)固定夾緊。啟動(dòng)振動(dòng)臺(tái)按X、Y、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí)，每個(gè)軸振完之后取出進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。三個(gè)軸向振動(dòng)試驗(yàn)結(jié)束后，對(duì)樣機(jī)進(jìn)行參數(shù)測(cè)試。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：振動(dòng)后手機(jī)內(nèi)存和設(shè)置沒有丟失現(xiàn)象，手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求，參數(shù)測(cè)試正常，晃動(dòng)無異響。
7.1.5 濕熱試驗(yàn)（Humidity Test）
測(cè)試環(huán)境：60° C，95%RH
測(cè)試目的：測(cè)試樣機(jī)耐高溫高濕性能
試驗(yàn)方法：將手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，放入溫濕度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上，持續(xù)60個(gè)小時(shí)之后取出，常溫恢復(fù)2小時(shí)，然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求。
7.1.6 靜電測(cè)試（ESD）
測(cè)試條件：+/-4kV~+/-8kV。
測(cè)試目的：測(cè)試樣機(jī)抗靜電干擾性能
試驗(yàn)方法：
將樣機(jī)設(shè)置為開機(jī)狀態(tài)，檢查樣機(jī)內(nèi)存和功能。（內(nèi)存10條短信息和10個(gè)；使用功能正常）。將樣機(jī)放于靜電測(cè)試臺(tái)的絕緣墊上，并且用充電器加電使手機(jī)處于充電狀態(tài)（樣機(jī)與絕緣墊邊緣距離至少2英寸；兩個(gè)樣機(jī)之間的距離也是至少2英寸）。
打開靜電模擬器，調(diào)節(jié)放電方式，分別選擇+/-4kV（接觸放電），~+/-8kV（空氣放電），對(duì)手機(jī)部位連續(xù)放電10次，并對(duì)地放電。每做完一個(gè)部位的測(cè)試，檢查手機(jī)功能、信號(hào)和靈敏度，并觀察手機(jī)在測(cè)試過程中有無死機(jī)，通信鏈路中斷，LCD顯示異常，自動(dòng)關(guān)機(jī)及其他異?，F(xiàn)象。
樣機(jī)需在與8922測(cè)試儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進(jìn)行各個(gè)放電方式、級(jí)別和極性的測(cè)試。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：在+/-4Kv 和 +/-8Kv時(shí)出現(xiàn)任何問題都要被計(jì)為故障。
備注：靜電釋放位置的確定要依據(jù)產(chǎn)品的具體情況進(jìn)行定義。
7.1.7室溫下參數(shù)測(cè)試（Parametric Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：測(cè)試結(jié)束后參數(shù)對(duì)比
測(cè)試方法：使用8960/8922測(cè)試儀，參照附件1項(xiàng)目列表，對(duì)所有樣品進(jìn)行參數(shù)指標(biāo)測(cè)試。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：所有附件1中參數(shù)指標(biāo)正常，功能正常。
7.2.氣候適應(yīng)性測(cè)試（Climatic Stress Test）
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：一般氣候性測(cè)試 4 臺(tái)；惡劣氣候性測(cè)試 2 臺(tái)。共8臺(tái)。
測(cè)試周期：7 天。
測(cè)試目的：模擬實(shí)際工作環(huán)境對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行性能測(cè)試
測(cè)試流程：見下圖。
一般氣候性測(cè)試惡劣氣候性測(cè)試
A：一般氣候性測(cè)試：
7.2.1.高溫/低溫參數(shù)測(cè)試（Parametric Test）
測(cè)試環(huán)境：-10° C /+55° C
測(cè)試目的：高溫/低溫應(yīng)用性性能測(cè)試
試驗(yàn)方法：將手機(jī)電池充滿電，手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上，調(diào)節(jié)溫度控制器到-10° C /+55° C。持續(xù)2個(gè)小時(shí)之后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能參數(shù)和功能檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)電性能參數(shù)指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無變形。
7.2.2.高溫高濕參數(shù)測(cè)試（Parametric Test）
測(cè)試環(huán)境：+45° C，95%RH
測(cè)試目的：高溫高濕應(yīng)用性性能測(cè)試
試驗(yàn)方法：將手機(jī)電池充滿電，手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上。持續(xù)48個(gè)小時(shí)之后，然后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能檢查，檢查項(xiàng)目見附表1。對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無變形。
7.2.3.高溫/低溫功能測(cè)試（Functional Test）
測(cè)試環(huán)境：-40° C /+70° C
