USPM-RU III鏡片反射率測定儀
適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統(tǒng)
USPM-RU III鏡片反射率測定儀
可**測量當前分光儀無法測量的微小、薄樣本的光譜反射率,不會與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉。
USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點:
◆消除背面反射光
采用特殊光學系,消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。
◆可測定微小領域的反射率
用對物鏡對焦于小區(qū)域(φ60μm),可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點。
◆測定時間短
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定,可迅速實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。
◆XY色度圖、L*a*b測定可能
以分光測定法為基準,從分光反射率情況可測定物體顏色。
◆可測定的Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚
用于涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。
USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途:
1、各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取透鏡等)
2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)
鏡片反射率測定儀 USPM-RU III:規(guī)格
測定波長 | 380 nm~780 nm |
測定方法 | 與參照樣本的比較測定 |
被檢物N.A. | 0.12(使用10×物鏡時) |
被檢物W.D. | 10.1 mm(使用10×物鏡時) |
被檢物的曲率半徑 | -1R ~-∞、+1R~∞ |
被檢物的測定范圍 | 約ø60 μm(使用10×物鏡時) |
測定再現(xiàn)性(2σ) | ±0.1%(380 nm~410 nm測定時) |
顯示分辨率 | 1 nm |
測定時間 | 數(shù)秒~十幾秒(因取樣時間而異) |
光源規(guī)格 | 鹵素燈 12 V 100 W |
載物臺Z方向驅(qū)動范圍 | 85mm |
PC接口 | USB方式 |
裝置重量 | 機身:約20 kg(PC、打印機除外) |
裝置尺寸 | 機身: |
電源規(guī)格 | 光源用電源: |
使用環(huán)境 | 水平且無振動的地方 |
* 本裝置不保證溯源體系中的精度。
* 可以特別訂做測定波長440 nm~840 nm規(guī)格。