USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀

從380nm~1050nm的可視光至近紅外實(shí)現(xiàn)大范圍波長(zhǎng)區(qū)域中的分光測(cè)定
奧林巴斯的近紅外顯微分光測(cè)定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的

大范圍波長(zhǎng)的分光測(cè)定。由于其可以很容易地測(cè)定通常的分光光度計(jì)所不能測(cè)定的細(xì)微區(qū)域、曲面的

反射率，因此適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

測(cè)定反射率
測(cè)定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點(diǎn)的反射率。

反射率測(cè)定光路圖

反射率測(cè)定例：鏡片   反射率測(cè)定例：鏡片周邊部位

測(cè)定膜厚
活用反射率數(shù)據(jù)，測(cè)定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

膜厚測(cè)定的圖例

測(cè)定物體顏色
根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值。

物體色的測(cè)定圖例

USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀 多樣化應(yīng)用
通過(guò)測(cè)定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學(xué)元件的反射率，進(jìn)行涂層評(píng)價(jià)、物體顏色測(cè)定、膜厚測(cè)定。
數(shù)碼相機(jī)鏡片  /投影儀鏡片 / 眼鏡片

適用于LED反射鏡、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測(cè)定、膜厚測(cè)定。
LED包裝    /半導(dǎo)體基板

適用于平面光學(xué)元件、彩色濾鏡、光學(xué)薄膜等的反射率測(cè)定、膜厚測(cè)定、透過(guò)率測(cè)定。
液晶彩色濾鏡       /光學(xué)薄膜

適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測(cè)定。
棱鏡    /反射鏡