主要應(yīng)用

    ●  被測(cè)材料種類(lèi)：主要為非晶 / 納米晶合金薄片、也可適用于測(cè)量其他軟磁材料。

    ●  主要測(cè)量方法：?jiǎn)纹瑯哟艌?chǎng)測(cè)量兼容主流的方法：M.C 法和 H-Coil 法。

    ●  被測(cè)樣品尺寸：W ( 10 ～215 ) mm × L ( 280 ～320 ) mm，T：10 μm ～500 μm。

    ●  測(cè)量電學(xué)參量：電壓、電流、功率、頻率、相位、功率因數(shù)、諧波等。

    ●  測(cè)量磁性參量：磁通密度 B、磁場(chǎng)強(qiáng)度 H、磁極化強(qiáng)度 J、比總損耗 Ps、比視在功率 Ss

                                  飽和磁通密度 Bs、矯頑力 Hc、磁導(dǎo)率、波形因數(shù)等。

    ●  繪制磁性曲線：磁化曲線、磁滯回線等；可切換多種磁測(cè)量單位。

功能特點(diǎn)

    ●  可選配的校準(zhǔn)模塊和校準(zhǔn)轉(zhuǎn)接頭，通過(guò)高等級(jí)的電壓表、電流表、功率表對(duì)裝置進(jìn)行校準(zhǔn)。

    ●  樣品的磁特性參數(shù)可溯源至電磁學(xué)基本量以保證測(cè)量數(shù)據(jù)的重復(fù)性、*性、可比性和準(zhǔn)確度。

    ●  標(biāo)準(zhǔn)樣品僅用于測(cè)量數(shù)據(jù)比對(duì)，不得用于對(duì)本裝置進(jìn)行校準(zhǔn)。

    ●  單片磁導(dǎo)計(jì)采用雙磁軛結(jié)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)磁軛退磁和樣品退磁。

    ●  配備專業(yè)軟件，除放置樣品和設(shè)置參數(shù)外，整個(gè)測(cè)試過(guò)程可全自動(dòng)完成。

    ●  軟件操作簡(jiǎn)便，且具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能，方便查看歷史數(shù)據(jù)和報(bào)告導(dǎo)出。

    ●  勵(lì)磁源與測(cè)量裝置采用模塊化設(shè)計(jì)，方便升級(jí)和維修。

系統(tǒng)應(yīng)用結(jié)構(gòu)圖

磁參量測(cè)量范圍

測(cè)量條件：

    ●  T：（23 ± 5）℃；試驗(yàn)開(kāi)始之前，本裝置應(yīng)進(jìn)行30分鐘以上的預(yù)熱。

    ●  試樣放置于測(cè)定框內(nèi)，在多次測(cè)量過(guò)程中，樣品應(yīng)不再被移動(dòng)； 測(cè)量次數(shù)：3 ～10 次。

    ●  重復(fù)性 ={[(大值 - 小值)÷ 2 ] ÷ 平均值 } × *。

    ●  準(zhǔn)確度一般指一年內(nèi)系統(tǒng)的測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)值的大允許誤差。

6. 單片磁導(dǎo)計(jì)

全自動(dòng)測(cè)量軟件

非晶測(cè)量特性簡(jiǎn)介

非晶帶材，與取向硅鋼帶材相比，有以下特點(diǎn)：

    ●  非晶帶材的厚度很薄，一般為 0.025 mm，只有取向硅鋼帶材的 1/10 左右。

    ●  比總損耗很低，P1.5 / 50 的典型值約為 0.2 W/kg，該值是取向硅鋼 P1.7 / 50  典型值的 1/5 左右。

    ●  具有高磁致伸縮和低的磁各向異性，且易產(chǎn)生應(yīng)力而使其磁性能惡化。

    ●  還具有低矯頑力、高磁導(dǎo)率、低飽和磁感、高電阻率等特點(diǎn)。

    ●  由上可見(jiàn)，在工頻下測(cè)量非晶磁性能，宜采用單片磁導(dǎo)計(jì)進(jìn)行測(cè)量 ( 單片法 )。

測(cè)量方法

    ●  單片法是主流的非晶測(cè)量方法之一，如美標(biāo) A932 和日標(biāo) H7152 均早已提出了該方法；

        2014 年 IEC 起草的標(biāo)準(zhǔn)，和我國(guó) 2015 年修訂的 GB/T 19345.1 均提出了單片法測(cè)量非晶磁性能。

    ●  單片法與環(huán)樣法相比，其測(cè)量數(shù)據(jù)更能反映材料本身的磁特性，且省去了制樣與繞線等復(fù)雜過(guò)程。

    ●  由于鐵基非晶帶材的上述特點(diǎn)可見(jiàn)，單片法的技術(shù)要求和實(shí)現(xiàn)難度均很高；

        與普通取向硅鋼帶材相比，對(duì)磁測(cè)設(shè)備的靈敏度要求高近 100 倍；

        考慮到非晶帶材試樣很小，其磁性能檢測(cè)設(shè)備的靈敏度要求更高。

    ●  單片樣磁場(chǎng)測(cè)量目前有兩種方法：電流法 ( M.C ) ；磁場(chǎng)線圈法 ( H-Coil )。

    ●  M.C 法是電工鋼單片檢測(cè) IEC 標(biāo)準(zhǔn)使用的唯方法；

        H-coil 法是美日電工鋼單片檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)使用的方法之一，該方法對(duì)磁場(chǎng)測(cè)量的準(zhǔn)確度更高；

        但在磁導(dǎo)計(jì)的制作、微弱信號(hào)處理及干擾抑制、量值溯源等方面也有很高的要求。

    ●  TD8160 采用的單片磁導(dǎo)計(jì)為雙磁軛結(jié)構(gòu)，磁場(chǎng)測(cè)量兼容 M.C 法和 H-coil 法。

參與非晶比對(duì)

    ●  2014.4 ～2015.8 寶鋼代表中國(guó)參加由 IEC/TC68 發(fā)起的鐵基非晶帶材單片磁性能測(cè)量的比對(duì)。

    ●  使用的測(cè)試儀器即天恒研制的 TD8160，在二輪的比對(duì)中，均取得了較好的測(cè)試結(jié)果。