標準片校正片X光測厚儀膜厚片

MicropioneerXRF-2000:韓國微先鋒

韓國測厚儀標準片,校準片,校正塊

韓國XRF-2000測厚儀標準片

X光鍍層測厚儀標準片,X-RAY膜厚儀校正片,膜厚儀標準塊

標準片或校正片銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀各種厚度及規(guī)格均可訂制，校準片均附帶證書、適合各種X射線鍍層測厚儀

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。 

X光鍍層測厚儀標準片,X-RAY膜厚儀校正片,膜厚儀標準塊

標準片或校正片銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀各種厚度及規(guī)格均可訂制，校準片均附帶證書

標準片X-RAY膜厚儀校正片

 金鎳銅錫銀標準片如下圖所示

鈀鉑銠標準片如下圖

韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2020測厚儀

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等

合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等

MicropioneerXRF-2020電鍍測厚儀

標準片X-RAY膜厚儀校正片