面輪廓度測量公差定義及誤差的測量方法

 面輪廓公差

  面輪廓度測量公差是指被測實際表面形狀對圖樣給定的理想表面形狀的允許變動量。

   面輪廓度的公差帶是包絡一系列直徑為公差值的球的兩包絡面之間的區(qū)域，這些球的球心位于具有理論正確幾何形狀的曲面上。

   1.2面輪廓度誤差的測量方法

面輪廓度測量誤差的測量方法包括仿形裝置測量、截面輪廓樣板測量、光學跟蹤輪廓測量儀測量以及三坐標測量裝置測量等。前3種測量方法要求做出理論輪廓樣板后才能測量。由于理論輪廓樣板制作非常困難，因此該測量方法適合于一種零件大批量生產過程中的檢驗。而采用三坐標測量裝置進行測量時無需輪廓樣板，只需要零件的CAD數(shù)學模型（零件的三維設計圖形），因此該測量方法可應用于任何場合且測量數(shù)據(jù)可靠。

   目前，用來采集物體表面三維坐標的測量設備和方法多種多樣，其原理也各不相同。根據(jù)測量測頭是否和零件表面接觸可分為接觸式與非接觸式兩類。

   接觸測量法以三坐標測量機測量為典型代表。三坐標測量機的測量精度高，對環(huán)境（如：溫度、濕度、防振等）要求也高。由于測量時測頭在工件上要逐點測量，所以測量速度較慢。另外還要求被測零件的材質不能太軟、尺寸不宜過大且不易變形。

   非接觸測量法以結構光法為典型代表。該測量方法一次獲取物體表面的數(shù)據(jù)（點坐標）多，測量范圍大，對被測量物體的材質沒有要求，特別適合于面積大且易變形的覆蓋件類零件的測量。又由于結構光三維視覺對景物或物體三維信息提取方便、快捷，且大量的點云數(shù)據(jù)在計算機中處理快捷、準確，因此在測量中占有重要地位。ATOS測量系統(tǒng)是這種方法的典型代表。

主要技術參數(shù)

zui高分辨率：0.05um

測量距離：10-125mm

探頭線性度（3σ）：zui高0.5um

主要特點

量身定制輪廓掃描方案，zui高精度0.5um；

高響應頻率，9400Hz，幾乎滿足所有工業(yè)輪廓掃描；

連接生產系統(tǒng)，及時反映生產狀況；

與生產設備聯(lián)動，精確定位需要掃描的位置；

綜合掃描，可以控制多個掃描點同時掃描，綜合處理數(shù)據(jù)，zui多連接127個掃描點；

掃描數(shù)據(jù)可聯(lián)入企業(yè)內部管理網(wǎng)絡，如ERP；

優(yōu)質激光探頭ZLDS100，使用各種材質表面；

可根據(jù)特殊要求實現(xiàn)偏差報警；

系統(tǒng)成熟穩(wěn)定，軟件算法具有較高可靠性和可用性；

機械定位牢固準確，無損傷非接觸測量；

高效率，解決人工無法實現(xiàn)的測量方式，提高生產品質。

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