測(cè)試目的：高溫/低溫應(yīng)用性功能測(cè)試
試驗(yàn)方法：將手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)的架子上。持續(xù)24個(gè)小時(shí)之后，取出，并放置2小時(shí)，恢復(fù)至常溫，然后進(jìn)行結(jié)構(gòu)，功能和電性能檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無變形。
B：惡劣氣候性測(cè)試
7.2.4.灰塵測(cè)試（Dust Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫
測(cè)試目的：測(cè)試樣機(jī)結(jié)構(gòu)密閉性
試驗(yàn)方法：將手機(jī)關(guān)機(jī)放入灰塵實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)?；覊m大小300目，持續(xù)3個(gè)小時(shí)之后，將手機(jī)從實(shí)驗(yàn)箱中取出，用棉布和離子風(fēng)槍清潔后進(jìn)行檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，所有活動(dòng)元器件運(yùn)轉(zhuǎn)自如，顯示區(qū)域沒有明顯灰塵。
7.2.5.鹽霧測(cè)試（Salt fog Test）
測(cè)試環(huán)境：35° C
測(cè)試目的：測(cè)試樣機(jī)抗鹽霧腐蝕能力
試驗(yàn)方法：
溶液含量：5%的氯化鈉溶液。
將手機(jī)關(guān)機(jī)放在鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi)，合上翻蓋，樣機(jī)用繩子懸掛起來，以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。
樣機(jī)需要立即被放入測(cè)試箱。實(shí)驗(yàn)周期是48個(gè)小時(shí)。實(shí)驗(yàn)過程中樣機(jī)不得被中途取出，如果急需取出測(cè)試，要嚴(yán)格記錄測(cè)試時(shí)間，該實(shí)驗(yàn)需向后延遲相同時(shí)間。
取出樣機(jī)后，用棉布和離子風(fēng)槍清潔，放置48小時(shí)進(jìn)行常溫干燥后，對(duì)其進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼表面及裝飾件無明顯腐蝕等異常現(xiàn)象。
7.3.結(jié)構(gòu)耐久測(cè)試（Mechanical Endurance Test）
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：11 臺(tái)。
測(cè)試周期：7 天。
測(cè)試流程：
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
7.3.1.按鍵測(cè)試（Keypad Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：按鍵壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)。
測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)固定在測(cè)試夾具上，導(dǎo)航鍵及其他任意鍵進(jìn)行10萬次按壓按鍵測(cè)試。進(jìn)行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時(shí)各檢查手機(jī)按鍵彈性及功能一次。實(shí)驗(yàn)中被測(cè)試的鍵的選擇根據(jù)不同機(jī)型進(jìn)行確定并參考工程師的建議，應(yīng)盡量不重復(fù)，盡可能多。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)按鍵彈性及功能正常。
7.3.2.側(cè)鍵測(cè)試（Side Key Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：側(cè)鍵壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：1臺(tái)手機(jī)
測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)固定在測(cè)試夾具上，對(duì)側(cè)鍵進(jìn)行10萬次按壓按鍵測(cè)試。進(jìn)行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時(shí)各檢查手機(jī)按鍵彈性及功能一次。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)按鍵彈性及功能正常。
7.3.3.翻蓋測(cè)試（Flip Life Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：翻蓋壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：4臺(tái)手機(jī)。
測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成開機(jī)狀態(tài)，固定在測(cè)試夾具上，進(jìn)行5萬次開合翻蓋測(cè)試。進(jìn)行到3萬次、4萬次、4. 5萬次、5萬次時(shí)進(jìn)行手機(jī)翻蓋彈性及功能一次。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：5萬次后，手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常。
7.3.4.滑蓋測(cè)試（Slide Life Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：滑蓋壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：4臺(tái)手機(jī)。
