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      近紅外顯微分光測(cè)定儀 USPM-RU-W

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱南京諾旭微光電有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地南京市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2023/2/24 14:21:07
      • 訪問次數(shù)506
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      南京諾旭微光電有限公司自2009 年6 月成立以來(lái),10多年來(lái)專注于中光學(xué)儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、 服務(wù)。公司有多年的光學(xué)市場(chǎng)銷售經(jīng)驗(yàn)和專業(yè)的服務(wù)團(tuán)隊(duì)。特別是在FPD平板顯示及半導(dǎo)體行業(yè)有著非常成 熟的配套解決方案,能為客戶提供合理、適用的顯微光學(xué)檢測(cè)方案。我公司同時(shí)擁有專業(yè)的光學(xué)設(shè)計(jì)師和經(jīng)驗(yàn)豐富的維修工程師,有著完善的售后服務(wù)體系、能為客戶提供更多快捷、方便、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。 公司主要產(chǎn)品有: 各種光學(xué)顯微鏡(測(cè)量顯微鏡、 金相顯微鏡、視頻顯微鏡、體視顯微鏡),數(shù)碼顯微鏡,2D影像測(cè)量?jī)x,一鍵測(cè)量?jī)x,三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),3D共聚焦顯微鏡,掃描電鏡,高速相 機(jī),內(nèi)窺鏡,接觸角測(cè)量?jī)x,等離子清洗設(shè)備,特殊顯微鏡改造,顯微鏡配件,視覺 CCD 鏡頭及LED 光源等相關(guān)儀器。主要服務(wù)于半導(dǎo)體、液晶面板、探針臺(tái)、MEMS、精密刀具、精密加工、金屬材料、 光纖通訊、生命科學(xué)、高校、研究所等行業(yè)所涉及的顯微檢查、測(cè)量、分析。 經(jīng)營(yíng)理念:品質(zhì)、服務(wù)、價(jià)值、共贏
      高速相機(jī)
      USPM-RU-W鏡片反射率測(cè)定儀USPM-RU-W近紅外顯微分光測(cè)定儀從380nm~1050nm的可視光至近紅外實(shí)現(xiàn)大范圍波長(zhǎng)區(qū)域中的分光測(cè)定奧林巴斯的近紅外顯微分光測(cè)定儀USPM-RU-W可以高速高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長(zhǎng)的分光測(cè)定
      近紅外顯微分光測(cè)定儀 USPM-RU-W 產(chǎn)品信息

       

           

      USPM-RU-W 鏡片反射率測(cè)定儀
      USPM-RU-W 近紅外顯微分光測(cè)定儀

      從380nm~1050nm的可視光至近紅外實(shí)現(xiàn)大范圍波長(zhǎng)區(qū)域中的分光測(cè)定

      奧林巴斯的近紅外顯微分光測(cè)定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長(zhǎng)的分光測(cè)定。由于其可以很容易地測(cè)定通常的分光光度計(jì)所不能測(cè)定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率,因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

      實(shí)的測(cè)定功能

      使用一臺(tái)即可進(jìn)行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測(cè)定。

      測(cè)定反射率

      測(cè)定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點(diǎn)的反射率。

       

      反射率測(cè)定光路圖

       

      反射率測(cè)定例:鏡片

      反射率測(cè)定例:鏡片周邊部位

       

       

      測(cè)定膜厚

      活用反射率數(shù)據(jù),測(cè)定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

      膜厚測(cè)定的圖例

       

      測(cè)定物體顏色

      根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值。

      物體色的測(cè)定圖例

       

       

       

      測(cè)定透過率 (選配)

      從受臺(tái)下部透過?2mm的平行光,測(cè)定平面樣品的透過率。

       

      透過率測(cè)定光路圖

       

       

       

      測(cè)定入射角為45度的反射率(選配)

      從側(cè)面向45度面反射?2mm的平行光,測(cè)定其反射率。

       

      45度反射率測(cè)定光路圖

       

       

       

      域的高精度&高速測(cè)定

       

      實(shí)現(xiàn)高速測(cè)定

      使用平面光柵及線傳感器進(jìn)行全波長(zhǎng)同時(shí)分光測(cè)定,從而實(shí)現(xiàn)高速測(cè)定。

      光學(xué)系圖

       

       

       

      十分適用于測(cè)定細(xì)小部件、鏡片的反射率

      新設(shè)計(jì)了可以在?17~70μm的測(cè)定區(qū)域中進(jìn)行非接觸測(cè)定的專用物鏡。通常的分光光度計(jì)不能進(jìn)行測(cè)定的細(xì)小電子部件或鏡片等的曲面,也可以實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測(cè)定。

      反射率測(cè)定圖例

       

