韓國先鋒X射線熒光鍍層測厚儀
韓國Micro Pioneer XRF-2000電鍍層測厚儀
檢測電子電鍍鍍層厚度,如銅上鍍銀,銅上鍍鎳,銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍鋅,鐵上鍍鎳,鍍銅,鍍錫,鍍鉻等
X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析
韓國XRF2000X熒光無損電鍍測厚儀
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.04-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,自動對焦，操作非常方便簡單
應用實例圖示
| （1）單鍍層：Ag/xx |
| （2）合金鍍層：Sn-Pb/xx |
| （3）雙鍍層：Au/Ni/xx |
| Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
| 底材 |
| 底材 |
| Ni |
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| 底材 |
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| （4）合金鍍層：Sn-Bi/xx |
| （5）三鍍層：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化學鍍層：Ni-P/xx |
| Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
| 底材 |
| Pd |
| 底材 |
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| Ni |
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| 底材 |
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| （1）單鍍層：Ag/xx |
| （2）合金鍍層：Sn-Pb/xx |
| （3）雙鍍層：Au/Ni/xx |
| Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
| 底材 |
| 底材 |
| Ni |
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| 底材 |
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| （4）合金鍍層：Sn-Bi/xx |
| （5）三鍍層：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化學鍍層：Ni-P/xx |
| Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
| 底材 |
| Pd |
| 底材 |
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| Ni |
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| 底材 |
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韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
檢測電子及五金電鍍,化學電鍍層厚度
主要檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
韓國XRF2000鍍層測厚儀
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
特別訂制可測20cm以內(nèi)高度產(chǎn)品
鍍層厚度測試范圍：0.03－35um
可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
測量時間：10－30秒
精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
產(chǎn)品檢測完成可自動生成檢測報告,方便存檔
韓國先鋒X熒光無損電鍍測厚儀:檢測電子電鍍鍍層厚度
XRF-2000鍍層測厚儀,測韓國先鋒X射線熒光鍍層測厚儀量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
智能制造網(wǎng)