鍍銀層X射線測厚儀:檢測范圍0.3-10um

XRF-2000電鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鍍鋅,鍍銀,鍍鋅鎳等...

測量的厚度范圍為0.03微米~35微米。

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量,不限底料。

XRF-2000鍍層測厚儀三款型號

不同型號各種功能相同

機箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000H型:測量樣品高度不超過10cm  (長寬55cm)

XRF-2000L型:測量樣品高度不超過3cm   (長寬55cm)

XRF-2000PCB型:測量樣品高度不超3cm,PCB板

XRF-2000可測六層.誤差大約如下:*層(5%).第二層(8%).第三層(12%).第四層(20%).第五層(25%).第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同。

韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀測量范圍.

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-20um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi 0.05-20um

SnCu 0.05-20um

韓國XRF-2000X射線鍍金層測厚儀

檢測電鍍層厚度,可檢測鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍鉻,鍍鈀等
可測量單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層

單鍍層:如銅上鍍鎳,銅上鍍銀,銅上鍍錫,鐵上鍍鎳等,不限底材
雙鍍層:銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍銅鍍鎳等
多鍍層:鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀,銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等
合金鍍層:銅上鍍鋅鎳等

韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鍍鋅,鍍銀,鍍鋅鎳等...

儀器功能

全自動臺面

自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：10－30秒

鍍銀層X射線測厚儀:檢測范圍0.3-10um