      測(cè)定反射率時(shí),不需要背面防反射處理

      將專用物鏡與環(huán)形照明組合,不需要進(jìn)行被檢測(cè)物背面的防反射處理,就可測(cè)定0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時(shí),在本公司的測(cè)定條件下進(jìn)行測(cè)定。

      消除背面反射光的原理

       

       

       

      可選擇的膜厚測(cè)定方法

      根據(jù)測(cè)定的分光反射率數(shù)據(jù)進(jìn)行單層膜或多層膜的膜厚解析??梢愿鶕?jù)用途選擇的測(cè)定方法。

       

      峰谷法

      這是一種根據(jù)測(cè)定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計(jì)算出膜厚的方法,對(duì)于測(cè)定單層膜是有效的。不需要復(fù)雜的設(shè)置,可以簡(jiǎn)單地求出。

      峰谷法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

       

       

       

      曲線調(diào)整法

      這是一種通過推算測(cè)定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構(gòu)造計(jì)算的反射率的差達(dá)到最小的構(gòu)造計(jì)算出膜厚的方法,對(duì)于單層膜及多層膜的測(cè)定有效。還可以進(jìn)行不會(huì)出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。

      曲線調(diào)整法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

       

      多樣化應(yīng)用

       

      高速、高精度地應(yīng)對(duì)多樣化測(cè)定需求。

       

      通過測(cè)定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學(xué)元件的反射率,進(jìn)行涂層評(píng)價(jià)、物體顏色測(cè)定、膜厚測(cè)定。

      數(shù)碼相機(jī)鏡片
      投影儀鏡片
      光讀取頭鏡片
      眼鏡片

      適用于LED反射鏡、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測(cè)定、膜厚測(cè)定。

      LED包裝
      半導(dǎo)體基板

      適用于平面光學(xué)元件、彩色濾鏡、光學(xué)薄膜等的反射率測(cè)定、膜厚測(cè)定、透過率測(cè)定。

      液晶彩色濾鏡
      光學(xué)薄膜

      適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測(cè)定。

      棱鏡
      反射鏡

       

       

      近紅外顯微分光測(cè)定儀 USPM-RU-W:

                                         

      反射率測(cè)定

      透過率測(cè)定*1

      45度反射測(cè)定*1

      名稱

      近紅外顯微分光測(cè)定儀

      近紅外顯微分光測(cè)定儀用 
      透過測(cè)定選配件

      近紅外顯微分光測(cè)定儀用 
      45度反射測(cè)定選配件

      型號(hào)

      USPM-RU-W

      測(cè)定波長(zhǎng)

      380~1050nm

      測(cè)定方法

      對(duì)參照樣品的比較測(cè)定

      對(duì)99%基準(zhǔn)的透過率測(cè)定

      對(duì)參照樣品的比較測(cè)定

      測(cè)定范圍

      參照下列對(duì)物鏡的規(guī)格

      約ø2.0mm

      測(cè)定 
      再現(xiàn)性(3σ)*2

      反射率測(cè)定

      使用10×、20×物鏡時(shí)

      ±0.02[%]以下(430-1010nm)、 
      ±0.2[%]以下(上述以外)

      ±1.25[%]以下(430-1010nm)、 
      ±5.0[%]以下(左側(cè)記載除外)

      使用40×物鏡時(shí)

      ±0.05[%]以下(430-950nm)、 
      ±0.5[%]以下(上述以外)

      厚膜測(cè)定

      ±1% 

      -

      波長(zhǎng)顯示分解能

      1nm

      照明附件

      專用鹵素?zé)艄庠础? JC12V 55W(平均壽命700h)

      位移受臺(tái)

      承載面尺寸:200(W)×200(D)mm   
      承重:3 kg 
      工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm

      傾斜受臺(tái)

      承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm 
      承重: 1 kg 
      工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1°

      裝置質(zhì)量

      主體:約26 kg(PC除外)

      主體:約31 kg(PC除外)*3

      控制電源箱:約6.7kg

      裝置尺寸

      主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm

      主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm

      控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm

      電源規(guī)格

      輸入規(guī)格:100-240V (110VA) 50/60Hz

      使用環(huán)境

      水平無(wú)振動(dòng)的場(chǎng)所 
      溫度:15~30℃ 
      濕度:15~60%RH(無(wú)結(jié)露)

      *1 選件組件  *2 本社測(cè)定條件下的測(cè)定  *3 裝配透過率測(cè)定套件與45度反射測(cè)定套件的總重量為33kg。


      對(duì)物鏡

      型號(hào)

      USPM-OBL10X

      USPM-OBL20X

      USPM-OBL40X

      倍率

      10x

      20x

      40x

      NA

      0.12

      0.24

      0.24

      測(cè)定范圍*4

      70μm

      34μm

      17μm

      工作距離

      14.3mm

      4.2mm

      2.2mm

      樣品的曲率半徑

      ±5mm~

      ±1mm~

      ±1mm~

      *4 點(diǎn)徑

       

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