測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成開機(jī)狀態(tài)，固定在測(cè)試夾具上，進(jìn)行5萬次滑蓋測(cè)試。進(jìn)行到3萬次、4萬次、4. 5萬次、5萬次時(shí)進(jìn)行手機(jī)滑蓋手感及功能一次。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：5萬次后，手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常,滑蓋不能有松動(dòng)（建議:垂直手機(jī)時(shí)不能有自動(dòng)下滑的現(xiàn)象）
7.3.5. 重復(fù)跌落測(cè)試（Micro-Drop Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；7cm高度 ,20mmPVC板
測(cè)試目的：樣機(jī)跌落疲勞測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)。
測(cè)試方法：手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)，做手機(jī)正面及背面的重復(fù)跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次數(shù)為20,000次。進(jìn)行到1萬次、1.5萬次、1.8萬次、2萬次時(shí)各檢查對(duì)手機(jī)進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能的中間檢查。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎，晃動(dòng)無異響。
7.3.6. 充電器插拔測(cè)試（Charger Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：充電器插拔]壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)。
試驗(yàn)方法：將充電器接上電源，連接手機(jī)充電接口，等待手機(jī)至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開機(jī)不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進(jìn)行到2000次、2500次和3000次時(shí)進(jìn)行中間/結(jié)束檢查一次。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：I/O接口無損壞，焊盤無脫落，充電功能正常。無異常手感。
7.3.7.筆插拔測(cè)試（Stylus Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：手機(jī)手寫筆插拔壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)。
試驗(yàn)方法：將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)，筆插在手機(jī)筆插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)20，000次。進(jìn)行到1萬次、1萬5千次、1萬8千次、2萬次時(shí)檢查手機(jī)筆插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆是否正常。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)筆輸入功能正常，插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆均正常。
7.３.８點(diǎn)擊試驗(yàn) （Point Activation Life Test）
試驗(yàn)條件：觸摸屏測(cè)試儀（接觸墊半徑為3.75mm；硬度為40deg的硅樹脂橡膠）
測(cè)試目的：觸摸屏點(diǎn)擊壽命測(cè)試
樣品數(shù)量：1臺(tái)
試驗(yàn)方法：將手機(jī)設(shè)置為開機(jī)狀態(tài)，點(diǎn)擊LCD的中心位置250,000次，點(diǎn)擊力度為250g；點(diǎn)擊速度：2次/秒；
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：不應(yīng)出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象；表面不應(yīng)有損傷
7.３.9劃線試驗(yàn) （Lineation Life Test）
試驗(yàn)條件：觸摸屏測(cè)試儀，直徑為0.8mm的塑料手寫筆或隨機(jī)附帶的手寫筆
測(cè)試目的：觸摸屏劃線疲勞測(cè)試
樣品數(shù)量：1臺(tái)
試驗(yàn)方法：將手機(jī)設(shè)置為關(guān)機(jī)狀態(tài)，在同一位置劃線至少100,000次，力度為250g；
滑行速度：60mm/秒
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：不應(yīng)出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象；表面不應(yīng)有損傷
7.3.10.電池/電池蓋拆裝測(cè)試（Battery/Battery Cover Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：電池/電池蓋拆裝壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)。
試驗(yàn)方法：將電池/電池蓋反復(fù)拆裝2000次。進(jìn)行到1500次、1800次和2000次時(shí)檢查手機(jī)及電池/電池蓋各項(xiàng)功能、及外觀是否正常。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)及電池卡扣功能正常無變形，電池觸片、電池連接器應(yīng)無下陷、變形及磨損的現(xiàn)象，外觀無異常。
