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      北京華測試驗儀器有限公司
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      半導體封裝材料小型探針臺I-V測試系統(tǒng)

      參   考   價: 65000

      訂  貨  量: ≥1 件

      具體成交價以合同協(xié)議為準

      產(chǎn)品型號

      品       牌華測

      廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

      所  在  地北京市

      更新時間:2024-11-02 17:58:16瀏覽次數(shù):1444次

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      半導體封裝材料小型探針臺I-V測試系統(tǒng),小型探針臺最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試 ;
      可滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等。

      Huace-4S小型探針臺

      產(chǎn)品簡介:

      探針臺是一種輔助執(zhí)行機構(gòu),測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動器件,找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕,控制前部探針(射頻或直流探針),精準扎到被測點,從而使其訊號線與外部測試機導通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。

      產(chǎn)品特點及應用:

      ◆ 滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等;

      ◆ 可用于6英寸以內(nèi)樣品測試;

      ◆ 同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu),線性移動;

      ◆ 可放置于手套箱內(nèi)使用;

      ◆ 形狀輕巧,操作方便,價格實惠。

      Huace-4S小型探針臺技術(shù)參數(shù)

      臺體規(guī)格

      尺寸

      4英寸/6英寸

      水平旋轉(zhuǎn)

      可360°旋轉(zhuǎn),可微調(diào)15°,精度0.1°,帶角度鎖死裝置

      X-Y移動行程

      4英寸×4英寸

      X-Y移動精度

      10μm

      樣品臺Z軸調(diào)節(jié)

      可升降10mm

      樣品固定

      真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環(huán)

      針座平臺

      U型針座平臺,**可放置6個探針座

      背電極測試

      樣品臺電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極

      外形尺寸

      400mm長*400mm寬*500mm高

      設(shè)備重量

      約20KG

      光學系統(tǒng)

      顯微鏡類型

      單筒顯微鏡/體式顯微鏡

      放大倍率

      16X-200X

      移動行程

      水平方向繞立柱360°旋轉(zhuǎn),Z軸50.8毫米

      光源

      外置LED無極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形光源

      CCD

      200萬像素/500萬像素/1200萬像素

      定位器

      X-Y-Z移動行程

      12mm*12mm*12mm

      移動精度

      10μm/2μm/0.7μm/0.5μm

      吸附方式

      磁力吸附,真空吸附

      線纜

      同軸線/三軸線

      漏電精度

      10pA/100fA/10fA

      固定探針

      彈簧固定/管狀固定

      接頭類型

      BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

      針尖直徑

      0.2μm/1μm/2μm/5μm/10μm/20μm

      針尖材質(zhì)

      鎢鋼;鈹銅

      可選附件:

      加熱臺;
      顯示器;
      轉(zhuǎn)接頭;
      射頻測試配件;

      屏蔽箱;

      光學平臺;
      鍍金卡盤;
      光電測試配件;

      探針臺可根據(jù)客戶要求定制


      公司主營產(chǎn)品:

      幾大系列:功能材料電學綜合測試系統(tǒng)、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學性能綜合測試平臺、電擊穿強度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學測控系統(tǒng)、壓電傳感器測控系統(tǒng)。









      半導體封裝材料小型探針臺I-V測試系統(tǒng)

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