3D激光模態(tài)測試系統(tǒng) SNT-4040
產(chǎn)品特征與產(chǎn)品優(yōu)勢:
- 平均散斑模式
- 對于脫粘、分層、擠壓損傷、裂紋以及結(jié)構(gòu)中的其他雜質(zhì)具有高的分辨率
- 具備空間立體高分辨率與對比性
- 直觀簡易的結(jié)果判定
- 適用于中小類型結(jié)構(gòu)
3D激光模態(tài)測試系統(tǒng) SNT-4040應(yīng)用領(lǐng)域:
- 航空領(lǐng)域 - 汽車工業(yè) - 電子工業(yè)
Note備注:
利用全息攝影技術(shù)的儀器VibroMap 1000在NDT領(lǐng)域應(yīng)用的介紹,它采用的硬件與軟件都與SNT4040類似。Optonor公司,也可提供另一利用激光電子剪切散斑干涉技術(shù)的測量的儀器—SNT 4045,與此更詳細的信息請參閱SNT 4045的產(chǎn)品說明書。
個性化的處理系統(tǒng):
SNT-4040在高分子聚合物、金屬化合物方面有*的檢測優(yōu)勢。對于復(fù)雜的材料和不同材料類型、材料組合、結(jié)合原則、尺寸等的結(jié)構(gòu),在檢測前進行相關(guān)的調(diào)查準備工作,之后選擇的加載方式和記錄方法。OPTONOR公司將為顧客提供此類服務(wù),SNT-4040將結(jié)合合適的加載方式,zui終為顧客提供*的選擇。
SNT-4040應(yīng)用的軟件,有多種不同的缺陷顯示類型供客戶選擇,這些都可以很清晰地觀察到缺陷的具體位置和缺陷邊緣。
3D激光模態(tài)測試系統(tǒng) SNT-4040工作原理:
待檢測物體表面被一或多個寬激光束照射,而后物體表面的反射光通過標準透鏡反射到CCD(電荷耦合裝置)圖像傳感器的陣列中。接下來,SNT-4040將測量表面偏差的空間導(dǎo)數(shù),這包括表面所有的點以及點的附近的偏差。設(shè)定的剪切等級確定了臨近點之間的距離,剪切等級與方向可以通過光學(xué)鏡頭上的旋轉(zhuǎn)按鈕來調(diào)整。光學(xué)鏡頭與待測物體表面之間的距離zui大可到1米甚至更長。
SNT-4040可以根據(jù)客戶的需要,定制一套完整的自動控制系統(tǒng),這樣可通過計算機來操控檢測的全過程,包括記錄、加載和結(jié)果分析。
SNT-4040規(guī)格書:
工件單次檢測的zui大尺寸 1*1米
工件單次檢測的zui小尺寸 5*5厘米
幅值分辨率 1-50納米
缺陷分辨率 約為顯示區(qū)域的1/10000
數(shù)字測量的zui大頻率 至少5 KHz
數(shù)字測量的zui小頻率 30 Hz
激光類別 根據(jù)鏡頭選擇
激光 YAG激光(功率25mW以上);二極管激光
數(shù)據(jù)輸出格式 標準數(shù)據(jù)輸出格式(振幅形式與相位形式)
圖片顯示質(zhì)量 可達到2維或3維的振動顯示
圖形顯示 3維顯示、2維線圖、輪廓顯示、圖片顯示
散斑平均技術(shù)模塊 包括在光學(xué)鏡頭內(nèi)
相位移 包括在光學(xué)鏡頭內(nèi)
Optonor公司產(chǎn)品總匯:
產(chǎn)品 | 應(yīng)用 | 備注 |
VibroMap 1000 (電視全息) | * 產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)中振動分析 * 聲學(xué)測試 * 準靜態(tài)反射和非破壞性試驗 | 標準系統(tǒng)(或定制) |
MicroMap 5000 (顯微電視全息) | * 振動測試 (MHz) * 準靜態(tài)反射測試 * 微機電結(jié)構(gòu)的輪廓和振動測試 | 標準系統(tǒng)(或定制) |
邊緣投影系統(tǒng) (FPS) | * 表面形態(tài)測試 * 振動測試 * 準靜態(tài)反射測試 | 標準系統(tǒng)(或定制) |
SNT 4040 (電子剪切應(yīng)變圖形儀) | * 非破壞性試驗 | 標準系統(tǒng)(或定制) |
平面內(nèi)(應(yīng)變)測試系統(tǒng) | * 各場合的應(yīng)力應(yīng)變測試 | 定制 |
光學(xué)應(yīng)變片 | * 應(yīng)力應(yīng)變點測試 | 定制 |
主要應(yīng)用
• 研究和開發(fā) • 產(chǎn)品測試• 汽車工業(yè)• 傳感器工業(yè)• 醫(yī)療• 航空航天工業(yè)
• 電子工業(yè)• MEMS和MOEMS工業(yè)• 微機械結(jié)構(gòu)• 壓力傳感器• 加速度傳感器
• 陀螺儀• 碰撞傳感器• 自動共振頻率探測的FFT頻譜分析• 振動模態(tài)測量和分析• 熱探測測量• 老化效應(yīng)分析•高溫測量• 真空箱測量