7.3.11. SIM Card 拆裝測(cè)試（SIM Card Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：SIM卡拆裝壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)。
試驗(yàn)方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新裝上，反復(fù)1000次，每插拔100次檢查開機(jī)是否正常，讀卡信息正常。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：SIM卡觸片、SIM卡推扭開關(guān)正常，手機(jī)讀卡功能使用正常。
7.3.12. 耳機(jī)插拔測(cè)試（Headset Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：耳機(jī)插拔壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)。
試驗(yàn)方法：將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)，耳機(jī)插在耳機(jī)插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)3000次。進(jìn)行到2000、2500次和3000次時(shí)各檢查一次。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：實(shí)驗(yàn)后檢查耳機(jī)插座無焊接故障，耳機(jī)插頭無損傷，使用耳機(jī)通話接收與送話無雜音（通話過程中轉(zhuǎn)動(dòng)耳機(jī)插頭），耳機(jī)插入手機(jī)耳機(jī)插孔時(shí)不會(huì)松動(dòng)（可以承受得住手機(jī)本身的重量）。
7.3.13.導(dǎo)線連接強(qiáng)度試驗(yàn)（Cable Pulling Endurance Test--Draft）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：導(dǎo)線連接強(qiáng)度測(cè)試
實(shí)驗(yàn)方法：選取靠近耳塞的一段導(dǎo)線，將其兩端固定在實(shí)驗(yàn)機(jī)上，用10N±1N的力度持續(xù)拉伸6秒，循環(huán)100次。（其它造型的導(dǎo)線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù)）
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：導(dǎo)線功能正常。被覆外皮不破裂，變形。
7.3.14.導(dǎo)線折彎強(qiáng)度試驗(yàn)（Cable Bending Endurance Test--Draft）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：導(dǎo)線折彎疲勞測(cè)試
實(shí)驗(yàn)方法：分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導(dǎo)線，將導(dǎo)線的兩端固定在實(shí)驗(yàn)機(jī)上，做0mm~25mm做折彎實(shí)驗(yàn)3000次。（其它造型的導(dǎo)線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù)）
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：導(dǎo)線功能正常被覆外皮不破裂，變形。
7.3.15.導(dǎo)線擺動(dòng)疲勞試驗(yàn)（Cable Swing Endurance Test--Draft）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：導(dǎo)線擺動(dòng)疲勞測(cè)試
實(shí)驗(yàn)方法:分別將耳機(jī)和插頭固定在實(shí)驗(yàn)機(jī)上，用1N的力，以180°的角度反復(fù)擺動(dòng)耳機(jī)末端3000次。（其它造型的導(dǎo)線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù)）
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：導(dǎo)線功能正常被覆外皮不破裂。
7.4 表面裝飾測(cè)試（Decorative Surface Test）
測(cè)試周期：4 天。
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：每種顏色6 套外殼。
測(cè)試流程：
7.4.1.磨擦測(cè)試（Abrasion Test - RCA）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：印刷/噴涂抗摩擦測(cè)試
試驗(yàn)方法：將zui終噴樣品涂固定在RCA試驗(yàn)機(jī)上，用175g力隊(duì)同一點(diǎn)進(jìn)行摩擦試驗(yàn)。每隔50次檢查樣品的表面噴涂。對(duì)于表面摩擦300cycles，側(cè)棱摩擦150 Cycles。特殊形狀的手機(jī)摩擦點(diǎn)的確定由測(cè)試工程師和設(shè)計(jì)工程師共同確定。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：耐磨點(diǎn)涂層不能脫落，不可露出底材質(zhì)地（對(duì)于噴涂、電鍍、IMD）；圖案或字體不能缺損、不清晰（對(duì)于絲印、按鍵）。
7.4.2.附著力測(cè)試（Coating Adhesion Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：噴涂附著力測(cè)試
試驗(yàn)方法：選zui終噴涂的手機(jī)外殼表面，使用百格刀刻出100個(gè)1平方毫米的方格，劃格的深度以露出底材為止，再用3M610號(hào)膠帶紙用力粘貼在方格面，1分鐘后迅速以90度的角度撕脫3次，檢查方格面油漆是否有脫落。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：方格面油漆脫落應(yīng)小于3%，并且沒有滿格脫落。
