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      湖北高天試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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      冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱湖北高天廠家供應(yīng)

      參  考  價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

      產(chǎn)品型號(hào)

      品       牌

      廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

      所  在  地武漢市

      更新時(shí)間:2022-08-19 17:16:32瀏覽次數(shù):254次

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      冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱湖北高天廠家供應(yīng)能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境
      冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱湖北高天廠家供應(yīng)

      能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產(chǎn)品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格。將提供給您預(yù)測(cè)和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。用于檢測(cè)電子、汽車、橡膠、塑膠、航天科技、電子科技通信器材等產(chǎn)品在反復(fù)冷熱變化下的抵抗能力。


      冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在zui短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同.


      冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱專門針對(duì)客戶門框及電梯尺寸較小的情況下設(shè)計(jì)的,訂購(gòu)前需要客戶提供:電梯尺寸,門的尺寸,我們根據(jù)客戶的要求,設(shè)計(jì)出合理的冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱。隨著經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,人們對(duì)品質(zhì)越來越高的要求,使得生產(chǎn)制造商必須想辦法來提高產(chǎn)品品質(zhì),以贏得市場(chǎng),在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中,質(zhì)量是取勝的有利法寶,質(zhì)量如何把控呢?檢測(cè)是重要手段,只有層層把關(guān),在每一個(gè)環(huán)節(jié)都注重品質(zhì),整體品質(zhì)才能得以保證,湖北高天試驗(yàn)設(shè)備有限公司是專業(yè)生產(chǎn)銷售實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)設(shè)備的專業(yè)廠家,為全國(guó)成千上萬家工廠、研究院、高校等提供檢測(cè)設(shè)備。

      規(guī)格型號(hào)

      型號(hào)(容積)GT-TC-64GT-TC-150GT-TC-500GT-TC-800
      內(nèi)膽尺寸400×400×400500x600x500700x800x9001000x1000x800
      試驗(yàn)箱總功率5.7KW7.5KW12KW14KW
      試驗(yàn)范圍-60℃~150℃
      沖擊溫度150℃~-20℃(-40℃、-60℃按客戶要求)
      溫度波動(dòng)范圍±0.5℃
      溫度精度±3℃
      電源380V±38V/50Hz±1Hz
      樣品架承重≥30Kg
      低溫區(qū)溫度暴露范圍60℃~200℃
      溫度波動(dòng)范圍≤±1℃
      溫度上升時(shí)間RT~200℃≥45分
      預(yù)熱溫度上限200℃
      高溫區(qū)溫度暴露范圍0℃~-60℃
      溫度波動(dòng)范圍≤±1℃
      溫度降溫時(shí)間-70℃≤60分
      預(yù)熱溫度下限-70℃

      滿足以下標(biāo)準(zhǔn):
       
        GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
       
        GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
       
        GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
       
        GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
       
        GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
       
        GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分:低溫試驗(yàn)
       
        GJB150.5A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
       
        GJB360B-2009電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法107溫度沖擊試驗(yàn)

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