7.4.3.汗液測(cè)試（Perspiration Test）
測(cè)試環(huán)境：60 oC，95%RH
測(cè)試目的：表面抗汗液腐蝕能力
試驗(yàn)方法：把濾紙放于酸性（PH=2.6）溶液充分浸透，用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在樣品噴漆表面，確保試紙與樣品噴漆表面充分接觸，然后放在測(cè)試環(huán)境中，在24小時(shí)檢查一次，48小時(shí)后，將樣品從測(cè)試環(huán)境中取出，并且放置2小時(shí)后，檢查樣品表面噴漆。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：噴漆表面無變色、起皮、脫落、褪色等異常。
7.4.4.硬度測(cè)試（Hardness Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：表面噴涂硬度測(cè)試
試驗(yàn)方法：用2H鉛筆，在45度角下，以1Kg的力度在樣品表面從不同的方向劃出3~5cm長(zhǎng)的線條3~5條。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：用橡皮擦去鉛筆痕跡后，在油漆表面應(yīng)不留下劃痕。
7.4.５. 鏡面摩擦測(cè)試（Lens Scratch Test）
測(cè)試環(huán)境: 室溫（20~25° C）；
測(cè)試目的：鏡面抗劃傷測(cè)試
試驗(yàn)方法：用Scratch Tester將實(shí)驗(yàn)樣品固定在實(shí)驗(yàn)機(jī)上，用載重（load）為500g的力在樣品表面往復(fù)劃傷50次。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：鏡面表面劃傷寬度應(yīng)不大于100μm（依靠目視分辨、參照缺陷限度樣板）
7.4.6 紫外線照射測(cè)試（UV illuminant Test）
測(cè)試環(huán)境：50° C
測(cè)試目的：噴涂抗紫外線照射測(cè)試
試驗(yàn)方法：在溫度為50° C，紫外線為340W/mm2的光線下直射油漆表面48小時(shí)。試驗(yàn)結(jié)束后將手機(jī)外殼取出，在常溫下冷卻2小時(shí)后檢查噴漆表面。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：油漆表面應(yīng)無褪色，變色，紋路，開裂，剝落等現(xiàn)象。
7.5.1. 低溫跌落試驗(yàn)（Low temperature Drop Test）
測(cè)試環(huán)境：-10° C
樣機(jī)數(shù)量: 3臺(tái)
測(cè)試目的：樣機(jī)低溫跌落測(cè)試
試驗(yàn)方法：將手機(jī)進(jìn)行電性能參數(shù)測(cè)試后處于開機(jī)狀態(tài)放置在-10° C的低溫試驗(yàn)箱內(nèi)1小時(shí)后取出，進(jìn)行1.2米的６個(gè)面跌落，２個(gè)循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完成跌落，方法同常溫跌落。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)，功能和電性能參數(shù)符合要求。
7.5.2. 扭曲測(cè)試（Twist Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機(jī)數(shù)量: 2臺(tái)
測(cè)試目的：抗扭曲測(cè)試
試驗(yàn)方法：將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)，固定在扭曲試驗(yàn)機(jī)上，用2N m力矩反復(fù)扭曲手機(jī)1000次。對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒有變形,外觀無異常，各項(xiàng)功能正常。
7.5.3. 坐壓測(cè)試（Squeeze Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機(jī)數(shù)量: 2臺(tái)
測(cè)試目的：抗坐壓測(cè)試
試驗(yàn)方法：將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)，放置在坐壓試驗(yàn)機(jī)上，用45Kg力反復(fù)擠壓手機(jī)1000次。對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)沒有變形,外觀無異常，各項(xiàng)功能正常。
7.5.4. 鋼球跌落測(cè)試（Ball Drop Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；100g鋼球。
樣機(jī)數(shù)量: 2臺(tái)
測(cè)試目的：鏡蓋強(qiáng)度測(cè)試
試驗(yàn)方法：鏡蓋表面：用100g鋼球，從20cm高處，以初速度為0的狀態(tài)，垂直打擊鏡蓋表面。
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)鏡蓋無變形，無裂縫，無破損（允許有白點(diǎn)）， LCD功能正常。
7.6 其他條件測(cè)試
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：5 臺(tái)。
測(cè)試周期：1 天。
測(cè)試流程:
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
7.6.1螺釘?shù)臏y(cè)試（Screw Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機(jī)數(shù)量: 3臺(tái)
測(cè)試目的：螺釘拆裝疲勞測(cè)試
試驗(yàn)方法：將手機(jī)平放在試驗(yàn)臺(tái)上用允許的zui大扭矩（由設(shè)計(jì)工程師和生產(chǎn)工程師提供）, 對(duì)同一螺釘在同一位置反復(fù)旋動(dòng)螺釘10次.
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：試驗(yàn)中和完成后,螺紋沒有變形,損壞,滑絲,用肉眼觀察沒有裂紋; INSERT不能有明顯的松動(dòng),劃絲; 螺釘口（包括機(jī)械和自攻螺釘）不能有明顯的松動(dòng),劃絲
7.6.2掛繩孔強(qiáng)度的測(cè)試（Hand Strap Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機(jī)數(shù)量: 2臺(tái)
測(cè)試目的：掛繩孔結(jié)構(gòu)強(qiáng)度測(cè)試
試驗(yàn)方法：將掛繩穿過掛繩孔并以2圈/秒的速率在垂直的平面內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)100圈,
然后用拉力計(jì)以持續(xù)不斷的力拉手機(jī)的掛繩.
檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)的掛繩能容易的穿過掛繩孔（不借助于特殊的工具）; 轉(zhuǎn)動(dòng)手機(jī)時(shí),掛繩孔不能被損壞; 掛繩孔的破壞力不能小于12kgf （117N）
8 zui終檢驗(yàn)
可靠性實(shí)驗(yàn)后的檢驗(yàn)
zui終檢驗(yàn)不僅是對(duì)樣機(jī)進(jìn)行外觀，功能和電性能參數(shù)的檢驗(yàn)，還包括：內(nèi)部是否有裂紋，元器件是否有松動(dòng)或丟失，是否有污染物的痕跡或結(jié)晶物出現(xiàn)，以及潛在的裝配問題。
8 .1 所有進(jìn)行加速壽命測(cè)試ALT（Accelerated Life Test）在實(shí)驗(yàn)結(jié)束或中斷后，都要被拆開進(jìn)行檢驗(yàn)。
8.2 在結(jié)構(gòu)壽命測(cè)試項(xiàng)中進(jìn)行： KEYPAD測(cè)試，SIDEKEY測(cè)試，MICRO-DROP測(cè)試，CHARGER CONNECTOR測(cè)試，FLIP/SLIDE測(cè)試以及HEADSET測(cè)試項(xiàng)，在實(shí)驗(yàn)結(jié)束或中斷后，都要被拆開進(jìn)行檢驗(yàn)。
8.3 所有特殊條件測(cè)試項(xiàng)以及SCREW ENDURANCE 測(cè)試，VIB振動(dòng)測(cè)試的樣機(jī)都要進(jìn)行拆機(jī)檢查。
檢驗(yàn)工作需在一個(gè)干凈明亮的環(huán)境下進(jìn)行，以保證拆開手機(jī)時(shí)可以清楚地看到手機(jī)內(nèi)部有無元器件松動(dòng)或小塑料件碎片。并需要根據(jù)試驗(yàn)報(bào)告中樣機(jī)的編號(hào)找到相應(yīng)的樣機(jī)檢查以上提到的各個(gè)注意事項(xiàng)。在拆開手機(jī)之前未發(fā)現(xiàn)的認(rèn)為能導(dǎo)致zui終故障的嚴(yán)重問題需附加為故障機(jī)，較小的問題需要在產(chǎn)品的相關(guān)文件中備案。
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2025第21屆鄭州工業(yè)自動(dòng)化展
展會(huì)城市：鄭州市展會(huì)時(shí)間：2025-05-09